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[实用新型]一种双排框架-CN202122956723.7有效
发明人：陈亮;陆康定;李嘉恒 -专利权人：扬州虹扬科技发展有限公司
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： H01L23/495 文献下载
摘要：本实用新型公开一种双排框架，涉及电子产品配件领域，其具体结构包括一体成型的框架本体，框架本体上包括：外边框段，外边框段间隔设置；基本单元，基本单元间隔设置于外边框段之间，且基本单元包括：连接段；载片基岛段，载片基岛段分别设置于连接段上、下两端；引脚段，一端与连接段连接，另一端朝向载片基岛段延伸；引脚段为四根，且引脚段两两分布于连接段的上、下两端，位于连接段上端的引脚段与位于连接段下端的引脚段错位设置。本实用新型解决了现有技术中引线框架稳定性差，易产生侧弯及变形状况的技术问题。
一种框架

[发明专利]一种二极管晶粒焊接合格品的筛选方法-CN202111325334.2在审
发明人：林俊;陈亮;陆康定 -专利权人：扬州虹扬科技发展有限公司
申请日： 2021-11-10 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开一种二极管晶粒焊接合格品的筛选方法，涉及二极管筛选方法技术领域，包括以下步骤：步骤S1：对待检测的二极管的晶粒通入正向电流IM，获得正向电压VF1，通电时间为t1；步骤S2：继续对步骤S1中所述的晶粒通入正向电流IT，通电时间为t2；步骤S3：断开所述正向电流IT，并重新通入正向电流IM，获得正向电压VF2，通电时间为t1；步骤S4：将步骤S1中的VF1和步骤S3中VF2带入公式：|VF1‑VF2|＝△VF中，计算得出△VF；步骤S5：与该类型合格品相同部位的晶粒的△VF’比较，以筛选出二极管是否为合格品。本发明解决了现有技术中二极管的空洞率检测成本高、效率低的技术问题。
一种二极管晶粒焊接合格品筛选方法