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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一氧化碳或有机化合物的制造方法-CN202280014660.8在审
发明人：后藤琢也;公江仁一;铃木祐太;小笹健太郎;野崎纱矢;乔拉普山本笙真;矶贝智弘;岸川洋介;山内昭佳 -专利权人：学校法人同志社;大金工业株式会社
申请日： 2022-02-10 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： C25B3/26 文献下载
摘要：本发明提供一种一氧化碳或有机化合物的制造方法，其为在具有阳极电极、阴极电极和含有二氧化碳的电解液的电解还原装置中，将二氧化碳电解还原而得到一氧化碳或有机化合物的方法，上述电解液含有离子液体和水。
一氧化碳有机化合物制造方法

[发明专利]位移传感器以及状态监视方法-CN202280016918.8在审
发明人： 铃木祐太;金谷义宏;饭田雄介 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2022-01-17 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供能够适当地判定异常类别的位移传感器以及状态监视方法。位移传感器(10)具有：投光部(110)，其向检查区域投射光；受光部(120)，其接收由检查区域反射后的光，并输出受光波形；存储部(140)，其预先存储异常类别信息，所述异常类别信息是将受光波形所包含的多个特征信息与根据该多个特征信息预测的多个异常类别进行对应而得到的；特征信息提取部(131)，其基于由受光部输出的受光波形，提取至少两种以上的特征信息；异常类别判定部(132)，其基于提取的至少两种以上的特征信息，判定预先存储于存储部的异常类别信息的多个异常类别中的、至少一种以上的异常类别；以及输出部(133)，其输出判定的异常类别。
位移传感器以及状态监视方法

[发明专利]碳材料的制造方法-CN202280014415.7在审
发明人：后藤琢也;小林佑辅;乔拉普山本笙真;铃木祐太 -专利权人：学校法人同志社
申请日： 2022-02-14 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： C25B1/135 文献下载
摘要：本发明涉及一种碳材料的制造方法，其中，在具有阳极电极、阴极电极和含有二氧化碳的电解液的电解还原装置中，将二氧化碳电解还原而得到碳材料，其中，上述电解液包含离子液体。
材料制造方法

[发明专利]位移测量装置、测量系统及位移测量方法-CN201810151188.8有效
发明人：近藤智则;铃木祐太;的场贤一;金谷义宏 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-02-13 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明获得一种能够精度良好地测量到测量对象面的距离的位移测量装置、测量系统及位移测量方法。本发明的位移测量装置包括：投光部，产生光；传感器头，对测量对象物照射光，且接收所照射的光中在测量对象物的测量对象面反射的光；以及控制部，基于传感器头所接收的光，算出表示与测量对象面之间的距离的值。控制部是以所算出的值包含在预先设定的数值范围内为条件，将所算出的值作为表示到测量对象面的距离的值进行处理，且基于所算出的值，重新设定数值范围。
位移测量装置系统测量方法

[发明专利]测量系统以及测量方法-CN201811501835.X有效
发明人： 铃木祐太;椹木洋;近藤智则 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-12-10 - 公布日： 2021-04-20 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种测量系统与方法，其可提高测量周期及测量值的发送周期的设定自由度且具有高精度。测量系统(1)包括：控制装置(100)；以及测量装置(300)，以第1周期(Tb)来对测量对象进行测量，且将通过测量装置而获得的测量值发送至控制装置(100)。测量装置(300)使用以比第1周期(Tb)长的第2周期(Ta)而发送的帧(#K1、#K2、#K3)，将待发送的测量值、与包含待发送的测量值的个数信息的附加信息发送至控制装置(100)。控制装置(100)使用附加信息，生成将多个测量值按照时间序列排列而成的时间序列数据。
测量系统以及测量方法

[发明专利]移位测量装置、测量系统及移位测量方法-CN201810151233.X有效
发明人：近藤智则;铃木祐太;的场贤一 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-02-13 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种能够高精度地测量至测量对象面的距离的移位测量装置、测量系统及移位测量方法。本发明的移位测量装置具备：投光部，产生光；传感器头，对测定值与实际移位成为非线形的测量对象物，以在测量对象物的测量对象面形成焦点的方式照射光，且接收所照射的所述光中在所述测量对象面反射的光；存储部，存储着将传感器头与测量对象面之间的距离设为变量的函数；以及控制部，基于由传感器头所接收到的光的波长而算出距离。控制部将传感器头与测量对象物的测量对象面之间的距离设为变量的值，算出函数的值。控制部使用算出的函数的值，对算出的距离进行校正。
移位测量装置系统测量方法

[发明专利]测量系统、控制装置及测量方法-CN201711370635.0有效
发明人： 铃木祐太;椹木洋;近藤智则;金谷义宏 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2017-12-18 - 公布日： 2020-06-23 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种测量系统、控制装置及测量方法，能够高精度地生成表示测量对象的形状的信息。驱动装置将表示测量对象的位置的信息、与来自计时器的时刻信息相关联，并作为第1信息而输出，所述来自计时器的时刻信息表示获取表示所述位置的信息的时机。测量装置将通过对测量对象进行测量而获取的测量信息、与表示获取所述测量信息的时机的来自计时器的时刻信息相关联，并作为第2信息而输出。测量系统包括信息生成部件，所述信息生成部件基于一个或多个第1信息，算出与第2信息中所含的时刻信息相关联的位置，并且基于与共用的时刻信息相关联的、所算出的位置与测量信息的组合，生成表示测量对象的形状的信息。
测量系统控制装置测量方法

[发明专利]光学计测装置-CN201710472648.2有效
发明人：金谷义宏;近藤智则;铃木祐太 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2017-06-20 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：光学计测装置(3)具有：接口部(31)，其构成为接收从主装置(1)以固定的通信周期发送到工业网络(2)的同步信号，并且与同步信号同步地输出光学计测装置(3)的测定结果(测定值)和同步监视信号；以及计测部(32)，其构成为以相对于通信周期独立的测定周期执行光学测定而生成测定结果，并且生成同步监视信号。计测部(32)与开始测定后接口部(31)接收同步信号同步地，将同步监视信号设定为接通状态，在从接口部(31)输出测定结果的情况下，与接口部(31)接收同步信号同步地，将同步监视信号设定为断开状态。
光学装置

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