专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种多站交会定位方法和系统-CN202010513820.6有效
  • 李晓平;石春雷;杨文佳;马勇辉 - 北京环境特性研究所
  • 2020-06-08 - 2021-11-02 - G01C21/00
  • 本发明提供了一种多站交会定位方法和系统。本发明的多站交会定位方法包括:每个探测站点分别获取探测目标的方位俯仰角度信息;根据各个探测站点获取的探测目标的方位俯仰角度信息,确定探测目标的地心坐标系坐标信息。本发明的多站交会定位系统包括:多个探测站点和中央处理器;每个探测站点分别获取探测目标的方位俯仰角度信息;中央处理器,设置为根据各个探测站点获取的探测目标的方位俯仰角度信息,确定探测目标的地心坐标系坐标信息。本发明的上述一种多站交会定位方法和系统,能够进行多站交会,利用多站的冗余信息提高定位精度。
  • 一种交会定位方法系统
  • [发明专利]针对红外光学系统杂散辐射的定量测量误差校正方法-CN201910772965.5有效
  • 杨智慧;姜维维;郭聚光;马勇辉 - 北京环境特性研究所
  • 2019-08-21 - 2020-08-04 - G01J5/00
  • 本发明涉及一种针对红外光学系统杂散辐射的定量测量误差校正方法,包括:在红外光学系统的内部设置温度传感器;将红外光学系统置于恒温环境中进行辐射定标测量,记录定标体温度、响应值以及温度传感器的温度值;计算定标测量时总杂散辐射等效辐射亮度;根据定标体温度、响应值以及定标时总杂散辐射等效辐射亮度计算辐射定标的响应度和背景值;对目标进行测量,记录温度传感器的温度值和目标对应的响应值;根据记录的温度值,计算在测量时的总杂散辐射等效辐射亮度,结合目标对应的响应值以及响应度和背景值,计算得到修正后的目标等效辐射亮度。该方法可有效降低红外光学系统对目标的定量测量误差。
  • 针对红外光学系统辐射定量测量误差校正方法
  • [发明专利]一种红外测量系统自身杂散辐射的分析方法-CN201610390112.1有效
  • 杨智慧;姜维维;马勇辉 - 北京环境特性研究所
  • 2016-06-03 - 2018-08-14 - G01M11/02
  • 公开了一种红外测量系统自身杂散辐射的分析方法,包括:确定所述系统中的杂散辐射源,其中,所述杂散辐射源的总个数为N个,所述杂散辐射源包括:光学元件自身的热辐射、机械结构自身的热辐射;对于第i个杂散辐射源,计算其辐射面上辐射的、且能够被探测器接收的辐射功率φi;对φi的传输过程进行分析,计算其在探测器上的辐射照度Ei;计算N个杂散辐射源在探测器上的总辐射照度E。其中,N为大于1的整数,i=1,…N。本发明的方法能够对杂散辐射与温度的关系进行定量分析,从而可为不同温度下杂散辐射的抑制提供理论制导。进一步的,通过在不同温度下有效抑制杂散辐射,能够有效提高系统的测量精度。
  • 一种红外测量系统自身辐射分析方法

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