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[发明专利]表面分析装置-CN201910984278.X有效
发明人： 小林宽治;平出雅人 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-10-16 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：提供一种表面分析装置。表面分析装置具备：载置试样的试样台；以及以与试样台相向的方式配置的悬臂及驱动悬臂的悬臂驱动部。驱动机构构成为：在取出试样台时，以使测定部与试样台在悬臂与试样台相向的第一方向上分离的方式使试样台相对于测定部相对地进行位移，之后使试样台在与第一方向交叉的方向上滑动。
表面分析装置

[发明专利]X射线分析装置-CN202080102470.2在审
发明人：森久祐司;克里恩卡莫尔·坦特拉卡恩;小林宽治;铃木桂次郎 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2020-07-01 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：一种X射线分析装置，其具备：试样容器(10)，其收纳试样(S)；载置部(24)，其能够载置试样容器(10)；X射线照射源，其从载置部(24)的下方对试样(S)照射X射线；检测器，其在载置部的下方检测从试样(S)产生的荧光X射线；以及支架(50)，其载置于载置部(24)，收纳试样容器(10)，在载置部(24)设有开口部(24h)，试样容器(10)具有：容器主体(12)，其包围试样(S)并且具有在下方开口的形状；以及容器膜(14)，其封闭容器主体(12)的开口并且支承试样(S)，支架(50)具有：包围筒(52)，其具有比开口部(24h)大的外形且包围试样容器(10)，并且具有在下方开口的形状；以及支架膜(54)，其封闭包围筒(52)的开口。
射线分析装置

[发明专利]光控膜和包括光控膜的车体面板-CN201911049441.X在审
发明人：杁江正博;小林宽治;冈本贤治;鹫尾望;三岛康児;原田祥平;山田一志 -专利权人：丰田纺织株式会社;理研科技株式会社;TDK株式会社
申请日： 2019-10-31 - 公布日： 2020-05-12 - 主分类号： G02F1/1333 文献下载
摘要：一种光控膜，其结合到用于车辆的面板构件，该光控膜包括：膜基底、导电层和液晶层。导电层分别在膜基底的彼此相对的表面上。液晶层夹在导电层之间。光控膜能够在具有第一雾度百分比的第一状态和具有低于第一雾度百分比的第二雾度百分比的第二状态之间切换。各膜基底均至少包括由丙烯酰亚胺制成的丙烯酰亚胺层。各导电层均包括银薄膜或铜丝网。
光控包括车体面板

[发明专利]扫描型探针显微镜-CN201710976079.5在审
发明人： 小林宽治;平出雅人 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2017-10-19 - 公布日： 2018-04-27 - 主分类号： G01Q30/00 文献下载
摘要：本发明提供一种扫描型探针显微镜，即使是分束器能够移动的结构也能够高精度地进行观察。在确认扫描型探针显微镜(1)中的试样(S)和悬臂(4)的位置的情况下，用户使光学显微镜(10)与壳体(2)的上表面(21)的第一开口部(21a)相向配置，通过把持并旋转设置于壳体(2)的侧面(22)的操作部，来使被保持部保持的分束器(6)在壳体(2)内旋转移动，从光学显微镜(10)的视场内退出。因此，能够始终将分束器(6)配置在壳体(2)内，从而能够防止用户触碰到分束器(6)。其结果，能够防止分束器(6)损坏、污垢附着于分束器(6)。另外，能够缩短分束器(6)的移动距离。因此，能够抑制分束器(6)的位置产生偏移。
扫描探针显微镜

[发明专利]车门装饰件和车门-CN201610474019.9在审
发明人： 小林宽治;多和田和广;冈本贤治;泉公洋 -专利权人：丰田纺织株式会社
申请日： 2016-06-24 - 公布日： 2017-03-29 - 主分类号： B60J5/04 文献下载
摘要：车门装饰件和车门。车门装饰件(20)包括第一板构件(30)，其具有板形状和贯穿第一板构件(30)的孔(31)；以及第二板构件(40)，其具有与第一板构件(30)重叠的板形状并且包括与第二板构件(40)形成为一体的功能部件(41)，第二板构件(40)以功能部件(41)位于孔(31)中并且不被覆盖的方式与第一板构件(30)重叠。
车门装饰

[发明专利]荧光X射线分析装置-CN201380076910.1在审
发明人：古川博朗;小林宽治 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2013-09-20 - 公布日： 2016-01-13 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明以提供一种能够抑制原子序数不足23的轻元素的分析精度的下降，并谋求分析腔室内的氦气置换作业的效率化的荧光X射线分析装置为课题。本发明的荧光X射线分析装置包括：X射线球管(12)，其用于对具有X射线通过口(141)的试样台(14)上的试样S照射一次X射线；检测器(13)，其用于对从试样S发出的荧光X射线进行检测；分析腔室(16)，其具有来自X射线球管(12)的一次X射线的导入口(17)及检测器(13)的检测口(181)，并在内部具有从导入口(17)朝向X射线通过口(141)的一次X射线的光路及从X射线通过口(141)朝向检测口(181)的荧光X射线的光路；第一及第二导入管(201)及(202)，其用于将从氦气瓶(22)供给的氦气通过导入口(17)及检测口(181)导入到分析腔室(16)内；流量控制阀(24)，其对在第一及第二导入管(201)、(202)中流动的氦气的流量进行控制。
荧光射线分析装置