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[发明专利]光学元件-CN202010080515.2有效
发明人：中西笃司;高桥宏典 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2020-02-05 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G02B5/04 文献下载
摘要：本发明提供一种光学元件。该光学元件包括主体部(2)，该主体部由可透射第一光(L1)和波长比第一光(L1)长的第二光(L2)的介质构成，主体部(2)具有供第一光(L1)和第二光(L2)入射的入射区域(5)，在主体部(2)的内部设置有相对于入射区域(5)倾斜的间隙(7)，在该间隙配置有与主体部(2)相比对第一光(L1)和第二光(L2)的折射率低的介质，自主体部(2)与间隙(7)的界面(R)起的间隙宽度(W)比界面(R)的第一光(L1)的倏逝波(E1)的穿透深度(T1)大，且比界面R的第二光(L2)的倏逝波(E2)的穿透深度(T2)小。本发明能够高效率地将彼此不同波长的光分波/合波。
光学元件

[发明专利]信号处理装置及方法、雷达装置以及计算机可读存储介质-CN202211688708.1在审
发明人：久保田有吾;高桥宏典 -专利权人：古野电气株式会社
申请日： 2022-12-27 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明提供一种信号处理装置及方法、雷达装置以及计算机可读存储介质，抑制成本的增加，且降低主脉冲信号的影响。本发明的信号处理装置包括：修正值算出部，基于包含利用经由天线的多次收发所获取的信号的接收信号，对每个距所述天线的距离算出强度的修正值；以及抑制部，使用每个所述距离的修正值，对每个所述距离抑制基于所述接收信号所生成的接收数据所显示的电平。
信号处理装置方法雷达以及计算机可读存储介质

[发明专利]光学测量装置和光学测量方法-CN201910144958.0有效
发明人：堀田和希;河田阳一;中西笃司;藤田和上;高桥宏典;里园浩 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2019-02-27 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本发明的光学测量装置(1)具备：光源(2)，其输出太赫兹波(T)和与太赫兹波(T)同轴且具有与该太赫兹波(T)不同的波长的同轴光(I)；强度调制部(3)，其以规定的调制频率对太赫兹波(T)和同轴光(I)中的至少太赫兹波(T)进行强度调制；以及光检测部(5)，其基于调制频率(f1)而分别对经强度调制部(3)作用于被测量物(S)的太赫兹波(T)和同轴光(I)进行同步检波。
光学测量装置测量方法

[发明专利]太赫兹波用光学元件及其制造方法-CN201910903036.3有效
发明人：河田阳一;高桥宏典;池田吉纪;添田淳史 -专利权人：浜松光子学株式会社;帝人株式会社
申请日： 2019-09-24 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G02B1/11 文献下载
摘要：本发明提供一种太赫兹波用光学元件，其具备：光学部件，其具有硅表面；防反射膜，其具有以环烯烃类聚合物为主成分的有机树脂、及分散在该有机树脂中的无机颗粒；粘接层，其在防反射膜的厚度方向上位于光学部件及防反射膜之间，粘接光学部件的硅表面及防反射膜。粘接层含有热改性后的烯烃类聚合物。
赫兹用光元件及其制造方法

[发明专利]发酵状态监视装置及发酵状态监视方法-CN201911220474.6在审
发明人：秋山高一郎;堀田和希;高桥宏典;里园浩;坂本知昭 -专利权人：浜松光子学株式会社;国立医药品食品卫生研究所
申请日： 2019-12-03 - 公布日： 2020-06-12 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本发明提供一种发酵状态监视装置及发酵状态监视方法，该发酵状态监视装置包括：太赫兹波产生元件，其相对于密闭的产品容器P内的发酵中的发酵食品输出太赫兹波T的检查光；太赫兹波检测元件，其检测由产品容器内的发酵食品反射的检查光的返回光；判定部，其基于包含返回光相对于检查光的反射率或返回光相对于检查光的吸收系数的指标值，判定发酵食品的发酵进度。
发酵状态监视装置方法

[发明专利]半导体制造方法及晶圆检查方法-CN201880047424.X在审
发明人：中村共则;须山本比吕;高桥宏典 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-06-13 - 公布日： 2020-03-24 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种可对应于集成电路的高密度化的半导体制造方法。本发明的一方式所涉及的半导体制造方法具备如下工序：与具有多个芯片形成区域的晶圆的各芯片形成区域对应而形成：记忆胞；光电二极管，其输出对应于所输入的光信号的电信号；及信号处理电路，其基于自光电二极管输出的电信号而产生逻辑信号并将该逻辑信号输出至记忆胞；在形成的工序之后，将用于记忆胞的动作确认的泵浦光向光电二极管输入，检查记忆胞的动作状态；及在检查的工序之后，按每个芯片形成区域进行切割。
半导体制造方法检查

[发明专利]半导体晶圆-CN201880047460.6在审
发明人：须山本比吕;高桥宏典;中村共则 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-06-13 - 公布日： 2020-03-24 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种适于动作状态的检查的半导体晶圆。晶圆为具有多个芯片形成区域的半导体晶圆，且具备：形成于芯片形成区域内的内存单元；及形成于芯片形成区域内的检查用器件，且检查用器件具有：光电二极管，其接收用于内存单元的动作确认的泵浦光的输入，并输出对应于该泵浦光的电信号；及信号处理电路，其基于自光电二极管输出的电信号产生逻辑信号，并将该逻辑信号向内存单元输出。
半导体

[发明专利]半导体晶圆-CN201880047476.7在审
发明人：须山本比吕;高桥宏典;中村共则 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-06-13 - 公布日： 2020-03-17 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种适于动作状态的检查的半导体晶圆。晶圆为具有多个芯片形成区域的半导体晶圆，且具备：形成于芯片形成区域内的内存单元，及形成于芯片形成区域外的检查用器件；检查用器件具有：光电二极管，其接收用于内存单元的动作确认的泵浦光的输入，并输出对应于该泵浦光的电信号；及信号处理电路，其基于自光电二极管输出的电信号产生逻辑信号，并将该逻辑信号向内存单元输出。
半导体

[发明专利]辐射热计型THz检测器-CN201680005713.4有效
发明人：北浦隆介;石原正敏;山崎理弘;高桥宏典 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2016-01-13 - 公布日： 2019-03-29 - 主分类号： G01J1/02 文献下载
摘要：本发明的辐射热计型THz检测器具备接收并放射波长λ的THz波的指向性天线(1)、与指向性天线(1)相对配置的收信天线(2)、及检测由流经收信天线(2)的电流引起的发热的辐射热计(4)，且指向性天线(1)在俯视时与收信天线(2)重叠，指向性天线(1)的长度方向长被设定为比收信天线(2)的长度方向长要短。
辐射热 thz 检测器

[发明专利]光放大装置-CN201410040066.3在审
发明人：山本晃永;森口俊治;大石真吾;藤本正俊;坂本繁;高桥宏典;伊藤晴康;河田阳一;青岛伸一郎 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2007-07-11 - 公布日： 2014-05-07 - 主分类号： H01S3/23 文献下载
摘要：本发明提供一种小型化、高输出化以及稳定化容易的光放大装置。光放大装置（1A）具备光放大部（10A）和能量供给部（30）。光放大部（10A）包括光放大介质（11）和透明介质（12）。能量供给部（30）是向光放大介质（11）供给激发能量（例如激发光）的装置。光放大介质（11）接受该激发光的供给将光放大并将其输出。并且，透明介质（12）是使光放大介质（11）中的被放大光多次通过的介质。透明介质（12），例如能够使被放大光在其内部曲折地传播。
放大装置

[发明专利]光学元件、激光振荡装置和激光放大装置-CN200980140176.4无效
发明人：山本晃永;河田阳一;大石真吾;森口俊治;坂本繁;伊藤晴康;藤本正俊;高桥宏典;福满宪志;柴山胜己;青岛绅一郎 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2009-09-14 - 公布日： 2011-09-07 - 主分类号： H01S3/10 文献下载
摘要：本发明提供一种光学元件、激光振荡装置和激光放大装置。本发明的光学元件(20A)由具有光透过性的介质构成，且具有比空气的折射率大的折射率，使入射的激光在壁面(20a)多次反射并在内部传播，该光学元件(20A)具备：入射窗口(21)，位于壁面(20a)的一部分，用于使激光入射；出射窗口(22)，位于壁面(20a)的一部分，用于使在内部传播的激光出射；以及波长分散补偿部(31、32)，一体地位于介质的一部分，通过使激光至少经两次透过或反射来补偿波长分散。
光学元件激光振荡装置放大

[发明专利]全反射太赫兹波测定装置-CN200980115688.5有效
发明人：中西笃司;河田阳一;安田敬史;高桥宏典;藤本正俊;青岛绅一郎 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2009-04-27 - 公布日： 2011-04-13 - 主分类号： G01N21/35 文献下载
摘要：本发明的全反射太赫兹波测定装置(1)具备光源(11)、分支部(12)、斩波器(13)、光程差调整部(14)、偏振片(15)、分束器(17)、太赫兹波产生元件(20)、滤波器(25)、内部全反射棱镜(31)、太赫兹波检测元件(40)、1/4波长板(51)、偏振光分离元件(52)、光检测器(53a)、光检测器(53b)、差动放大器(54)以及锁定放大器(55)。内部全反射棱镜(31)为所谓的无象差棱镜，具有入射面(31a)、出射面(31b)以及反射面(31c)。内部全反射棱镜(31)的入射面(31a)上一体地设置有太赫兹波产生元件(20)和滤波器(25)，内部全反射棱镜(31)的出射面(31b)上一体地设置有太赫兹波检测元件(40)。滤波器(25)使太赫兹波透过而使泵浦光遮断。由此，实现了可小型化的全反射太赫兹波测定装置。
全反射赫兹测定装置

[发明专利]多异氰酸酯的制造方法和多异氰酸酯的制造装置-CN201010200246.5有效
发明人：佐佐木佑明;内藤隆夫;平田文明;猿渡雅人;高桥宏典;前场功之;今泉次雄;佐伯卓哉;山口贵史;寺田晃一郎 -专利权人：三井化学聚氨酯株式会社
申请日： 2006-03-08 - 公布日： 2010-09-29 - 主分类号： C07C265/14 文献下载
摘要：本发明提供一种多异氰酸酯的制造方法，可以将多异氰酸酯制造工序中在作为副产物产生的氯化氢有效地利用，同时减轻对环境的负荷，并提供用于实施该多异氰酸酯的制造方法的多异氰酸酯的制造装置。在碳酰氯制造用反应槽(2)中，氯和一氧化碳反应得到碳酰氯之后，在异氰酸酯化反应槽(3)中，在碳酰氯制造用反应槽(2)中所得到的碳酰氯与多胺反应得到多异氰酸酯。然后，在氯化氢精制塔(4)中，对异氰酸酯化反应槽(3)中作为副产物产生的氯化氢气体进行精制后，在氯化氢氧化槽(6)中，精制的氯化氢气体被氧化得到氯。然后，由氯再供给管(8)将所得的氯供给到碳酰氯制造用反应槽(2)，与一氧化碳反应得到碳酰氯。
氰酸制造方法装置

[发明专利]多异氰酸酯的制造方法和多异氰酸酯的制造装置-CN201010200299.7有效
发明人：佐佐木佑明;内藤隆夫;平田文明;猿渡雅人;高桥宏典;前场功之;今泉次雄;佐伯卓哉;山口贵史;寺田晃一郎 -专利权人：三井化学聚氨酯株式会社
申请日： 2006-03-08 - 公布日： 2010-09-29 - 主分类号： C07C263/10 文献下载
摘要：本发明提供一种多异氰酸酯的制造方法，可以将多异氰酸酯制造工序中在作为副产物产生的氯化氢有效地利用，同时减轻对环境的负荷，并提供用于实施该多异氰酸酯的制造方法的多异氰酸酯的制造装置。在碳酰氯制造用反应槽(2)中，氯和一氧化碳反应得到碳酰氯之后，在异氰酸酯化反应槽(3)中，在碳酰氯制造用反应槽(2)中所得到的碳酰氯与多胺反应得到多异氰酸酯。然后，在氯化氢精制塔(4)中，对异氰酸酯化反应槽(3)中作为副产物产生的氯化氢气体进行精制后，在氯化氢氧化槽(6)中，精制的氯化氢气体被氧化得到氯。然后，由氯再供给管(8)将所得的氯供给到碳酰氯制造用反应槽(2)，与一氧化碳反应得到碳酰氯。
氰酸制造方法装置

[发明专利]多异氰酸酯的制造方法和多异氰酸酯的制造装置-CN201010200278.5有效
发明人：佐佐木佑明;内藤隆夫;平田文明;猿渡雅人;高桥宏典;前场功之;今泉次雄;佐伯卓哉;山口贵史;寺田晃一郎 -专利权人：三井化学聚氨酯株式会社
申请日： 2006-03-08 - 公布日： 2010-09-22 - 主分类号： C07C263/10 文献下载
摘要：本发明提供一种多异氰酸酯的制造方法，可以将多异氰酸酯制造工序中在作为副产物产生的氯化氢有效地利用，同时减轻对环境的负荷，并提供用于实施该多异氰酸酯的制造方法的多异氰酸酯的制造装置。在碳酰氯制造用反应槽(2)中，氯和一氧化碳反应得到碳酰氯之后，在异氰酸酯化反应槽(3)中，在碳酰氯制造用反应槽(2)中所得到的碳酰氯与多胺反应得到多异氰酸酯。然后，在氯化氢精制塔(4)中，对异氰酸酯化反应槽(3)中作为副产物产生的氯化氢气体进行精制后，在氯化氢氧化槽(6)中，精制的氯化氢气体被氧化得到氯。然后，由氯再供给管(8)将所得的氯供给到碳酰氯制造用反应槽(2)，与一氧化碳反应得到碳酰氯。
氰酸制造方法装置

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