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[发明专利]连接到固定部件的可移动组件的监控系统-CN202180085350.0在审
发明人： A·鲁杰里;D·兰佐尼;A·图里尼;C·D·西蒙;C·沃姆 -专利权人： 马波斯S·P·A·公司
申请日： 2021-12-17 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： B24B49/00 文献下载
摘要：一种监控系统(12)，用于可移动部件(3)，例如旋转部件，由固定部件(2)支撑。监控系统(12)包括：声传感器(10)，位于该可移动部件(3)中；第一放大器(18)，位于该可移动部件(3)中；非接触式通信单元(14)，设置有位于可移动部件(3)中的第一收发器装置(15)，以及面向该第一收发器装置(15)并置于该固定部件(2)中的第二收发器装置(16)；第一连接线(19)，将该声传感器(10)连接到该第一放大器(18)；模拟数字转换器(37)，放置在该可移动部件(3)或该固定部件(2)中，且被配置为接收模拟信号并将该模拟信号转换为数字信号；及处理装置(38)，放置在该可移动部件(3)或该固定部件(2)中，且被配置为从该模拟数字转换器(37)接收该数字信号，以对该数字信号进行处理，且得到并输出处理的数字信号。
接到固定部件移动组件监控系统

[发明专利]连接到固定部件的可移动组件的监控系统-CN202180085348.3在审
发明人： D·兰佐尼;A·鲁杰里;C·D·西蒙;A·图里尼;C·沃姆 -专利权人： 马波斯S·P·A·公司
申请日： 2021-12-17 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： B24B49/00 文献下载
摘要：一种监控系统(12)，用于可移动部件(3)，例如旋转部件，由固定部件(2)支撑。监控系统(12)包括：两个声传感器(10)，其相互分离且独立，位于该可移动部件(3)中；位于可移动部件(3)中的两个第一放大器(18)；非接触式通信单元(14)，设置有位于可移动部件(3)中的第一收发器装置(15)，以及面向该第一收发器装置(15)并置于该固定部件(2)中的第二收发器装置(16)；两条第一连接线(19)，每条将该声传感器(10)连接到该第一放大器(18)；多工器(39)，具有连接到所述两个第一放大器(18)的两个电输入端子以及连接到所述单个通信单元(14)的所述第一收发器装置(15)的单个电输出端子。
接到固定部件移动组件监控系统

[发明专利]连接到固定部件的可移动组件的监控系统-CN202180085349.8在审
发明人： C·沃姆;A·鲁杰里;C·D·西蒙;D·兰佐尼;A·图里尼 -专利权人： 马波斯S·P·A·公司
申请日： 2021-12-17 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： B24B49/00 文献下载
摘要：一种监控系统(12)，用于可移动部件(3)，例如旋转部件，由固定部件(2)支撑。监控系统(12)包括：声传感器(10)，位于可移动部件(3)中，且包括两个端子(17)；第一放大器(18)，位于可移动部件(3)内，具有两个输入端和两个输出端；非接触式通信单元(14)，具有位于可移动部件(3)中的第一收发器装置(15)，以及面向第一收发器装置(15)并位于固定部件(2)中的第二收发器装置(16)；第一连接线(19)，将传感器(10)连接到第一放大器(18)，具有两个电引线，其每者将声传感器(10)的端子(17)连接到第一放大器(18)的相应输入端子；及第二连接线(20)，将第一放大器(18)连接到第一收发器装置(15)，并具有两个电引线，其每者将第一放大器(18)的输出端连接到第一收发器装置(15)。
接到固定部件移动组件监控系统

[发明专利]固定部件和可移动部件之间的非接触式电力传输方法、电力供应电路和包括电力供应电路的非接触式连接系统-CN202180081828.2在审
发明人： D·卡斯塔尔迪尼;A·鲁杰里 -专利权人： 马波斯S·P·A·公司
申请日： 2021-12-17 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01D5/243 文献下载
摘要：用于在固定部件(14)和可移动部件(15)之间进行非接触式电力传输的方法和实施该方法的电力供应电路(17)。电力供应电路(17)包括空气耦接变压器(19)、具有由固定部件支持的初级线圈(20)的初级谐振电路和有面向初级谐振电路并由可移动部件支持的次级线圈(21)的次级谐振电路。以初级交流电压(V1)馈送初级谐振电路，使初级电流(I1)环流。该初级电流(I1)在该次级谐振电路中感应出次级交流电压(V2)，从而导致次级电流(I2)环流。调整影响谐振条件的实现的电变量，例如初级电压的频率(F)，以在谐振条件下操作。固定部件和可移动部件之间的距离(d)被确定为这种电变量值的函数。非接触式连接系统包括固定部件和可移动部件以及电力供应电路。
固定部件移动之间接触电力传输方法电力供应电路包括连接系统

[发明专利]用于检查工具完整性的系统-CN202180075759.4在审
发明人： A·甘比尼;A·福尔尼 -专利权人： 马波斯S·P·A·公司
申请日： 2021-12-01 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： B23Q17/22 文献下载
摘要：一种连接到机床上的工具保持器(例如旋转轴(5))的检查系统(3)，用于在加工金属工件(2)时检查工具的完整性。检查系统(3)包括检测电路(18)，检测电路(18)包括电感器(4；64)，其具有设置在工具保持器附近的环形铁芯(7)和缠绕在环形铁芯上的绕组(9)。工具和该金属工件接触时，包括机床的支撑结构(1)的一部分并且其与电感器交叉设置的电路(C；C’)闭合，使允许检测接触的检测电路的电参数变化。检测电路具有半桥结构，其由相对彼此基本异相90°的交变激励电压供电且分别包括电感器和参考电阻器(25)的两个电阻支路，和用于生成检测信号并发送其到控制单元(10)的检测支路。优选地，参考电阻器电阻基本等于电感器阻抗。
用于检查工具完整性系统

[发明专利]用于检测膜的侧面的方法和光学检查单元-CN202180071592.4在审
发明人：翁贝托·卡拉里;弗朗切斯科·弗拉斯蒂耶里 -专利权人： 马波斯S·P·A·公司
申请日： 2021-10-19 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01N21/892 文献下载
摘要：一种光学检查单元和方法，用于检查沿着路径(P)前进的具有中心金属层(4)和两个绝缘外层(5)的膜(3)的侧面(2)。相机(7)相邻该路径(P)设置以通过光学系统(8)对该膜的侧面进行拍摄并获取数字图像序列(9)。至少一个照明装置(10)配置为产生照亮该膜的侧面的光束(11)。该光束由至少一个反射元件(14)朝向该光学系统部分地反射，并照亮围绕待检查的侧面的一个区域。该分析每个数字图像可能包括：基于该颜色分量的值识别该数字图像内的该中心金属层的多个碎片，和/或将该数字图像划分成一系列相邻部分(19)，确定每个部分中的定性参数的值，并通过对该值进行统计处理，获得整个数字图像的定性参数的概要值。
用于检测侧面方法光学检查单元

[发明专利]热像仪组件及含其的用于控制工业生产过程的控制系统和方法-CN202080076014.5在审
发明人：不公告发明人 -专利权人： 马波斯S·P·A·公司
申请日： 2020-11-20 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： G01J5/04 文献下载
摘要：热像仪组件(1)包括：提供热图图像和/或记录的热成像检测器(3)、容纳热成像检测器并包括具有透明屏(6)的窗口(5)的保护外壳(2)、布置在保护外壳中并提供指示物理量或状态的信号的一个或多个传感器(15、16、20、32、33)、布置在保护外壳中的一个或多个致动器(8、22、28)和集成在保护外壳中的控制单元(9)。控制单元直接连接到热成像检测器以接收热图图像和/或记录并将它们传输到外部，直接连接到传感器以接收相关的信号，并且直接连接到致动器以根据所接收的信号来控制致动器。控制单元能够管理和控制热像仪的所有部件与外部之间的通信。热像仪组件是用于控制工业生产过程的控制系统的一部分，并且用于相关控制方法中。
热像仪组件用于控制工业生产过程控制系统方法

[发明专利]用于在加工元件时检测该元件的厚度尺寸的仪器-CN201210510842.2有效
发明人： C·达拉利奥 -专利权人： 马波斯S·P·A·公司
申请日： 2008-07-18 - 公布日： 2013-04-10 - 主分类号： B24B37/013 文献下载
摘要：一种用于在磨削加工过程中检测半导体晶片（1）的厚度尺寸的仪器，该仪器包括光学探测器（3），该光学探测器将红外线辐射光束发射到被加工的晶片（1）的表面（2）上，并探测由所述表面、所述晶片的相对的表面（2’）和/或在晶片中用于分隔不同层的表面（2”，2”’）所反射的光束。发射和反射的光束沿通路（4）行进，所述通路（4）具有显著恒定的不连续性，其一部分穿过空气（15），另一部分通过基本以层流形式低速流动的液体垫（30）。所述光学探测器的支撑定位件（7）包括形成液体垫的液压管道（22，25）。一种用于检测厚度尺寸的方法包括沿发射和反射的光束的行进通路形成液体垫。
用于加工元件检测厚度尺寸仪器

[发明专利]用于在加工元件时检测该元件的厚度尺寸的仪器和方法-CN200880025321.X有效
发明人： C·达拉利奥 -专利权人： 马波斯S·P·A·公司
申请日： 2008-07-18 - 公布日： 2010-06-23 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：一种用于在磨削加工过程中检测半导体晶片(1)的厚度尺寸的仪器，该仪器包括光学探测器(3)，该光学探测器将红外线辐射光束发射到被加工的晶片(1)的表面(2)上，并探测由所述表面、所述晶片的相对的表面(2’)和/或在晶片中用于分隔不同层的表面(2”，2’”)所反射的光束。发射和反射的光束沿通路(4)行进，所述通路(4)具有显著恒定的不连续性，其一部分穿过空气(15)，另一部分通过基本以层流形式低速流动的液体垫(30)。所述光学探测器的支撑定位件(7)包括形成液体垫的液压管道(22，25)。一种用于检测厚度尺寸的方法包括沿发射和反射的光束的行进通路形成液体垫。
用于加工元件检测厚度尺寸仪器方法

[发明专利]用于计算机化数控机床的刀具补偿装置-CN200380104442.0有效
发明人： M·丹东尼奥 -专利权人： 马波斯S·P·A·公司
申请日： 2003-11-29 - 公布日： 2006-01-04 - 主分类号： B23Q15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测计算机数控机床内切削刀具位置的装置。根据本发明的优选实施例，外壳具有齿轮传动装置、止动器、驱动电动机和一对传感器。臂包括用于检测计算机数控机床内切削刀具位置的第一传感器，臂将第一传感器移到面向切削刀具的位置。齿轮传动装置与臂结合以在预定角度范围内在枢轴上转动臂。驱动电动机给齿轮传动装置提供驱动力以便在枢轴上转动连接到齿轮传动装置的臂。臂相对于蜗轮轴的轴线在预定角度范围内在枢轴上转动。当臂绕蜗轮轴的轴线以枢轴方式过度旋转时，止动器和蜗杆可以抑制臂在枢轴上转动。
用于计算机化数控机床刀具补偿装置

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