专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种相对坐标测量方法-CN201410122828.4无效
  • 姚念斌;姚源颂 - 姚念斌
  • 2014-03-28 - 2014-06-04 - G01B21/00
  • 本发明涉及一种测量方法,特别公开了一种相对坐标测量方法。它包括以下步骤:1)建立测站;2)记录测站点大地坐标,改写测站点大地坐标为相对坐标;3)测量并记录各测点的相对坐标;4)利用5800计算器程序把相对坐标变换成测量坐标。本发明测量方法简单、实用,不论什么线型都可以用较少位数的相对坐标数据来记录和输入坐标数据,且不容易出错。
  • 一种相对坐标测量方法
  • [发明专利]平面控制测量不降等级的测算方法-CN201110023698.5无效
  • 姚念斌;姚源颂;李忠才;姚颖颖;张风娥 - 姚念斌
  • 2011-01-20 - 2011-08-31 - G01C3/26
  • 本发明的平面控制测量不降等级的测算方法,由以下步骤组成:(1)布点:有已知G(A,B)和S(X,Y)两个点,从已知两点向欲测方向布点1和点2,这四点形成一组测量计算“环”,这四点彼此都要通视,且G1、12、2S、SG、G2、S1中最小长度不小于200米;(2)测量:测站点至目标点平距法:分别用正镜和倒镜测出S2、S1、SG的平距,G1、G2、GS的平距,12、1G的平距,算出正倒镜的平均值;(3)计算、校核:采用卡西欧5800可编程计算器计算1点、2点坐标并校核。本发明的优点:测量速度快、精度高,测完一组点利用计算、校核程序现场几分钟就能计算出控制点坐标。不需往返测量,无附合点同样可以测量。几乎没有误差,不降低控制点等级。
  • 平面控制测量不降等级测算方法

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