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[发明专利]结温测试系统及方法-CN202210103128.5在审
发明人： 付健之;贺艳波;武康 -专利权人：华为数字能源技术有限公司
申请日： 2022-01-27 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请提供一种结温测试系统及方法，包括第一电流单元、第二电流单元、运算单元以及控制单元。第一电流单元用于输出具有浪涌电流波形的第一电流。控制单元用于在第一电流单元输出第一电流的第一时间点，导通第一电流单元和被测器件之间的电连接，在第一电流单元输出第一电流的第二时间点，断开第一电流单元和被测器件之间的电连接；其中，第二时间点在所述第一时间点之后。第二电流单元用于输出第二电流给被测器件。运算单元用于在第一电流单元和被测器件之间断开连接时，获取被测器件的电压，并根据被测器件的电压计算被测器件的结温。本申请的实施例能够准确测量器件的最大结温，并且还可以实现在浪涌波形中变化过程的结温测量。
测试系统方法

[实用新型]测试连接器和测试治具-CN202221018067.4有效
发明人：黄博惟;孔德才;付健之 -专利权人：华为数字能源技术有限公司
申请日： 2022-04-28 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01R31/316 文献下载
摘要：本申请提供了一种测试连接器，包括第一安装板、第二安装板和多根线针；第一安装板与第二安装板层叠间隔设置；每根线针均具有第一端以及与第一端相对的第二端；每根线针均穿过第一安装板与第二安装板，第一端均凸出于第一安装板背向第二安装板的表面，第二端均凸出于第二安装板背向第一安装板的表面；每根线针均能弹性弯曲；多根线针的第一端均用于承载芯片；在对芯片进行测试时，测试治具中的压头抵压芯片，使得第一端均与芯片接触、第二端均与测试治具中的模拟电路板接触。本申请还提供了一种测试治具，包括该测试连接器。本申请的方案能够满足芯片的测试需求。
测试连接器