专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种测量分子层折射率的方法-CN201610755915.2有效
  • 叶坚;林俐;刘中辉;古宏晨 - 上海交通大学
  • 2016-08-29 - 2018-12-25 - G01N21/41
  • 本发明提供了一种测量分子层折射率的方法,所述方法包括如下步骤:1)制备金属纳米核,在所述金属纳米核表面吸附待测分子,形成所述待测分子的分子层,同时测量金属纳米核在吸附待测分子前后的吸收光谱偏移;2)在分子层外表面包覆金属壳层,得到内嵌待测分子的核壳结构金属纳米颗粒;通过透射电子显微镜测量核壳间隙尺寸,得到分子层的厚度;3)根据测得的分子层厚度数据,建立吸收光谱与分子层折射率的关系模型;4)假定多个分子层折射率,通过所述的关系模型计算得到多个模拟光谱偏移量,最终得到待测分子层的有效折射率。本发明提供的方法能有效测定纳米颗粒表面分子层的折射率。
  • 一种测量分子折射率方法

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