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[发明专利]QTT天线主反射面变形检测方法、校正方法及检测装置-CN202010667313.8有效
发明人：叶骞;黄剑辉;何志壮 -专利权人：上海交通大学
申请日： 2020-07-13 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： G01B15/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种天线主反射面变形检测方法、校正方法及检测装置。该检测装置包括：喇叭天线，在被测天线的设定近距近场面上的各网格点处采集被测天线的辐射信号；姿态调整机构，控制喇叭天线的空间姿态，使喇叭天线的喇叭口方向对准被测天线的指向；位置调整机构，控制喇叭天线在设定近距近场面上的位置；支撑机构，对姿态调整机构以及位置调整机构进行支撑。本发明根据喇叭天线采集到的辐射信号确定被测天线在其设定近距近场面上的辐射信号的二维强度分布，根据二维强度分布直接计算天线主反射面的变形。本发明降低了测量的难度以及数据处理的复杂度，能够快速的实现对被测天线主反射面变形的检测，进而实现对被测天线主反射面的快速校正。
qtt 天线反射变形检测方法校正装置

[其他]等离子体光谱分析用的溶液进样装置-CN85202596无效
发明人： 何志壮 -专利权人：北京有色金属研究总院
申请日： 1985-06-29 - 公布日： 1986-05-07 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及光谱分析用的一种溶液进样装置。该装置由喷雾器和立式旋流雾化室组成。从雾化室的顶部中央插入一根气溶胶排出管，在其底部接有三通截门，在三通截门上装有“U”形管。该进样装置具有良好的样品气溶胶雾滴分级筛选效果和气流缓冲作用，使分析性能改善，元素谱线信背比增高，检测限降低，记忆效应显著减小，适用于高盐浓度分析。由于可循环雾化而适用于小体积样品的多元素痕量分析。
等离子体光谱分析溶液装置