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[发明专利]具有多个光子计数探测器元件阵列的方法和光学显微镜-CN202080105090.4在审
发明人：蒂莫·安胡特;伊万·迈克尔·安托洛维奇;丹尼尔·施韦特;爱德华多·沙邦;克劳迪奥·布鲁斯基尼 -专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司;洛桑联邦理工学院
申请日： 2020-07-28 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：一种用于操作光学显微镜的方法，包括从一个或多个光源(1)向样本定位位置(6A)发射和引导作为多个照射光束的照射光(2)，在样本定位位置处(6A)形成多个分离的照射光点(2A、2B、2C、2D)；以及将来自样本定位位置(6A)的照射光点(2A、2B、2C、2D)的探测光束(11)引导到包括多个传感器阵列(31‑34)的探测器(10)。每个传感器阵列(31‑34)包括光子计数探测器元件(40)，并且探测光束(11)在传感器阵列(31‑34)上形成多个光点(15)，其中来自样本定位位置(6A)处的不同照射光点(2A、2B、2C、2D)的探测光束(10)被引导到不同的传感器阵列(31‑34)。分析来自传感器阵列(31‑34)的测量信号以确定关于传感器阵列(31至34)上的光点(15)的位置信息。在调整过程中，基于位置信息调整光点(15)撞击传感器阵列(31‑34)的位置。还公开了相应的光学显微镜。
具有光子计数探测器元件阵列方法光学显微镜

[发明专利]探测发射光的方法、探测设备和激光扫描显微镜-CN202180058676.4在审
发明人： 丹尼尔·施韦特;蒂莫·安胡特;彼得·沙赫特 -专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请日： 2021-07-29 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及用于在激光扫描显微镜中探测发射光、尤其是来自至少一种荧光染料的荧光的方法，其中，利用成像光学器件将来自样品的发射光引导到位于图像平面中的具有多个像素的二维矩阵传感器上，其中，利用矩阵传感器以空间超采样的方式探测探测点分布函数。该方法的特征在于，利用色散装置尤其是在色散方向上对来自样品的发射光进行光谱分解，利用矩阵传感器对经光谱分解的发射光进行光谱分辨式探测，并且在评估由像素区域的像素测得的强度时，至少针对这些像素中的一些像素取消光谱分离。在另外的方面中，本发明涉及用于在激光扫描显微镜中以光谱分辨方式探测发射光的探测设备，并涉及激光扫描显微镜。
探测发射方法设备激光扫描显微镜

[发明专利]评估光场显微镜测量数据的方法和用于光场显微术的设备-CN202211078344.5在审
发明人： 丹尼尔·施韦特;蒂莫·安胡特 -专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请日： 2022-09-05 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及评估光场显微镜测量数据的方法和用于光场显微术的设备。该方法执行如下步骤：a)在样品中选择至少一个待分析的样品定位；b)利用光场显微镜，按记录时间点的序列来记录样品的图像，所述图像分别包括子图像的组；c)在步骤b)中记录的图像的子图像中确定与选择的样品定位相对应的定位；d)至少从所述子图像中的若干子图像中在子步骤c)中所确定的定位处提取出图像信号；e)针对特定的记录时间点得到积分信号，其方式是，将在步骤d)中针对确定的定位从该记录时间点的子图像中提取出的图像信号积分成积分信号；f)得到积分信号的时间曲线，其方式是，针对多个记录时间点执行步骤e)。
评估显微镜测量数据方法用于显微设备

[发明专利]光学显微镜和使用光学显微镜记录图像的方法-CN202080072679.9在审
发明人：蒂莫·安胡特;丹尼尔·施韦特 -专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请日： 2020-10-12 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：一种使用光学显微镜记录图像的方法，包括以下步骤：将照明光(12)引导至样本(35)；将来自样本(35)的检测光(15)引导到多个光子计数传感器元件(61)，每个光子计数传感器元件依次记录多个光子计数(x)；从光子计数(x)形成(S3)多个待分析的光子计数分布(81‑83)和至少一个参考光子计数分布(80)；计算每个待分析的光子计数分布(81‑83)和参考光子计数分布(80)之间的相似性；根据计算出的待分析光子计数分布(81‑83)的相似性，将传感器元件(61)识别为过载。还公开了一种相应的光学显微镜。
光学显微镜使用记录图像方法

[发明专利]针对用于显微镜的探测光的光学组件、用于显微镜检查的方法和显微镜-CN201780063949.8有效
发明人：蒂莫·安胡特;马蒂亚斯·瓦尔德;丹尼尔·施韦特 -专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请日： 2017-10-16 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于显微镜的、尤其是共焦扫描显微镜的探测光的光学组件，其具有用于被待测量的探测光穿过的射入平面(10)和布置在射入平面下游的用于将探测光(11)引导到探测平面(67)中的探测光路，其中，探测光路具有至少一个第一射束路径(1)，其具有第一光学射束引导器件，尤其是第一透镜和/或反射镜(20、30、34、36、58、60、66)，用于将探测光传导到探测平面中。光学组件在第一射束路径中具有至少一个用于对待测量的探测光在空间上进行光谱分裂的色散装置(26)和用于对在空间上进行了光谱分裂的探测光进行操纵的操纵装置(49)。第一光学射束引导器件与色散装置和操纵装置一起被布置并设立成用于产生射入平面到探测平面中的光谱分离并衍射受限的成像。优选地，光学组件具有第二射束路径(2)，其具有光学射束引导器件和用于选出第一射束路径(1)或第二射束路径(2)的选出装置(22)。在另一方面中，本发明还涉及一种用于显微镜检查的方法以及显微镜。
针对用于显微镜探测光学组件检查方法

[发明专利]用于多点扫描显微的设备和方法-CN201710073108.7有效
发明人：蒂莫·安胡特;丹尼尔·施韦特;托比亚斯·考夫霍尔德;布克哈德·罗舍尔;斯特凡·威廉 -专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请日： 2017-02-10 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于多点扫描显微的设备和方法。该设备具有：多色光源；分束设备；第一光学装置，用于提供照射光路，照射光路用于将单独的照射子光束分别引导并且聚焦到待检验的样本上或样本中的光斑中；扫描单元；检测单元，用于检测在用单独的照射子光束辐照之后，检测子光束中的被样本辐射的检测光；第二光学装置，用于提供将检测子光束引导到检测单元的检测光路；控制和评价单元，用于控制扫描单元并且用于评价检测单元检测的检测光。所述设备的特征在于，在照射子光束中的至少两个照射子光束的照射光路中，存在用于独立地设定相应照射子光束的光谱组成的可控光束操纵装置，并且控制和评价单元被设计成控制光束操纵装置。
用于多点扫描显微设备方法

[发明专利]具有可重构传感器阵列的光学显微镜-CN201980094729.0在审
发明人：蒂莫·安胡特;伊万·迈克尔·安托洛维奇;丹尼尔·施韦特;克劳迪奥·布鲁斯基尼;爱德华多·沙邦 -专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司;洛桑联邦理工学院
申请日： 2019-04-09 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：一种光学显微镜，包括用于照射样本(35)的光源(10)、由用于测量来自样本(35)的检测光(15)的光子计数检测器元件(61、62)组成的传感器阵列(60)，以及用于控制传感器阵列(60)的控制设备(70)。控制设备(70)被配置为灵活地将光子计数检测器元件(62)合并读出一个或多个超像素(65)。
具有可重构传感器阵列光学显微镜

[发明专利]光学组件、多点扫描显微镜和用于运行显微镜的方法-CN201780066241.8有效
发明人：马蒂亚斯·瓦尔德;蒂莫·安胡特;丹尼尔·施韦特 -专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请日： 2017-10-25 - 公布日： 2021-11-12 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种光学组件，尤其是用于多点扫描显微镜的探测光路的光学组件，其具有探测器能定位其中有的探测平面并且具有用于对探测光进行光谱分裂的色散装置。根据本发明，光学组件的特征在于，为了使探测光传导到探测平面中，存在有畸变光学器件，其布置在色散装置的射束下游并且布置在探测平面的射束上游，并且存在有转动装置，用于使经光谱分割的探测光的照明场和畸变光学器件相对扭转。此外，本发明还涉及一种多点扫描显微镜和一种用于运行显微镜的方法。
光学组件多点扫描显微镜用于运行方法

[发明专利]显微镜和显微镜检查的方法-CN201980071523.6在审
发明人： 丹尼尔·施韦特;蒂莫·安胡特 -专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请日： 2019-10-23 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种显微镜，包括用于提供照明光的光源、用于以可变方式产生待选择的照明光的照明图案的可控操纵设备、具有用于将照明图案引导至待检验样品的显微镜透镜的照明光束路径、具有用于检查由样品发出的荧光的多个像素的检测器、用于将由样品发出的荧光引导至检测器的检测光束路径、用于使照明光和荧光分离的主分束器、用于控制操纵设备并评估由检测器测量的数据的控制和评估单元。所要求保护的显微镜的特征在于，操纵设备在样品平面的光学共轭平面附近、被设置在主分束器上游的照明光束路径中，使得使用控制和评估单元并且以待选择的读出图案个别地激活检测器的像素，并且控制和评估单元被设计为个别地或以取决于所选择的照明图案的所选择的读出图案激活检测器的像素。本发明进一步涉及一种用于显微镜检查的方法。
显微镜检查方法

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