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[发明专利]一种粘尘装置的姿态校正方法和粘尘装置的姿态校正系统-CN202110871442.3有效
发明人：张超;张骏;邓柳明;陈锐钊 -专利权人：深圳明锐理想科技有限公司
申请日： 2021-07-30 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G06T7/70 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种粘尘装置的姿态校正方法，所述粘尘装置包括粘尘头，所述方法包括：夹持装置夹持粘尘装置运动至第一位置，所述第一位置位于相机的正上方；所述相机对所述粘尘装置进行取像，并将图像传输至存储器和/或处理器；所述处理器基于所述图像获取所述粘尘装置的垂直偏转角度；所述夹持装置根据所述垂直偏转角度对所述粘尘装置进行垂直偏转角度补偿。本发明实施例通过对粘尘装置进行检测获得粘尘装置的偏移值，然后让控制粘尘装置的夹持装置对粘尘装置基于偏移值进行相应的补偿校正，从而实现稳定可靠的粘尘，保证被除尘产品的产品质量。
一种装置姿态校正方法系统

[实用新型]一种耐腐蚀内墙漆层-CN202220113546.8有效
发明人：农小毅;邓柳明 -专利权人：浙江悦峥环保科技有限公司
申请日： 2022-01-17 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： E04F13/075 文献下载
摘要：本实用新型属于内墙漆技术领域，尤其是一种耐腐蚀内墙漆层，包括基层和乳胶漆层，所述基层与所述乳胶漆层之间设有防腐层，所述乳胶漆层的一侧覆盖有隔热层，所述隔热层的一侧覆盖有透气层，所述透气层的一侧覆盖有保护层。该耐腐蚀内墙漆层，通过设置防腐层，防腐层的材质为无机防腐漆，具有较好的耐久性和耐候性能，能够有效保护内部基层不受到腐蚀，从而更好的保护内墙，增加了漆层的使用寿命，并且无机防腐漆在使用过程中对环境无污染，达到耐腐蚀的同时保护环境的效果。
一种腐蚀内墙漆

[实用新型]一种仿负氧离子释放的漆层结构-CN202220120324.9有效
发明人：农小毅;邓柳明 -专利权人：浙江悦峥环保科技有限公司
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-08-16 - 主分类号： E04F13/04 文献下载
摘要：本实用新型属于涂料技术领域，尤其是一种仿负氧离子释放的漆层结构，包括基层，基层的上表面涂覆有第一释放层，第一释放层的上表面涂覆有第二释放层，第二释放层的上表面涂覆有第三释放层，第三释放层的上表面涂覆有第四释放层，第四释放层的上表面涂覆有第五释放层，第五释放层的上表面涂覆有第六释放层。该仿负氧离子释放的漆层结构，通过设置第一释放层、第二释放层、第三释放层、第四释放层、第五释放层和第六释放层，达到了通过多个释放层的配合使用，长时间释放高浓度的负氧离子。
一种仿负氧离子释放结构

[实用新型]一种地铁车站纵向水平施工缝防水构造-CN202220923002.8有效
发明人：倪海波;黄文琦;申学安;邓柳明;何武胜 -专利权人：浙江悦峥环保科技有限公司
申请日： 2022-04-21 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： E02D29/16 文献下载
摘要：本实用新型属于施工缝技术领域，尤其是一种地铁车站纵向水平施工缝防水构造，包括施工缝、先浇筑顶板节段和后浇筑顶板节段，所述先浇筑顶板节段和后浇筑顶板节段的上端均开设有凹槽，所述凹槽的内部设置有防水装置，所述防水装置包括检测层、透明板和干燥层，所述检测层遇水后变色。施工缝位于先浇筑顶板节段和后浇筑顶板节段之间，水在正常流动的时候会从防积水板内的导流槽通过，隔板内便于设置填充层，而通孔将凹槽内壁与填充层连通，以便让隔板外部的水分进入到填充层内的检测层进行检测，防水涂料层对水进行阻隔，水渗入到检测层内时，检测层的颜色会由白变蓝，透过透明板能够对检测层进行观察，以便在水渗入时及时发现。
一种地铁车站纵向水平施工防水构造

[实用新型]上下料设备-CN202122293882.3有效
发明人：张骏;邓柳明 -专利权人：深圳明锐理想科技有限公司
申请日： 2021-09-22 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： B65G47/82 文献下载
摘要：本实用新型实施例涉及自动化设备技术领域,尤其公开了一种上下料设备，包括：机架、输送机构、储存机构、升降机构以及推出机构，输送机构、升降机构以及推出机构设于机架，输送机构用于接收物料并将物料输送至上下料设备外；储存机构用于接收并储存物料；升降机构分别与输送机构及储存机构连接，用于驱动输送机构和储存机构升降；推出机构用于将物料推出储存机构。通过上述方式，本实用新型实施例能够驱动储存机构和输送机构到对接位，以使存储机构可以接收并储存物料，或者由推出机构将储存的物料推出至上下料设备外部；或者由输送机构将物料输送到上下料设备外部，从而实现上下料设备同时具有输送和储存两种功能。
上下设备

[发明专利]一种检测方法、装置以及光学检测设备-CN202111112842.2在审
发明人：张超;康豪;张骏;邓柳明 -专利权人：深圳明锐理想科技有限公司
申请日： 2021-09-18 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及半导体检测技术领域，公开了一种检测方法、检测装置以及光学检测设备，检测方法包括：控制光源向待测物品照射光束，光束经过待测物品反射部分穿过分光镜入射至第一图像采集装置，部分经过分光镜反射至第二图像采集装置；获取第一图像采集装置根据入射的光束所采集到的第一图像，以及，第二图像采集装置根据入射的光束所采集到的第二图像；分别对第一图像和第二图像进行二值图像处理；对进行二值图像处理后的第一图像和第二图像进行检测区域定位；对进行检测区域定位后的第一图像进行异物检测，以及，对进行检测区域定位后的第二图像进行金线检测。通过上述方式，本发明实施例能够实现对半导体材料表面的灰尘颗粒或者金线位置进行检测。
一种检测方法装置以及光学设备