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- [发明专利]一种小角度斜坡结构及其制作方法-CN202110548246.2在审
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陈思奇;焦继伟;费跃;刘京
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上海芯物科技有限公司
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2021-05-19
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2021-08-20
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B81C1/00
- 本发明实施例公开了一种小角度斜坡结构及其制作方法。该方法通过刻蚀待处理基底结构,在待处理基底结构内形成至少一个凹槽,在至少一个凹槽内填充牺牲材料,使至少一个凹槽的表面与待处理基底结构的表面齐平,在待处理基底结构的表面沉积第一薄膜层,刻蚀第一薄膜层,在第一薄膜层上形成开窗,开窗在待处理基底结构的表面的垂直投影位于牺牲材料在待处理基底结构的表面的垂直投影中,通过开窗释放凹槽内填充的牺牲材料,形成与凹槽对应的空腔,在第一薄膜层上沉积第二薄膜层,并填充开窗,形成具有密闭空腔的平面结构,利用气压差挤压平面结构至变形并形成斜坡,实现了可控的小角度斜坡结构,提高斜坡结构的稳定性和生产效率。
- 一种角度斜坡结构及其制作方法
- [发明专利]一种热电堆传感器及其制作方法-CN202110389144.0在审
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费跃;焦继伟;刘京;陈思奇
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上海芯物科技有限公司
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2021-04-12
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2021-07-09
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G01J5/20
- 本发明实施例提供一种热电堆传感器及其制作方法,热电堆传感器包括衬底、第一薄膜层、第二薄膜层、第三薄膜层、第一悬臂梁和第二悬臂梁;衬底包括凹槽区和环绕凹槽区的周边区;凹槽区内设置有第一支撑部和第二支撑部;凹槽区除第一支撑部和第二支撑部之外的区域的厚度小于周边区的厚度;第一薄膜层、第二薄膜层、第一悬臂梁和第二悬臂梁位于凹槽区;第三薄膜层位于周边区;第二薄膜层、第三薄膜层、第一悬臂梁和第二悬臂梁同层设置;第二薄膜层位于第一薄膜层远离衬底的一侧;第一薄膜层和第二薄膜层均用于吸收红外辐射。本发明实施例提供一种热电堆传感器及其制作方法,在不增加热电堆传感器尺寸的情况下,提高了热电堆传感器的灵敏度。
- 一种热电传感器及其制作方法
- [发明专利]一种红外热电堆传感器及红外体温计-CN202110389640.6在审
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费跃;焦继伟;刘京;陈思奇
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上海芯物科技有限公司
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2021-04-12
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2021-06-11
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G01J5/00
- 本发明实施例公开了一种红外热电堆传感器及红外体温计。该传感器包括封装结构、红外热电堆感测芯片以及滤光片,封装结构内具有容置空间,用于容置红外热电堆感测芯片,封装结构表面设置有第一开口,滤光片密封于第一开口上,封装结构内还设置有红外辐射挡板,红外辐射挡板位于红外热电堆感测芯片的入光侧,且设置有第二开口,第一开口和第二开口均位于红外热电堆感测芯片的红外光线的入射路径上,且第二开口小于或等于第一开口,红外辐射挡板用于阻挡封装结构本体产生的红外辐射,并透射由第一开口入射的红外辐射。本发明实现了减少封装结构本身的红外辐射的影响,提高在测温时探头受温度冲击后的测温精度,实现红外热电堆传感器的高稳定性。
- 一种红外热电传感器体温计
- [发明专利]一种半导体结构及其制作方法-CN202011624015.7在审
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焦继伟;刘京;费跃;陈思奇
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上海芯物科技有限公司
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2020-12-31
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2021-05-25
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B81B7/00
- 本发明公开了一种半导体结构及其制作方法。其中,半导体结构包括器件层、隔绝层、腐蚀阻挡层、自限制腐蚀腔、第一腐蚀腔和衬底,器件层位于衬底的第一侧,自限制腐蚀腔位于衬底的第二侧,隔绝层和腐蚀阻挡层位于自限制腐蚀腔靠近器件层的一侧,且自限制腐蚀腔位于隔绝层和腐蚀阻挡层所限定的空间内,第一腐蚀腔位于自限制腐蚀腔远离器件层的一侧,且第一腐蚀腔与自限制腐蚀腔连通。本发明提供的半导体结构及其制作方法,通过使衬底的第二侧的自限制腐蚀腔由衬底的第一侧形成腐蚀阻挡层所限定,使得衬底的第一侧和第二侧的图案均可在衬底的第一侧进行定位和对准,且自限制腐蚀腔不受双面光刻的误差影响,提高了自限制腐蚀腔和器件层的对准精度。
- 一种半导体结构及其制作方法
- [发明专利]一种压电风速计及其制作方法-CN202011630529.3在审
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焦继伟;刘京;费跃;陈思奇
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上海芯物科技有限公司
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2020-12-31
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2021-05-18
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G01P5/00
- 本发明公开了一种压电风速计及其制作方法。其中,压电风速计包括衬底以及位于衬底一侧的至少一个悬臂梁结构,悬臂梁结构包括依次位于衬底一侧的第一电极层、压电层、第二电极层和应力匹配薄膜,悬臂梁结构向远离衬底的一侧弯曲。本发明提供的压电风速计及其制作方法,通过在衬底一侧设置至少一个悬臂梁结构,且悬臂梁结构包括依次位于衬底一侧的第一电极层、压电层、第二电极层和应力匹配薄膜,利用悬臂梁结构在制造过程中第一电极层、压电层、第二电极层及应力匹配薄膜残余应力的不同,使得悬臂梁结构向远离衬底的一侧翘曲一定角度,从而应用于风速的测量,该压电风速计具有精度高、结构简单、成本低的优点。
- 一种压电风速计及其制作方法
- [发明专利]一种旋转结构的制备方法以及旋转结构-CN202010052774.4有效
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焦继伟;刘京;费跃;陈思奇
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上海芯物科技有限公司
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2020-01-17
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2021-02-09
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B81C1/00
- 本发明实施例提供了一种旋转结构的制备方法以及旋转结构,该方法包括:采用湿法腐蚀工艺制备第一半导体结构,其中,第一半导体结构包括位于第一表面的第一斜坡凹槽和位于第二表面的第二斜坡凹槽;第一斜坡凹槽的斜坡面和第二斜坡凹槽的斜坡面均为(111)晶面;制备包括独立设置的第一下电极连接单元和第二下电极连接单元的第二半导体结构;采用键合工艺,将第一半导体结构设置在第二半导体结构之上;在第一半导体结构的预设区域制备可旋转单元;在第一半导体结构的第一表面侧制备上电极、第一下电极和第二下电极。本发明实施例提供的技术方案,制备的斜坡面的倾斜角度可以做到很小,且制备工艺简单,提升斜坡面的制备灵活度。
- 一种旋转结构制备方法以及
- [发明专利]一种旋转结构的制备方法以及旋转结构-CN202010052068.X有效
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焦继伟;刘京;费跃;陈思奇
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上海芯物科技有限公司
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2020-01-17
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2021-01-12
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B81C1/00
- 本发明实施例提供了一种旋转结构的制备方法以及旋转结构,该方法包括:采用湿法腐蚀工艺制备第一半导体结构,其中,第一半导体结构包括位于第一表面的第一斜坡凹槽和位于第二表面的第二斜坡凹槽;第一斜坡凹槽的斜坡面和第二斜坡凹槽的斜坡面均为(111)晶面;采用湿法腐蚀工艺制备第二半导体结构,其中,第二半导体结构包括独立设置的第一半导体单元和第二半导体单元;在第一半导体结构的预设区域制备可旋转单元;上电极与可旋转单元电连接,第一下电极与第一半导体单元电连接,第二下电极与第二半导体单元电连接。本发明实施例提供的技术方案,制备的斜坡面的倾斜角度可以做到很小,且制备工艺简单,提升斜坡面的制备灵活度。
- 一种旋转结构制备方法以及
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