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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]磁导率传感器和磁导率检测方法-CN201410542469.8有效
发明人：大隅和彦;丸山雄三;下江治 -专利权人：日立金属株式会社
申请日： 2014-10-14 - 公布日： 2018-07-17 - 主分类号： G01N27/72 文献下载
摘要：本发明提供一种结构小型且简单却能够高精度检测被检测物的磁导率变化的磁导率传感器、以及使用磁导率传感器的磁导率检测方法。磁导率传感器包括：第一线圈1和第二线圈2；包含第一线圈1并发生振荡的第一振荡电路6；包含第二线圈2并发生振荡的第二振荡电路7；分别测量第一振荡电路6和第二振荡电路7中的振荡频率的测量部41；计算测量部41所测量的振荡频率的差的计算部42；以及将计算部42计算出的差变换为磁导率的变换部43。
磁导率传感器振荡电路磁导率振荡频率测量计算部振荡磁导率变化高精度检测被检测物计算测量检测

[实用新型]磁导率传感器-CN201420593694.X有效
发明人：大隅和彦;丸山雄三;下江治 -专利权人：日立金属株式会社
申请日： 2014-10-14 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： G01N27/72 文献下载
摘要：本实用新型提供一种结构小型且简单却能够高精度检测被检测物的磁导率变化的磁导率传感器。磁导率传感器包括：第一线圈1和第二线圈2；包含第一线圈1并发生振荡的第一振荡电路6；包含第二线圈2并发生振荡的第二振荡电路7；分别测量第一振荡电路6和第二振荡电路7中的振荡频率的测量部41；计算测量部41所测量的振荡频率的差的计算部42；以及将计算部42计算出的差变换为磁导率的变换部43。
磁导率传感器

[发明专利]旋转角度检测装置、旋转机及旋转角度检测方法-CN200980104613.7有效
发明人：三田正裕;相牟田京平;下江治;香川理人 -专利权人：日立金属株式会社
申请日： 2009-02-03 - 公布日： 2011-01-05 - 主分类号： G01D5/245 文献下载
摘要：本发明提供一种旋转角度检测装置、旋转机及旋转角度检测方法。所述旋转角度检测装置，使用具有2N极磁体的磁体转子(N为自然数)和检测来自所述磁体转子的磁通方向的传感器设备对旋转角度进行检测，其特征在于，将修正系数与由所述传感器设备获得的半径方向及旋转方向的两个输出电压值中的至少一者相乘，并根据修正后的两个输出电压值算出旋转角度，从而提高旋转角度的检测精度。
旋转角度检测装置方法

[发明专利]方位计-CN02809035.7有效
发明人：阿部泰典;下江治 -专利权人：日立金属株式会社
申请日： 2002-05-21 - 公布日： 2004-09-22 - 主分类号： G01C17/30 文献下载
摘要：为提供薄且面积小的方位计。本发明排列了一个平面线圈和至少两组薄膜磁阻元件。这几组薄膜磁阻元件中的每一组构成MR桥，探测和输出地磁场的两个垂直分量，根据输出值得到方位信息。
方位

[发明专利]具有磁阻元件的方位计-CN02103394.3有效
发明人：阿部泰典;下江治;诸野胁幸昌;板桥弘光;美马宏行;原田仁 -专利权人：日立金属株式会社
申请日： 2002-02-04 - 公布日： 2002-09-18 - 主分类号： G01C17/32 文献下载
摘要：所公开的方位计具有用于施加偏置磁场的薄膜平面线圈以及与此线圈的相对导体边交叉设置的至少一对磁阻元件对(设为第一与第二磁阻薄板)。此平面线圈具有至少一对相对导体边(设为第一与第二边)。此第一磁阻薄板与此第一边交叉成大于30°而小于90°的角。此第二磁阻薄板与此第二边交叉成大于30°而小于90°的角。在对磁阻薄板分别施加正反方向的偏置磁场的同时,测定磁阻元件对的中间电位,根据此两中间电位的差而检测出方位。
具有磁阻元件方位

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