专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]驱动程序兼容性的确定方法、装置及设备-CN202310899861.7在审
  • 朱银波 - 龙芯中科(北京)信息技术有限公司
  • 2023-07-20 - 2023-09-22 - G06F9/445
  • 本申请提供的驱动程序兼容性的确定方法、装置及设备,该方法包括:响应于针对于电子设备的第一初始化指令,获取电子设备中的系统级芯片的版本号;并基于版本号,确定系统级芯片的版本信息;将版本信息注册到系统级芯片的内核中;响应于针对于外围设备的第二初始化指令,基于外围设备的驱动程序,对版本信息和第一结构体中的配置信息进行匹配,得到匹配结果;第一结构体中包括至少一个配置信息;配置信息为无法与外围设备兼容的系统级芯片的版本信息;若匹配结果表征第一结构体中存在与版本信息相同的配置信息,则确定外围设备的驱动程序与系统级芯片不兼容。通过上述方法,可以自动确定当前的电子设备和外围设备驱动程序之间的兼容性。
  • 驱动程序兼容性确定方法装置设备
  • [发明专利]PCIE控制器的测试方法、装置、设备及存储介质-CN202010246043.3有效
  • 吴胜;张宝祺;黄帅;符兴建 - 龙芯中科(北京)信息技术有限公司
  • 2020-03-31 - 2022-05-03 - H04L43/50
  • 本发明实施例提供一种PCIE控制器的测试方法、装置、设备及存储介质,第一PCIE控制器的接收端与发送端通过至少一个测试卡短接,每个测试卡之间的总线宽度相同,包括:接收测试指令,测试指令包括测试卡的总线宽度;根据测试卡的总线宽度确定芯片中的第一PCIE控制器,获取第一PCIE控制器对应的配置头中存储的连接参数;根据连接参数,输出与连接参数对应的第一PCIE控制器的测试结果。在硬件上通过廉价且通用的测试卡短接第一PCIE控制器的收发端,配合简单的软件测试方法,通过一条测试指令获取PCIE控制器对应的配置头中存储的连接参数即可实现对PCIE控制器的测试,在降低测试成本的同时提高测试效率、使用率。
  • pcie控制器测试方法装置设备存储介质
  • [实用新型]一种封装插座、封装模块及计算机设备-CN202120516642.2有效
  • 杜亚红;符兴建 - 龙芯中科(北京)信息技术有限公司
  • 2021-03-10 - 2021-11-12 - H01L23/488
  • 本实用新型实施例提供了一种封装插座、封装模块及计算机设备,涉及计算机技术领域。本实用新型实施例通过在封装插座中设置底座,底座具有贯穿的多个通孔,封装插座还包括多个导电端子,每个导电端子包括相互连接的第一导电部和第二导电部,第一导电部位于通孔内,第二导电部位于通孔外,第二导电部相对于第一导电部朝向底座的边缘区域设置。通过改变导电端子中的第二导电部的朝向,使得第一导电部可以分布在底座的各个区域内,后续再将封装插座与印刷电路板固定时,印刷电路板上的焊接点也会分布在各个区域内,则BGA封装形式和LGA封装形式可使用同一种印刷电路板,提高印刷电路板的利用率,降低印刷电路板的设计和制作成本。
  • 一种封装插座模块计算机设备
  • [实用新型]一种调试器、调试装置及调试系统-CN202120029639.8有效
  • 符兴建;徐文瑞 - 龙芯中科(北京)信息技术有限公司
  • 2021-01-06 - 2021-08-13 - G06F11/273
  • 本实用新型实施例提供了一种调试器、调试装置及调试系统,涉及电子设备技术领域。本实用新型实施例通过在调试器中设置控制接口、控制芯片、接口芯片和调试接口,控制芯片包括的第一输入输出引脚和各个第二输入输出引脚均与接口芯片连接,调试接口包括的调试使能引脚与接口芯片连接。通过在调试器中增加一根信号线将第一输入输出引脚与接口芯片连接,并在调试器中再增加一根信号线将调试使能引脚与接口芯片连接,控制芯片根据第一调试信号生成对应的使能控制信号,基于新增的信号线,将使能控制信号发送至调试使能引脚,以对主板中的调试使能信号的电平进行拉高或拉低,因此,无需人为手动拉高或拉低调试使能信号的电平,减少操作人员的工作量。
  • 一种调试装置系统
  • [发明专利]一种指令处理方法、装置及存储介质-CN201810040773.0有效
  • 薛雨;袁俊卿;毛卫龙 - 龙芯中科(北京)信息技术有限公司
  • 2018-01-16 - 2021-07-27 - G06F9/30
  • 本发明提供一种指令处理方法、装置及存储介质,可以应用于运行有操作系统的计算机,该计算机工作在命令行模式。该方法包括:接收指令查找请求,所述指令查找请求包括:待查找指令条目数的指示信息;在指令索引列表中的指令索引的总条目数大于0时,对所述待查找指令条目数和指令索引列表中的指令索引的总条目数进行取余运算,得到修正后的待查找指令条目数;根据所述修正后的待查找指令条目数,在所述指令索引列表中查找所述修正后的待查找指令条目数对应的指令索引;显示查找到的指令索引对应的指令。本发明提供的指令处理方法、装置及存储介质,可以提高计算机的指令查找效率。
  • 一种指令处理方法装置存储介质
  • [发明专利]数据的解码方法和装置-CN201710391795.7有效
  • 邵光龙;彭飞 - 龙芯中科(北京)信息技术有限公司
  • 2017-05-27 - 2021-07-20 - H04L1/00
  • 本发明实施例提供了一种数据的解码方法和装置,所述方法包括:接收端在接收数据前检测发射端预设的数据发送速度,从预置的多个解码控制参数中,确定与所述数据发送速度匹配的目标解码控制参数,并对接收端进行设置,从发射端接收数据,并根据目标解码控制参数对数据进行解码,以控制预设的数据发送速度下数据解码的误码率,使得可以在数据采用高速传输时,根据与数据传输速度相匹配的解码控制参数配置接收端,继而减小在高速传输时数据解码的误码率,改善了接收端的处理能力。
  • 数据解码方法装置
  • [实用新型]测试装置-CN202020729338.1有效
  • 陈朝灿 - 龙芯中科(北京)信息技术有限公司
  • 2020-05-06 - 2021-03-26 - G01R31/28
  • 本实用新型提供了一种测试装置,用于芯片加热老化测试,测试装置包括测试座和温控组件;温控组件包括多个加热器和控制组件,所述多个加热器中任意一个加热器与所述控制组件电连接,其中,多个加热器中不同的加热器分别具有不同的规格尺寸;在芯片和加热器放置于测试座内的情况下,控制组件控制加热器对芯片加热。在本实用新型实施例中,在该测试装置中将加热器与测试座分离,可在测试时使用与芯片规格型号匹配的对应加热器,而无需整体更换测试装置,因而,提高了通用性,减少了测试装置的重复浪费,降低了测试复杂度。
  • 测试装置

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