专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]色层分析定量测量装置-CN201010294813.8无效
  • 三好浩二;阿河昌弘;重松薰 - 松下电器产业株式会社
  • 2001-09-25 - 2011-04-13 - G01N30/90
  • 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是:在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下,检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化,并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置,通过利用光学部件使光束成为椭圆形状,可以缓和显色不均并使定量分析高精度化,此外,还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
  • 分析定量测量装置
  • [发明专利]血液检查装置和检查方法-CN200880101613.7无效
  • 高岛哲也;藤原雅树;三好浩二 - 松下电器产业株式会社
  • 2008-08-04 - 2010-07-07 - A61B5/157
  • 公开了能够在测量血液后,不沾污保持部分而废弃使用完毕的传感器的血液检查装置。该装置通过第一支架(25a)和第二支架(25b)夹持血液传感器(23),所述血液传感器(23)通过导入从被穿刺的皮肤渗出的血液,分析血液的成分。第二支架(25b)设置为在与第一支架(25a)接触的方向和分离的方向上移动自由,通过推压凸起(20b)移动第二支架(25b)而使第一支架(25a)和第二支架(25b)分离,并且通过支撑爪(20c)使血液传感器(23)与第一支架(25a)和第二支架(25b)的双方分离而对其进行支撑,从而与所述第一支架和第二支架的双方之间形成间隙。
  • 血液检查装置方法
  • [发明专利]色层分析定量测量装置-CN200710112245.3有效
  • 三好浩二;阿河昌弘;重松薰 - 松下电器产业株式会社
  • 2001-09-25 - 2008-01-09 - G01N30/95
  • 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是:在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下,检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化,并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置,通过利用光学部件使光束成为椭圆形状,可以缓和显色不均并使定量分析高精度化,此外,还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
  • 分析定量测量装置
  • [发明专利]色层分析定量测量装置-CN200510118897.9有效
  • 三好浩二;阿河昌弘;重松薰 - 松下电器产业株式会社
  • 2001-09-25 - 2006-04-26 - G01N33/558
  • 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是:在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下,检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化,并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置,通过利用光学部件使光束成为椭圆形状,可以缓和显色不均并使定量分析高精度化,此外,还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
  • 分析定量测量装置
  • [发明专利]色层分析定量测量装置-CN200410032373.3有效
  • 三好浩二;阿河昌弘;重松薰 - 松下电器产业株式会社
  • 2001-09-25 - 2004-09-15 - G01N21/27
  • 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是:在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下,检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化,并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置,通过利用光学部件使光束成为椭圆形状,可以缓和显色不均并使定量分析高精度化,此外,还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
  • 分析定量测量装置
  • [发明专利]色层分析定量测量装置-CN200410032372.9无效
  • 三好浩二;阿河昌弘;重松薰 - 松下电器产业株式会社
  • 2001-09-25 - 2004-09-15 - G01N21/27
  • 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是:在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下,检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化,并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置,通过利用光学部件使光束成为椭圆形状,可以缓和显色不均并使定量分析高精度化,此外,还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
  • 分析定量测量装置
  • [发明专利]色层分析定量测量装置-CN01802901.9有效
  • 三好浩二;阿河昌弘;重松薰 - 松下电器产业株式会社
  • 2001-09-25 - 2003-01-22 - G01N21/27
  • 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下,检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化,并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置,通过利用光学部件使光束成为椭圆形状,可以缓和显色不均并使定量分析高精度化,此外,还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
  • 分析定量测量装置

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