专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]多晶硅-CN201610890923.8有效
  • 船崎和则;佐藤一臣;宫尾秀一 - 信越化学工业株式会社
  • 2013-06-13 - 2019-11-01 - C01B33/03
  • 本发明涉及多晶硅。具体地,本发明提供通过使用含碳杂质的浓度低的原料气体来实现多晶硅的进一步高纯度化的技术。首先,准备三氯硅烷作为样品(S101),利用GC/MS‑SIM法分析其含碳杂质量(S102)。基于分析结果判定合格与否(S103),判定为合格品的情况下(S103:是),将其作为基于CVD法的高纯度多晶硅的制造用原料(104)。另一方面,判定为不合格品的情况下(S103:否),则不作为多晶硅的制造用原料。基于GC/MS‑SIM法的杂质分析如果使用串联连接非极性柱和中等极性柱而得到的柱作为分离柱,则能够同时进行氯硅烷类与烃类的分离以及氯硅烷类与甲基硅烷类的分离。
  • 多晶
  • [发明专利]连接器-CN201510301083.2有效
  • 津川小依;佐藤一臣 - 日本航空电子工业株式会社
  • 2015-06-04 - 2018-11-13 - H01R13/03
  • 本发明公开了一种具有低接触电阻的触头的连接器,可与匹配连接器配合,该匹配连接器包括具有匹配接触点的匹配触头。该连接器包括触头和支撑该触头的支撑构件。该触头具有接触部。当该连接器与该匹配连接器彼此配合时,该匹配接触点在该接触部上滑动并与该接触部接触。该接触部具有作为其最外层的第一镀层和位于该第一镀层下面的第二镀层。该第一镀层由银或银合金制成,并具有不大于90Hv的维氏硬度。该第二镀层由银或银合金制成,并具有不小于100Hv的维氏硬度。
  • 连接器
  • [发明专利]连接器对-CN201510043558.2有效
  • 佐藤一臣;津川小依 - 日本航空电子工业株式会社
  • 2015-01-28 - 2017-08-01 - H01R13/03
  • 本发明公开一种连接器对,该连接器对包括能够彼此配合的第一连接器和第二连接器。第一连接器包括具有第一接触部分的第一接触件,所述第一接触部分具有由银或银合金制成的第一镀层。第二连接器包括具有第二接触部分的第二接触件,所述第二接触部分具有由银或银合金制成的第二镀层。第二接触部分具有接触起点和接触终点。第二镀层具有不小于120Hv但不大于180Hv的维氏硬度。第二镀层的维氏硬度大于第一镀层的维氏硬度。当第一连接器和第二连接器彼此配合时,第一接触部分在第二接触部分上从接触起点滑动到接触终点。
  • 连接器
  • [发明专利]高纯度多晶硅的制造方法-CN201380031327.9有效
  • 船崎和则;佐藤一臣;宫尾秀一 - 信越化学工业株式会社
  • 2013-06-13 - 2016-11-16 - C01B33/03
  • 本发明提供通过使用含碳杂质的浓度低的原料气体来实现多晶硅的进一步高纯度化的技术。首先,准备三氯硅烷作为样品(S101),利用GC/MS‑SIM法分析其含碳杂质量(S102)。基于分析结果判定合格与否(S103),判定为合格品的情况下(S103:是),将其作为基于CVD法的高纯度多晶硅的制造用原料(104)。另一方面,判定为不合格品的情况下(S103:否),则不作为多晶硅的制造用原料。基于GC/MS‑SIM法的杂质分析如果使用串联连接非极性柱和中等极性柱而得到的柱作为分离柱,则能够同时进行氯硅烷类与烃类的分离以及氯硅烷类与甲基硅烷类的分离。
  • 纯度多晶制造方法

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