“铃木秀和”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果52个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]滚道圈部件的检查方法及检查装置-CN201980089706.0有效
发明人： 铃木秀和 -专利权人：日本精工株式会社
申请日： 2019-12-02 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01M13/04 文献下载
摘要：在进行了拍摄工序后，进行检测工序，并进一步进行评价工序，其中该拍摄工序中利用相机对滑动接触面的一部分或全部进行拍摄而得到原图像，该检测工序中对上述原图像实施检测加工纹的图像处理而得到检测图像，该评价工序中基于上述检测图像，推定在将滚道圈部件与其他的滚道圈部件组合而构成了滚动轴承的情况下，基于上述滚道圈部件与上述其他的滚道圈部件的相对旋转方向产生的、上述滚道圈部件相对于上述其他的滚道圈部件的旋转力矩之差。
滚道部件检查方法装置

[发明专利]电子显微镜-CN201880085852.1有效
发明人：菊池秀树;古津忠夫;斋藤浩一郎;铃木秀和;滑川亮史 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2018-03-23 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： H01J37/20 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种在由电子显微镜取得连续倾斜图像时更高速且高倍率地拍摄图像的技术。在本发明的电子显微镜中，具备固定于电子显微镜的镜体并相对于试样支架的前端所具备的球形支点滑动的第一球面承载件、设于镜体的球面部、以及设于镜体的外部的第二球面承载件，在球面部与第二球面承载件的接触部，球面部和第二球面承载件滑动，该滑动的轨道沿以第一球面承载件的中心轴为中心的球面设置，从而能够减少试样距观察位置的错开、焦点偏离。
电子显微镜

[发明专利]感应加热烹调器-CN202110017100.5有效
发明人： 铃木秀和;小川贤治;砂金宽;高桥知也 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2014-08-21 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： H05B6/06 文献下载
摘要：感应加热烹调器，感应加热烹调器(20)具有：顶板(23)，烹调容器(22)载置于该顶板上；加热线圈(24)，其设置于顶板(23)的下方；绝缘板(25)，加热线圈(24)载置于该绝缘板上；铁氧体(26)，绝缘板(25)载置于该铁氧体上；金属制的防磁板(27)，铁氧体(26)载置于该防磁板上；红外线传感器(29)，其设置于防磁板(27)的下方，检测从烹调容器(22)放射的红外线；外壳(30)，其由导电性材料制成，至少具有位于红外线传感器(29)的下方的底部(30b)和以包围红外线传感器(29)的周围的方式从底部(30b)起上方立起设置的侧壁部(30a)；以及间隔件(31)，其由具备电绝缘性的材料制成，在与防磁板(27)的下表面和外壳(30)的上端接触的状态下介于它们之间。
感应加热烹调

[发明专利]滚道圈部件的制造方法、滚动轴承的制造方法、轮毂单元轴承的制造方法以及车辆的制造方法-CN201980090158.3在审
发明人： 铃木秀和 -专利权人：日本精工株式会社
申请日： 2019-12-02 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： B24B5/18 文献下载
摘要：在进行无心磨削工序之后进行精整工序，该无心磨削工序中，使内圈(3)相对于磨石在规定方向上相对旋转，同时将所述磨石按压至内圈(3)的滑动接触面(10)，由此对滑动接触面(10)进行磨削，该精整工序中，实施用于在滑动接触面(10)上形成与在所述无心磨削工序中形成于滑动接触面(10)的磨削纹理交叉的方向上的磨削纹理、及/或提高滑动接触面(10)的表面粗糙度的加工。
滚道部件制造方法滚动轴承轮毂单元轴承以及车辆

[发明专利]图像处理系统、图像处理方法及计算机可读存储介质-CN201680083721.0有效
发明人：高田将人;庄原诚;铃木秀和;佐川幸威 -专利权人：株式会社理光
申请日： 2016-12-27 - 公布日： 2021-07-13 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：提供了一种图像处理系统，所述图像处理系统包括被配置为生成多个捕获图像的图像捕获装置，以及被连接到图像捕获装置的至少一个信息处理装置。所述信息处理装置输入来自图像捕获装置的多个捕获图像中的第一捕获图像和第二捕获图像，获取用于转换第一捕获图像的第一转换数据以及用于转换第二捕获图像的第二转换数据，并且通过对基于第一转换数据转换第一捕获图像及基于第二转换数据转换第二捕获图像而生成的转换图像进行拼接，来生成输出图像。
图像处理系统方法计算机可读存储介质

[发明专利]带电粒子束装置和试样加工观察方法-CN201910898398.8在审
发明人： 铃木秀和;麻畑达也 -专利权人：日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-09-23 - 公布日： 2020-04-28 - 主分类号： H01J37/26 文献下载
摘要：提供带电粒子束装置和试样加工观察方法，不用变更载台的尺寸便能够缩小电子束镜筒与试样之间的距离，从而得到高分辨率的SEM图像，并且能够得到正对试样的观察面的SEM图像。具有如下的工序：试样片形成工序，对所述试样照射聚焦离子束而从试样切出试样片；截面加工工序，利用试样片支承体对试样片进行支承，对试样片的截面照射聚焦离子束而进行截面的加工；试样片接近移动工序，利用试样片支承体对试样片进行支承，使试样片移动到比聚焦离子束的束光轴与电子束的束光轴的交点更接近电子束镜筒的位置；以及SEM图像取得工序，朝向试样片的所述截面照射电子束，从而取得截面的SEM图像。
带电粒子束装置试样加工观察方法

[发明专利]感应加热烹调器和烹调容器-CN201580009416.2有效
发明人：志智一义;牛尾将蔵;间宫佑介;小牟田孝博;铃木秀和 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2015-03-27 - 公布日： 2019-11-08 - 主分类号： H05B6/12 文献下载
摘要：感应加热烹调器(100)具有：主体(1)，其具有用于载置烹调容器的平坦的上表面；以及加热线圈(4)，其收纳于主体(1)，对所载置的烹调容器进行感应加热。在主体(1)的上表面设置有用于支承烹调容器的多个突起部(3)，以使得在所载置的烹调容器与主体(1)的上表面之间产生间隙。根据这种结构，可提供一种感应加热烹调器(100)，不需要特殊形状的烹调容器，即便汤汁溢出也不易产生糊粘且易于清洗。
感应加热烹调容器

[发明专利]带电粒子束装置和试样加工观察方法-CN201910126745.5在审
发明人：山本洋;酉川翔太;铃木秀和;铃木浩之;冈部卫;麻畑达也 -专利权人：日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-02-20 - 公布日： 2019-08-27 - 主分类号： H01J37/305 文献下载
摘要：提供带电粒子束装置和试样加工观察方法。提供如下的带电粒子束装置和使用该带电粒子束装置的试样加工观察方法，该带电粒子束装置具备镓离子束镜筒、具有半浸没透镜型的物镜的电子束镜筒和气体离子束镜筒，能够在短时间内高效地进行试样的精加工和试样加工面的高精度的SEM像取得。带电粒子束装置的特征在于，所述带电粒子束装置至少具有：镓离子束镜筒，其朝向试样照射镓离子束，形成所述试样的截面；电子束镜筒，其具有半浸没透镜型的物镜，朝向试样照射电子束；以及气体离子束镜筒，其朝向所述试样的截面照射气体离子束，进行所述试样的截面的精加工，所述气体离子束具有比所述试样的截面的最大直径大的波束直径。
带电粒子束装置气体离子束试样加工镜筒镓离子束电子束镜筒浸没透镜精加工物镜观察照射试样照射电子束波束

[发明专利]主轴装置-CN201680010014.9有效
发明人： 铃木秀和;石川敦史 -专利权人：日本精工株式会社
申请日： 2016-02-15 - 公布日： 2019-06-14 - 主分类号： B23Q11/12 文献下载
摘要：从喷出喷嘴向形成于主轴的径向中心部的、将主轴在轴向贯通的贯通孔的贯通孔内送入冷却气体。将冷却气体经由在主轴的轴向中间部的圆周方向多个部位设置的径向通气孔，送入到在主轴的轴向一端部至中间部的圆周方向多个部位设置的轴向通气孔，并在各轴向通气孔内流通，从排出孔排出。
主轴装置

[发明专利]感应加热烹调器-CN201480029274.1有效
发明人：小川贤治;高桥知也;砂金宽;铃木秀和 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2014-08-28 - 公布日： 2019-05-28 - 主分类号： H05B6/12 文献下载
摘要：感应加热烹调器(10)具有：加热线圈(16)；绝缘板(18)，加热线圈(16)载置于该绝缘板上；铁氧体(20)，绝缘板(18)载置于该铁氧体上；以及支承体(22)，其由非磁性金属材料制成，铁氧体(20)载置于该支承体上。支承体(22)具有用于将被载置于支承体(22)的上表面(22a)上的铁氧体(20)相对于该支承体(22)定位的凹凸部(22b)。
感应加热烹调

[发明专利]带电粒子束装置和控制方法-CN201711391373.6在审
发明人： 铃木秀和 -专利权人：日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2017-12-21 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： H01J37/26 文献下载
摘要：提供带电粒子束装置和控制方法。本发明的带电粒子束装置能够提高通过向试样照射带电粒子束进行的、与试样对应的作业的效率。该带电粒子束装置具有：照射部，其向试样照射带电粒子束；像形成部，其检测通过带电粒子束的照射而从试样产生的带电粒子，并形成基于该带电粒子的检测信号的图像；输入接受部，其接受观察条件；导出部，其根据所接受的观察条件和存储在存储部中的第一观察参数导出适于该观察条件的第二观察参数；以及控制部，其根据第二观察参数控制照射部。
带电粒子束装置观察条件照射带电粒子束带电粒子照射部观察带电粒子束输入接受部参数控制检测信号存储部导出部形成部导出照射存储图像检测

[发明专利]加热装置以及加热方法-CN201711015258.9在审
发明人：伊藤彻;铃木秀和 -专利权人：中央发条株式会社
申请日： 2013-03-13 - 公布日： 2018-03-06 - 主分类号： C21D1/34 文献下载
摘要：本发明提供一种加热装置以及加热方法,所述加热装置对含有金属的工件进行加热，所述加热装置包括第1加热器，所述第1加热器对工件中的第1部位进行加热；以及第2加热器，所述第2加热器对工件中的不同于所述第1部位的第2部位进行加热，所述第1加热器为通过对工件进行通电而使工件升温的电极部，所述第2加热器为显示比所述电极部高的电阻值并通过通电而发热的电阻体，所述第1加热器和所述第2加热器是一体的。与通过1个加热器对工件整体进行加热并使之升温的情况相比,本发明的加热装置能够使工件整体均匀升温。
加热装置以及方法

[发明专利]TEM样本制备方法-CN201310050889.X有效
发明人： 铃木秀和;中谷郁子 -专利权人：日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2013-02-08 - 公布日： 2017-06-06 - 主分类号： G01N1/32 文献下载
摘要：本发明提供了一种TEM样本制备方法。TEM样本制备方法包括将薄片样本放置在样本支架上从而该薄片样本的第一侧面与聚焦离子束镜筒相对，其中该第一侧面比该薄片样本的第二侧面离薄片样本内的所期望的观察对象更近；为了形成薄膜部，对于第一侧面的与该薄膜部相邻的区域设置将利用聚焦离子束对其进行蚀刻处理的处理区域，该薄膜部包括观察对象并且具有基本上平行于薄片样本的厚度方向的厚度方向；以及对于薄片样本的从其第一侧面延伸到其前表面的部分通过利用来自聚焦离子束镜筒的聚焦离子束照射处理区域执行蚀刻处理。
tem 样本制备方法

[发明专利]感应加热烹调器-CN201480029892.6在审
发明人： 铃木秀和;小川贤治;砂金宽;高桥知也 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2014-08-21 - 公布日： 2016-03-16 - 主分类号： H05B6/12 文献下载
摘要：感应加热烹调器(20)具有：顶板(23)，烹调容器(22)载置于该顶板上；加热线圈(24)，其设置于顶板(23)的下方；绝缘板(25)，加热线圈(24)载置于该绝缘板上；铁氧体(26)，绝缘板(25)载置于该铁氧体上；金属制的防磁板(27)，铁氧体(26)载置于该防磁板上；红外线传感器(29)，其设置于防磁板(27)的下方，检测从烹调容器(22)放射的红外线；外壳(30)，其由导电性材料制成，至少具有位于红外线传感器(29)的下方的底部(30b)和以包围红外线传感器(29)的周围的方式从底部(30b)起上方立起设置的侧壁部(30a)；以及间隔件(31)，其由具备电绝缘性的材料制成，在与防磁板(27)的下表面和外壳(30)的上端接触的状态下介于它们之间。
感应加热烹调

[发明专利]感应加热烹调器-CN201480001538.2有效
发明人： 铃木秀和;高桥知也;小川贤治;砂金宽;安藤俊平;横野政广;永田隆二;相原胜行;牛尾将蔵 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2014-03-10 - 公布日： 2015-02-25 - 主分类号： H05B6/12 文献下载
摘要：提供感应加热烹调器，加热线圈单元的支承结构简单、装配性容易，并且能够将顶板与加热线圈之间的距离高精度地维持固定，为此，配设在顶板下的外廓的对置的侧面构成为具有第一铅垂部、第一水平部和第二铅垂部，支承加热线圈的加热线圈支承部件配置成架设在外廓的对置的侧面的第一水平部之间，具有加热线圈的加热线圈单元构成为由第一水平部可靠地支承。
感应加热烹调

1
2
3
4
下一页»
尾页
共 52 条