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- [发明专利]半导体封装元件测试装置-CN02103593.8无效
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廖沐盛;谢宜璋;周秀竹
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矽统科技股份有限公司
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2002-02-07
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2003-08-20
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H01L21/66
- 一种半导体封装元件测试装置，用以测试一半导体封装元件，包括一导电元件、一第一本体、一第二本体及一压合构件。导电元件具有用以电性连接半导体封装元件接脚的多个导电点并设置于第一本体一侧，第一本体的另一侧设置第二本体，第一本体具有一第一通口，其形成一能够容置半导体封装元件的空间，并由压合构件将半导体封装元件定位于第一通口中，压合构件经由第二本体的第二通口与第二本体连设。本发明利用第一与第二本体定设半导体封装元件，不需使用自动测试分类机，所以能方便半导体封装元件的手动测试。且其是利用导电元件电连接元件的接脚与测试板，所以能避免测试时接触不良的情形。并能利用不同尺寸的内框，测试不同尺寸的半导体封装元件。
- 半导体封装元件测试装置
- [实用新型]预防静电破坏的装置-CN01200866.4无效
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谢来福;谢宜璋;黄清荣;廖沐盛
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矽统科技股份有限公司
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2001-02-15
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2002-05-01
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H01L23/60
- 本实用新型公开一种预防静电破坏的装置,其在集成电路的封装测试过程中宣接将静电防止剂涂布于该集成电路的表面,并通过静电防止剂而阻绝因动态的接触摩擦而造成的静电累积。本实用新型装置包含一皮带、至少一个滚动马达、至少一个喷嘴、至少一个定量吐出器及至少一个光电开关。该皮带的上方用于放置该多个集成电路。该滚动马达用于卷动该皮带,并因此而使该多个集成电路不断前进。该喷嘴用于涂布该静电防止剂于该多个集成电路的表面。该定量吐出器用于控制该喷嘴输出该静电防止剂的喷出量。该光电开关连接至该喷嘴和该定量吐出器,用于感应该多个集成电路是否即将经过该喷嘴的下方。
- 预防静电破坏装置
- [实用新型]集成电路测试分类机的测试头-CN01218618.X无效
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谢来福;谢宜璋;黄清荣;廖沐盛
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矽统科技股份有限公司
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2001-04-09
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2002-03-13
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G01R31/28
- 一种集成电路测试分类机的测试头,包括一定位组件与一气管,其中该定位组件是可组装于一集成电路测试分类机中且具有一贯穿的容放空间,该气管置于容放空间中,该气管的一端可连接一真空气泵而另一端接近一待测的集成电路,由此,当该真空气泵动作时,该气管吸取该集成电路以直接与该气管的管壁接触,而当该真空气泵不动作时,该气管释放该集成电路,进而达到有效避免因吸放动作而产生的静电效应与防止真空漏气的功效。
- 集成电路测试分类机
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