专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学信息检测方法、光学头以及光盘装置-CN200710154218.2有效
  • 宮本治一;三上秀治;岛野健 - 株式会社日立制作所
  • 2007-09-11 - 2008-03-19 - G11B7/13
  • 本发明提供一种光学信息检测方法、光学头以及光盘装置。在多层光盘·高速光盘中,因为有效的介质反射率低、读出时间短,所以每单位时间的再生光量显著下降,再生信号品质(S/N)大幅度降低。为了解决上述问题,使从光盘反射的反射信号光和从同一光源分支且未照射在光盘上而导入到检测器的参照光在检测器上进行干涉。此时,通过同时得到参照光和信号光的相位关系各相差90度的4种干涉状态的检测器输出并进行运算,即使有因盘抖动引起的光路长变动,也能够得到始终稳定且经过高品质放大的再生信号。
  • 光学信息检测方法以及光盘装置
  • [发明专利]光盘装置-CN200710085076.9有效
  • 岛野健;宮本治一 - 株式会社日立制作所
  • 2007-02-28 - 2007-11-28 - G11B7/125
  • 本发明提供一种具有两个光的光路差容易调整、信号放大效果高、并适合于小型化的干涉型的光盘信号检测系统的光盘装置。把干涉型的光学系统形成为一体型,在获得信号光和参照光的光路差的稳定化的同时,在参照镜114上附加参照光的光路长度的调整部件113并进行控制,以使信号振幅与光盘102的覆盖层的变动和温度等引起的光路长度的时间经过变化对应地总是最大。此外,使用特外曼-格林的干涉光学系统,实现光学系统的小型化。
  • 光盘装置
  • [发明专利]记录和再现信息的系统和方法-CN03136817.4无效
  • 神藤英彦;宮本治一 - 株式会社日立制作所
  • 2003-05-15 - 2004-02-11 - G11B7/00
  • 一种通过将光照射到介质以形成记录区来记录信息的方法和装置,以及用于再现记录信息的方法和装置被提供。在该方法的一个示例中,多个光点被同步地调制并被照射到记录介质使得多个光点在记录介质上具有一个重叠区。当多个光点的强度被同步地调制时,由于多个光点的总能量的分布不同,因而可以将总能量变得最大的位置移动到光记录介质上的任何位置。因此,通过沿轨道相交方向移动光点的总能量的最大点,可以以摆动的方式记录信息。
  • 记录再现信息系统方法

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