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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]测试键结构-CN200510054311.7有效
发明人：陈铭聪;龚佑仪;戎乐天 -专利权人：联华电子股份有限公司
申请日： 2005-03-08 - 公布日： 2006-09-13 - 主分类号： H01L23/544 文献下载
摘要：一种测试键结构，由基底、封闭回路、间隙壁、第一与第二掺杂区以及接触窗所构成。而封闭回路位于基底上，其中封闭回路具有两条导线以及两个连结部，各连结部连结于导线的一端并环绕一接触区域。间隙壁则设置于封闭回路边缘并覆盖于导线间的基底。再者，第一掺杂区是位于封闭回路以外与间隙壁以外的基底中，第二掺杂区则位于间隙壁底下的基底中。而接触窗是与各接触区域内的第一掺杂区电连接。由于本发明将间隙壁与导线加入测试键结构中，所以能更加符合实际的元件结构，而测得间隙壁对整个元件的影响。
测试结构

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共 1 条

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