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- [发明专利]平板裂缝天线裂缝精密测量方法-CN200810017861.5无效
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段宝岩;陈光达;马洪波;李正大;谢鑫刚
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西安电子科技大学
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2008-04-09
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2008-09-03
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G01N21/88
- 本发明涉及一种光学测量设备,特别是一种平板裂缝天线裂缝精密测量方法,它至少包括图像提取装置,对图像提取装置提供的信息进行处理的计算单元,其特征是:A.初始化:1)建立数字图像象素与实际尺寸的对应关系;2)提取平板裂缝天线的图像信息;3)提取图像裂缝边缘信息;4)进行边缘点亚像素处理;5)存贮亚像素边缘点;B.实时检测:1)定时提取平板裂缝天线的图像信息;2)提取图像信息中的裂缝边缘信息;3)进行亚像素处理;4)与A中第4)条存贮相对应边缘点进行比较;5)当小于变化量时,重复B中的第1)条;6)当大于变化量时,给出提示信息。它能够在天线工作状态下测量,不会影响使用,测量精度高、成本低。
- 平板裂缝天线精密测量方法
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