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[发明专利]一种多核同步调试工具-CN202310488882.X在审
发明人：王海宁;王大伟;刘建军;易玲;周杨凡;何贤赚;黄苏芳;刘晓露;崔国宇 -专利权人：杭州万高科技股份有限公司;北京智芯半导体科技有限公司;北京智芯微电子科技有限公司
申请日： 2023-04-27 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提出了一种多核同步调试工具，包括：线性稳压电源模块、USB扩展模块、第一微控制器、第二微控制器以及USB转串口模块。使用所述工具调试的方法，包括：步骤1，使用USB数据线将所述工具连接到调试电脑；步骤2，使用数据线连接待调试芯片中的两个微控制器；步骤3，发出命令使两个微控制器进入调试模式并全速运行；步骤4，同步停止两个微控制器；步骤5，调试电脑收集调试信息；步骤6，同步启动两个微控制器；步骤7，重复步骤4‑6，直至调试完成。
一种多核同步调试工具

[发明专利]一种多通道数字信号控制系统-CN202111624299.4在审
发明人：王海宁;周杨凡;何贤赚;黄苏芳 -专利权人：杭州万高科技股份有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G06F11/25 文献下载
摘要：本发明提出了一种多通道数字信号控制系统，包括多通道数字信号控制设备、通信芯片、电源芯片和电脑，所述电脑，通过USB数据线和所述通信芯片连接，所述通信芯片和所述多通道数字信号控制设备连接；电脑通过USB数据线发送控制命令，USB协议的控制命令通过通信芯片转换为串口通信协议；所述多通道数字信号控制设备通过串口接收到控制命令并解析，通过识别不同的控制命令来执行相应的控制逻辑，并将控制逻辑执行结果返回至电脑；所述电脑还通过USB数据线和电源芯片连接，所述电源芯片与所述多通道数字信号控制设备连接，为其提供电源。该系统可以简化测试流程减少测试人员工作量，协助测试人员远程完成大部分数字逻辑测试工作。
一种通道数字信号控制系统

[发明专利]一种ADC数据分析系统-CN202111504720.8在审
发明人： 何贤赚;王海宁;周杨凡;刘玉林;黄苏芳 -专利权人：杭州万高科技股份有限公司
申请日： 2021-12-10 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：ADC在工作的过程中会产生大量的数据，对ADC进行性能优化、参数校正、问题排查往往需要获取大量的数据并进行计算分析。本发明公开了一种ADC数据分析系统。一种ADC数据分析系统，包括：数据采集接口模块、数据格式转换模块、数据缓存模块、信号同步模块、信号发生模块、同步时钟信号发生模块和数据处理模块。对数据和测试信号做时间上的关联，用于分析如信号响应时间、信号采样时延等指标；支持同步时钟输出；可以获取、存储全部数据；可以实时展示ADC的原始数据，方便发现异常；提高了ADC应用电路的优化效率和质量；支持电平转换和多种数据接口类型；原始ADC数据可以存储和加载，方便后期处理和分析。
一种 adc 数据分析系统

[发明专利]一种待测数字滤波器测试方法及系统-CN202110698859.4在审
发明人： 何贤赚;刘晓露;黄苏芳;李婷;周杨凡;朱信伟 -专利权人：杭州万高科技股份有限公司
申请日： 2021-06-23 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：本申请公开了一种待测数字滤波器测试方法及系统，该方法包括：利用预设软件生成码流数据；将码流数据输入码流处理装置，生成码流数字信号；将码流数字信号输入待测数字滤波器，以获取待测数字滤波器的测试结果；利用预设软件生成码流数据的过程，包括：生成一个理想信号；在理想信号中叠加模拟信号噪声，得到第一信号；在第一信号中叠加模数转换噪声，得到第二信号，作为码流数据。本申请通过预设软件生成模拟实际情况的码流数据，并将其通过码流处理装置生成码流数字信号，使得待测数字滤波器接收的信号接近真实信号，待测数字滤波器对该信号进行处理得到的测试结果，更贴近实际工作环境中的测试效果，具有更高的应用价值。
一种数字滤波器测试方法系统

[发明专利]一种IC时序验证方法及装置-CN202110583310.0在审
发明人： 何贤赚;付超;周杨凡;王海宁;李婷;刘晓露 -专利权人：杭州万高科技股份有限公司
申请日： 2021-05-27 - 公布日： 2021-08-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种IC时序验证方法及装置，用户可以根据待测IC的不同类型及用户需求向处理装置发送不同的波形生成指令，使处理装置生成与波形生成指令对应的测试时序波形，然后判断待测IC基于测试时序波形生成的待测时序波形与期望时序波形是否相同，以判断待测IC是否满足用户的设计需求。由于处理装置生成测试时序波形时不受电路结构的限制，可以生成任意类型的测试时序波形，以满足不同的检验需求，在研发设计师研发出新的待测IC时，可以直接生成与待测IC对应的测试时序波形以对待测IC进行测试，不需要开发一个配套的与待测IC对应的检测装置，提高了对待测IC进行验证的效率。
一种 ic 时序验证方法装置

[发明专利]一种模数转换电路控制方法、装置、设备及模数转换电路-CN202011124102.6在审
发明人：黄苏芳;刘晓露;何贤赚;侯岳良;谭年熊;夏军虎;林玲 -专利权人：杭州万高科技股份有限公司
申请日： 2020-10-20 - 公布日： 2020-11-20 - 主分类号： H03M1/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种模数转换电路控制方法，通过接收电压采样信号；根据所述电压采样信号及预设的变动阈值，得到精度选择信号；将所述精度选择信号发送至被控模数转换电路，使所述被控模数转换电路根据所述精度选择信号激活对应的模数转换器进行模数转换；其中，所述被控模数转换电路包括高位模数转换器及低位模数转换器。本发明选用位数不同的模数转换器，避免了现有技术中为了高精度采用高位数的模数转换器，但在低电压时功耗大幅上升的问题，在保证模数转换精度的同时大大降低了器件功耗，进而节省了能源，降低了成本。本发明同时还提供了一种具有上述有益效果的模数转换电路控制装置、设备、计算机可读存储介质及模数转换电路。
一种转换电路控制方法装置设备

[实用新型]一种芯片的验证装置-CN201520863413.2有效
发明人：卢杰;孟顺祥;黄苏芳;何贤赚 -专利权人：万高（杭州）科技有限公司;国网智能电网研究院;国家电网公司;国网山东省电力公司电力科学研究院
申请日： 2015-11-02 - 公布日： 2016-03-02 - 主分类号： G01R31/3167 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片的验证装置，包括：PC机、验证底板、ARM核心板、主MCU核心板、从MCU核心板、辅助FPGA核心板和Socket核心板。该装置能够通过PC机控制与其连接的ARM核心板，ARM核心板再控制主MCU核心板、从MCU核心板和辅助FPGA核心板实现对Socket核心板上的待测芯片的验证。本装置可以自动化验证每颗待测芯片的功能和性能，相对于计算机仿真实现方法来说，验证结果更接近待测芯片的真实性能，并能够大量节省验证时间。另外，本装置可以重复使用，经济成本较低。
一种芯片验证装置

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