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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]自动分析装置及检体处理系统-CN201210457573.8有效
发明人：时枝仁;高木由充;涩谷武志;圷正志 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2008-12-24 - 公布日： 2013-03-20 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明提供消除具有齿条的供给、输送、回收之类的齿条输送的作用的齿条输送部和具有进行前处理、分析等的作用的处理部之间的依存关系而使之独立，并可实现系统整体的处理效率提高和时间缩短的检体处理系统。通过使多个齿条待机，使各处理单元具有一对如对各个齿条可随机地进行存取的缓冲单元，并构成为用缓冲单元进行与齿条输送部的齿条输入输出，将未处理的齿条输入到缓冲单元，连自动重检也包括在内的处理结束后使齿条从缓冲单元输出，从而消除处理单元和输送单元的功能上的依存。
自动分析装置处理系统

[发明专利]自动分析装置-CN201210103683.4有效
发明人：折桥敏秀;高木由充;笠间干雄 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2006-09-11 - 公布日： 2012-08-01 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提供一种分析装置，在精度管理试样的测定数据在预先设定的基准上下限值的范围以外时，通过简化校准或精度管理试样的再测定，可以迅速进行装置的精度管理的应对处理，而且可以继续实现高可靠性的分析。具有以下的功能：比较预先设定的精度管理试样的测定数据的基准上下限值和精度管理试样的测定数据，如果测定数据在基准上下限值之外，则推荐校准的再测定，用户可以通过操作画面进行确认以及可以容易地指示测定委托。另外，具有以下的单元：可以确认基准上下限值的范围之外的精度管理试样的测定数据以及可以容易地指示该分析项目的精度管理试样的再测定。
自动分析装置

[发明专利]使试剂信息无法读取的自动分析装置-CN201080024505.1有效
发明人：山野晃大;高木由充 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2010-05-14 - 公布日： 2012-05-16 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种自动分析装置，其将不需要的试剂的试剂ID信息改写为装置不能识别的信息，适合于再利用已有的试剂信息存储媒体并有效地进行试剂管理。本发明的自动分析装置采用由试剂分注器分注试剂后，使分注的该试剂与试样反应，测定该进行了反应的试样，分析该试样的指定分析项目的自动分析方法，其特征在于具备对于存储安装于试剂容器的试剂信息的信息存储媒体，进行该信息的读写的信息读写器，并具备管理读取的试剂信息的机构、和根据上述管理信息处理信息的机构，而且具有根据上述管理信息判断为不需要的试剂信息改写为装置不能识别的信息的改写机构。
试剂信息无法读取自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN200980152686.3有效
发明人：圷正志;松原茂树;高木由充;时枝仁 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2009-12-04 - 公布日： 2011-11-30 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明提供一种能够对分析中的检测物产生的追加检查委托项目、以及检测物所产生的异常迅速地进行处理的自动分析装置。该自动分析装置具有输出所分析的检测物的测定结果，判断是否需要进行再次测定，并实施再次测定的功能。为了实现该功能，设有用于分析、并直到输出测定结果之前进行待机的缓冲区域。在各分析单元中，成对具有能对该缓冲区域随机地进行存取的缓冲器单元，在该缓冲区域附近确保可取出检测物、且能再次投入的位置。操作人员通过在操作部上发出排出指示，从而将在缓冲区域内进行待机的、搭载有该检测物的架排出到上述取出位置。通过从所排出的架上对检测物进行必要的操作并再次投入，从而能对除该检测物以外的检测物继续进行分析。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置及检测体处理系统-CN200980132370.8有效
发明人：时枝仁;高木由充;圷正志;佐川彰太郎 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2009-08-28 - 公布日： 2011-07-13 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明提供一种自动分析装置及检测体处理系统。在具有一台以上的功能模块和分别与上述功能模块成对地组合的缓冲单元的检测体处理系统中，在装置由于故障而停止的情况下，由于在缓冲器内保持了多个检测体架，因此在重新起动处理时的架容纳方面需要大量时间。另外，在系统结构中存在多个缓冲单元的情况下，根据缓冲单元数，重新起动时间倍增。在各缓冲单元上设置检测体架ID读取元件，重新起动时在缓冲单元内进行缓冲单元内的检测体架的ID读取，根据读取的信息在控制部中进行各检测体架的搬运目的地的查询。之后，根据来自控制部的搬运目的地指示，以缓冲单元为起点重新开始进行检测体的处理。
自动分析装置检测处理系统

[发明专利]组合试剂容器及使用该组合试剂容器的自动分析装置-CN200910139864.0有效
发明人：三村智宪;确雅明;西田正治;五十岚义章;高木由充 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2004-10-13 - 公布日： 2010-03-03 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明涉及试剂盒及使用该试剂盒的自动分析装置在临床检验室用的自动分析装置的试剂容器中，本发明可提供符合每个设备的检验数量的适当容量的试剂容器，同时可提供能够简单地进行试剂设定的环境。在由试样分注、试剂分注、反应容器等构成的自动分析装置中，为了分析试样中的1种成分，将用1种或2种以上的试剂的试剂容器组合成试剂盒，在1个试剂盒中具有试剂用标识符，该试剂用标识符特征在于：具有包括在每个预定的多个试剂容器的开口部的位置上是否存在试剂开口部位、容器尺寸的试剂信息。
组合试剂容器使用自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN200910006421.4有效
发明人：饭泉纪子;富山智子;高木由充;今井恭子;儿玉隆一郎;三村智宪 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2009-02-12 - 公布日： 2009-08-19 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提供一种自动分析装置。作为自动分析装置的操作部中的存储方式，提供：记录构成自动分析装置的各设备的动作或自动分析装置的维护的实施状况、和用于分析检查的消耗品的使用经过的存储部；以及作为确定为了导出检量线而进行的分析检查的信息，对于该分析检查赋予ID的分析ID管理部。另外，按照进行了分析检查的检体顺序以及进行了分析检查的分析项目顺序，在同一时间轴上展开在存储部中存储的数据，输出到全体数据显示区域上，或者从各个检体的分析项目的分析过程的观点出发，展开后输出到各检体的分析结果的记录上。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置及检体处理系统-CN200810184456.2有效
发明人：时枝仁;高木由充;涩谷武志;圷正志 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2008-12-24 - 公布日： 2009-07-01 - 主分类号： G01N35/04 文献下载
摘要：本发明提供消除具有齿条的供给、输送、回收之类的齿条输送的作用的齿条输送部和具有进行前处理、分析等的作用的处理部之间的依存关系而使之独立，并可实现系统整体的处理效率提高和时间缩短的检体处理系统。通过使多个齿条待机，使各处理单元具有一对如对各个齿条可随机地进行存取的缓冲单元，并构成为用缓冲单元进行与齿条输送部的齿条输入输出，将未处理的齿条输入到缓冲单元，连自动重检也包括在内的处理结束后使齿条从缓冲单元输出，从而消除处理单元和输送单元的功能上的依存。
自动分析装置处理系统

[发明专利]自动分析装置以及自动分析装置的使用方法-CN200810128084.1有效
发明人：八木贤一;高木由充;大竹仁 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2008-07-29 - 公布日： 2009-02-04 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供减轻设置试剂时用户的负担、使装置使用方式的变更容易的自动分析装置。本发明的自动分析装置具备：具有多个反应容器的反应部、能够保管多个试剂容器的第一试剂保管部、将检体分注到上述反应部的检体分注部件、从第一试剂保管部将对应于分析项目的试剂分注到上述反应部的试剂分注部件、能够保管多个试剂容器的第二试剂保管部、以及能够在第一试剂保管部与第二试剂保管部之间进行试剂的送出送入的试剂容器移送部件，并且，具有试剂挑选部件，该试剂挑选部件挑选在使分析项目以及该分析项目组合的分析预定数的使用设置的分析动作中使用的试剂。
自动分析装置以及使用方法

[发明专利]样品架以及样品架输送系统-CN200810108863.5有效
发明人：野口清辉;大竹仁;高木由充;山口卓也;斋藤佳明;竹边靖昭 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2008-05-29 - 公布日： 2008-12-03 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明提供一种样品架(1)以及样品输送系统，其在各样品容器插入口(3)的附近设置发光体(2)，该发光体(2)对操作者通知有关样品架(1)本身保持的各样品容器内的样品的分析状况或状态的信息。
样品以及输送系统

[发明专利]自动分析装置-CN200710140356.5有效
发明人：粟田泰直;岛田和广;高木由充;折桥敏秀;松原茂树 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2007-08-09 - 公布日： 2008-03-05 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：对于操作自动分析装置，在确定有问题的试剂的情况下，必须显示多个画面，对于经验少的操作员而言，难以确定问题所在。本发明提供一种自动分析装置，通过在使用自动分析装置进行分析的同时显示重要的试剂·校准液·精度管理试料的信息，能够在一个画面上参照必要的信息。通过汇总显示在一个装置上搭载的全部试剂信息，经验少的操作员也能够容易地确定有问题的试剂。另外不用进行现有方式那样的画面切换，提高了操作性，提高了视觉辨认度。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN200610151669.6有效
发明人：折桥敏秀;高木由充;笠间干雄 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2006-09-11 - 公布日： 2007-03-21 - 主分类号： G01N33/48 文献下载
摘要：本发明提供一种分析装置，在精度管理试样的测定数据在预先设定的基准上下限值的范围以外时，通过简化校准或精度管理试样的再测定，可以迅速进行装置的精度管理的应对处理，而且可以继续实现高可靠性的分析。具有以下的功能：比较预先设定的精度管理试样的测定数据的基准上下限值和精度管理试样的测定数据，如果测定数据在基准上下限值之外，则推荐校准的再测定，用户可以通过操作画面进行确认以及可以容易地指示测定委托。另外，具有以下的单元：可以确认基准上下限值的范围之外的精度管理试样的测定数据以及可以容易地指示该分析项目的精度管理试样的再测定。
自动分析装置

[发明专利]分析装置-CN200610110636.7有效
发明人：泷美树;高木由充 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2006-08-04 - 公布日： 2007-02-07 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：实现一种分析装置，使伴随多功能化因而画面结构变得复杂的自动分析装置的设定和登录作业的操作引导与熟练程度和使用者无关，可以高效地使用。在存储部12中存储操作引导文件31、操作引导文件31内的顺序ID、编号、以及按键等与装置控制程序30的画面ID的对应列表文件32。当选择了所显示的操作引导窗口内的顺序ID等时，从上述对应列表文件32中检索与上述顺序ID对应的画面ID，并进行控制向与装置控制程序软件30一侧的画面ID对应的画面进行迁移。
分析装置

[发明专利]试剂盒以及使用该试剂盒的自动分析装置-CN200410084016.1无效
发明人：三村智宪;确雅明;西田正治;五十岚义章;高木由充 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2004-10-13 - 公布日： 2005-04-27 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明涉及试剂盒及使用该试剂盒的自动分析装置在临床检验室用的自动分析装置的试剂容器中，本发明可提供符合每个设备的检验数量的适当容量的试剂容器，同时可提供能够简单地进行试剂设定的环境。在由试样分注、试剂分注、反应容器等构成的自动分析装置中，为了分析试样中的1种成分，将用1种或2种以上的试剂的试剂容器组合成试剂盒，在1个试剂盒中具有试剂用标识符，该试剂用标识符特征在于：具有包括在每个预定的多个试剂容器的开口部的位置上是否存在试剂开口部位、容器尺寸的试剂信息。
试剂盒以及使用自动分析装置

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