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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]数字千分尺-CN202310786376.9在审
发明人：松本光司;藤川勇二;谷中慎一郎;斋藤修 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2019-06-07 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01B3/18 文献下载
摘要：[问题]提供了一种数字千分尺，其适合于测量作为强磁体的待测对象物。[解决方案]该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部，测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧以便在远离砧座的方向上具有长度。测微螺杆由测微螺杆保持部保持，被设置成能够相对于砧座在轴向上进退，并且测微螺杆在一个端面上包括接触子。主体框架和测微螺杆由非磁性材料形成。
数字千分尺

[发明专利]数字千分尺-CN201980039557.7有效
发明人：松本光司;藤川勇二;谷中慎一郎;斋藤修 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2019-06-07 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01B3/18 文献下载
摘要：[问题]提供了一种数字千分尺，其适合于测量作为强磁体的待测对象物。[解决方案]该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部，测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧以便在远离砧座的方向上具有长度。测微螺杆由测微螺杆保持部保持，被设置成能够相对于砧座在轴向上进退，并且测微螺杆在一个端面上包括接触子。主体框架和测微螺杆由非磁性材料形成。
数字千分尺

[发明专利]空间精度校正方法和设备-CN201811532330.X有效
发明人： 谷中慎一郎;奈良正之 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2018-12-14 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种空间精度校正方法和设备。该方法通过使用由激光干涉仪测量的可测量长度值和由定位机构测量的空间坐标的测量值来校正定位机构中的定位误差。该方法包括：测量步骤，其中将固定到移位器的后向反射器移动到多个测量点，并且获取各测量点处的测量长度值和测量值；以及参数计算步骤，其中基于测量值、测量长度值和追踪型激光干涉仪的转动中心的坐标来计算校正参数。针对各测量线向测量长度值应用第一校正常数，并且针对各测量线向干涉仪的转动中心的坐标应用与第一校正常数不同的第二校正常数。
空间精度校正方法设备

[发明专利]空间精度校正方法和设备-CN201811531591.X有效
发明人： 谷中慎一郎;奈良正之 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2018-12-14 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：本发明提供一种空间精度校正方法和设备。该空间精度校正设备使用利用干涉仪测量的可测量长度值和利用用于将移动器移动到预定的一组空间坐标的定位器测量的移动体的一组空间坐标的可测量值来进行该定位器的空间精度校正。通过将移动体按顺序移动到多个测量点来获取各测量点的测量长度值和测量值，在多个测量点中的各测量点的测量长度值和测量值的测量之后对正在测量的多个测量点中的至少一个进行一次以上重复测量，并且在测量长度值的重复误差等于或大于阈值的情况下，再次测量多个点。
空间精度校正方法设备

[发明专利]基于跟踪式激光干涉仪的定位机械的检查方法及装置-CN201710644767.1有效
发明人： 谷中慎一郎;奈良正之 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2017-07-31 - 公布日： 2020-09-08 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明的基于跟踪式激光干涉仪的定位机械的检查方法，在通过使用激光束追随后向反射器的跟踪式激光干涉仪检查定位机械时，将通过定位机械(10)测定的测定点pi、pj的位置向量正交投影在通过跟踪式激光干涉仪(30)的旋转中心M的直线gk上所得的距离Δdij，C和通过跟踪式激光干涉仪(30)测定的距离Δdij，L进行比较，评价定位机械(10)的定位精度。由此，即使不严格地配置测定点，也可以高速、高精度地进行定位机械的检查。
基于跟踪激光干涉仪定位机械检查方法装置

[发明专利]追踪式激光干涉仪-CN200610107610.7有效
发明人： 谷中慎一郎;阿部诚;原慎一;武富尚之 -专利权人：三丰株式会社
申请日： 2006-07-26 - 公布日： 2007-01-31 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：一种追踪式激光干涉仪，向被测定体的后向反射器照射激光束，利用后向反射器返回方向反射的激光束的干涉检测后向反射器的位移，利用激光束光轴位置变化进行追踪，其具有：固定设置的基准球；以基准球中心为中心转动的滑架；设置在滑架上输出对应后向反射器位移的位移信号的激光干涉仪以及输出对应基准球和位移计相对位移的位移信号的位移计；从位移计输出的位移信号和激光干涉仪输出的位移信号算出以基准球为基准的后向反射器位移的数据处理装置；输出对应偏移量输出位置信号的位置检测装置；使偏移量为零控制滑架转动的控制装置。相对旋转机构的径向跳动可靠，不易受到基准球表面的瑕疵或尘埃的影响，实现了使用较廉价基准球的追踪式激光干涉仪。
追踪激光干涉仪

[发明专利]电火花加工电极-CN200410006607.7无效
发明人：原外满;谷中慎一郎 -专利权人：三丰株式会社
申请日： 2004-02-24 - 公布日： 2004-09-08 - 主分类号： B23H1/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种即使在精加工工序中可以通过改善放电生成率η、加快操作速度而适用于改善工件精加工表面质量的电火花加工电极，即使在时间宽度和放电脉冲电压被减少时也能维持放电生成率η。在一种通过在工件3和电极之间产生放电脉冲而进行电火花加工处理的电极1中，在电极上产生放电脉冲的部位包括放射性金属，或在上述部位附近的部位上包括放射性金属。被放射性金属发射出的射线对工件和存在于工件3和电极1之间的材料也就是所谓的处理液体施加影响，所述处理液体通常是纯水和油，从而促进所述物质的电解。因此，放电生成率η得到改善。
电火花加工电极

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