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- [发明专利]芯片验证方法、装置、设备、存储介质-CN202011495163.3有效
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杨晶晶;谭帆;魏炽频
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海光信息技术股份有限公司
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2020-12-17
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2022-11-01
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G06F11/22
- 本公开提供了一种芯片验证方法、装置、设备、存储介质。芯片验证方法,包括:覆盖点建立步骤,基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点;验证覆盖点建立步骤,在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性的验证覆盖点;非法仓建立步骤,在所述验证覆盖点中根据所述验证环境配置信息与对应设计行为之间的相关性建立非法仓;验证步骤,所述覆盖组采样收集所述覆盖点的功能覆盖率,并通过所述非法仓是否在采样过程中被触发来校验所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性。本公开可以实现无论是直接通过监控设计行为,还是间接从验证环境配置信息所采样收集到的功能覆盖率结果均可靠。
- 芯片验证方法装置设备存储介质
- [发明专利]一种中断控制器电路结构-CN201010238665.8有效
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李兆麟;魏炽频;郑庆伟;叶剑飞;陈佳佳;李圣龙;王芳
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清华大学
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2010-07-26
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2010-12-01
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G06F9/48
- 本发明提出了一种中断控制器电路结构,包括:事件标志寄存器,用于保存事件标志信号;事件屏蔽寄存器,用于保存事件屏蔽信号;事件组合单元,用于保存组合事件标志信号;通道映射寄存器,用于保存每个通道对应的中断号;中断映射单元,用于保存事件标志信号或者组合事件标志信号对应位的值到输出信号中;通道使能寄存器,用于控制每个通道的开闭状态;中断使能单元,用于根据输出信号和所述开闭状态判断所述对应通道的中断状态,且根据所述中断状态输出中断标志;和中断标志寄存器,用于根据所述中断标志输出中断到微处理器。根据本发明的中断控制器电路结构,具有可编程的中断优先级,编程的灵活性,因此有助于提高中断服务的效率。
- 一种中断控制器电路结构
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