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[发明专利]线圈的可靠性试验装置-CN201910972422.8在审
发明人：棚桥保德;小林宏嘉 -专利权人：太阳诱电株式会社
申请日： 2019-10-14 - 公布日： 2020-04-28 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及线圈的可靠性试验装置。本发明一实施方式的试验装置包括：第一测量端子，其与作为试验评价对象的第一线圈的一端连接；第二测量端子，其与所述第一线圈的另一端连接；直流电源，其与所述第一测量端子连接；第一半导体开关，其连接在所述第二测量端子与地之间；和驱动部，其使所述第一半导体开关导通、截止。本发明能够诊断线圈的寿命故障模式中的异常。
线圈可靠性试验装置

[发明专利]半导体装置和电子设备-CN201510293629.4在审
发明人：秋山悟;小林宏嘉;猪股久雄;齐藤正 -专利权人：瑞萨电子株式会社
申请日： 2015-06-01 - 公布日： 2016-01-27 - 主分类号： H01L25/07 文献下载
摘要：本发明涉及一种半导体装置和电子设备，其改进了半导体装置的制造成品率。提供了一种共射共基耦合系统的半导体装置，其具有使用带隙大于硅的物质作为材料的多个常通的结FET，以及使用硅作为材料的常断的MOSFET。此时，半导体芯片具有由结FET以分开方式形成的多个结FET半导体芯片(半导体芯片CHP0和半导体芯片CHP9)，以及由MOSFET形成的MOSFET半导体芯片(半导体芯片CHP2)。
半导体装置电子设备