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[发明专利]在测试电路组件节点间短路时使用超节点的方法和设备-CN200710108496.4无效
发明人： 肯尼思·P·帕克;克里斯·理查德·雅各布森 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2007-06-19 - 公布日： 2008-12-24 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试电路组件节点间短路的方法，其包括解析电路设计数据以识别电路组件的节点的位置数据，以及使用位置数据将其中一些节点分类为一超节点的成员，其中超节点的每个成员不可能与其他任何成员短路。然后通过反复执行i)对包括超节点和电路组件的多个其他节点在内的一组节点中的一特定节点进行激励，和ii)在激励所述特定节点的同时将所述一组节点中至少一个其他节点接地，并监视流经所述特定节点的电流，从而对所述一组节点中的短路进行测试。当对超节点进行激励或接地时，所有作为所述超节点成员的节点都被激励或接地。如果通过被激励的节点之一检测到了电流，则指示电路组件有缺陷。还公开了其他实施例。
测试电路组件节点短路使用方法设备

[发明专利]用于测试一个或多个差分信令通道的开路的方法和装置-CN200710108610.3无效
发明人： 肯尼思·P·帕克 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2007-05-31 - 公布日： 2008-12-03 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：在一个实施例中，公开了一种用于测试差分信令通道的方法，该差分信令通道具有一对差分信号路径和限定差分对的界限的一对信号地，该方法包括：使差分波形的正和负相位在差分对的相应路径上被驱动，同时监视在电容性感测板中感生的信号，电容性感测板与通道的所有路径和地相邻并且电容性地耦合到所有这些路径和地；当被监视信号的幅度在第一范围内时，向用户指示在差分信令通道中没有开路缺陷；以及当被监视信号的幅度落在一个或多个第二范围内而不在所述第一范围内时，向用户指示在差分信令通道中存在开路。还公开了其他实施例。
用于测试一个多个差分信令通道开路方法装置

[发明专利]实现用于测试印刷电路板的可测性插头的方法和装置-CN200610099466.7无效
发明人：克里斯·R·雅各布森;肯尼思·P·帕克;迈伦·J·斯楚内德尔;泰业军 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2006-07-20 - 公布日： 2007-01-24 - 主分类号： G01R31/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种实现用于测试印刷电路板的可测性插头的方法和装置。该方法和装置通过使用实现来在电路组件的测试仪可达的信号节点和插座的没有到其可测信号节点的任何耦合的节点之间产生电容性耦合的电容性插座来得到插座的可测性。通常，通过在插座的信号节点与下述位置之间布线迹线和导孔来将耦合电容实现在插头中，其中所述位置很接近不可达插座节点使得它们彼此邻近而耦合在一起。
实现用于测试印刷电路板可测性插头方法装置

[发明专利]对电路器件进行不加电测试的方法和装置-CN200610087450.4无效
发明人： 肯尼思·P·帕克;克里斯·R·雅各布森 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2006-06-08 - 公布日： 2007-01-17 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种使用电容性引线框技术来检测电器件的接地节点上的开路缺陷的方法和装置。根据本发明的方法，用已知的源信号来激励可访问的信号节点，该节点电容性地耦合到接地节点。电容性传感板被电容性地耦合到电器件的被激励的节点和接地节点，并且被耦合到电容性传感板的测量设备电容性地感应所得到的信号。电容性地感应出的信号的值指示出接地节点和被激励的节点中的一个或两者上是否存在开路缺陷。
电路器件进行不加电测试方法装置

[发明专利]非接触测试和诊断不探查节点上的开路连接的方法和装置-CN200610076758.9无效
发明人： 肯尼思·P·帕克;迈伦·J·斯楚内德尔 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2006-04-18 - 公布日： 2007-01-10 - 主分类号： G01R31/04 文献下载
摘要：本发明提出了一种方法和装置，用于利用电容引线框架技术来检测电气设备的被测不探查节点上的开路缺陷。根据本发明的方法，利用已知的源信号来激励与被测不探查节点相邻的被探查节点。容性感测探针的传感器被容性耦合到至少电气设备的被测不探查节点和被探查节点，而耦合到容性感测探针的测量设备测量在探针的传感器和至少电气设备的不被探查节点和被探查节点之间的容性耦合信号。基于该容性感测信号的值、已知的预期的“无缺陷”容性感测信号测量结果、和/或已知的预期的“开路”容性感测信号测量结果，来判断电气设备的被测不探查节点上是否存在开路缺陷。
接触测试诊断探查节点开路连接方法装置

[发明专利]用于探测测试访问点结构的扭转夹具探头的方法和装置-CN200610001464.X无效
发明人： 肯尼思·P·帕克;克里斯·R·雅各布森 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2006-01-17 - 公布日： 2006-09-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于探测测试访问点结构的扭转夹具探头的方法和装置，该扭转夹具探头用于从焊珠探头的表面清除氧化物、残余物或其他污染物，并在电路内测试过程中探测印刷电路板上的焊珠探头。
用于探测测试访问结构扭转夹具探头方法装置

[发明专利]不使用感测板对固定和不可接触连接的非接触式测试方法-CN200610008054.8无效
发明人：迈伦·J·斯楚内德尔;肯尼思·P·帕克;克里斯·R·雅各布森 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2006-02-23 - 公布日： 2006-09-06 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于测试电器件的受到隐性测试的节点上的缺陷状况的方法。根据本发明的技术包括利用已知的源信号激励被容性耦合到受到隐性测试的节点的电器件的第一节点；并且容性感测被容性耦合到受到隐性测试的节点的电器件的第二节点上的信号。从被容性感测的信号中可以确定诸如短路或开路之类的缺陷状况。
使用感测板固定不可接触连接测试方法

[发明专利]用于制造和探测印刷电路板测试接入点结构的方法和装置-CN200510116908.X无效
发明人： 肯尼思·P·帕克;克里斯·R·雅各布森 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2005-10-25 - 公布日： 2006-06-07 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：本发明提出了一种用于制造和探测印刷电路板测试接入点结构的方法和装置。每个测试接入点结构导电地连接到测试接入点处的迹线，并且在印刷电路板的暴露表面之上，以对于夹具探针的探测是可接入的。测试接入点结构可以被设计并制造来在利用夹具探针对测试接入点结构进行初始探测时，允许测试接入点结构变形，以保证夹具探针和测试接入点结构之间的电接触。
用于制造探测印刷电路板测试接入结构方法装置

[发明专利]对不可达短路连接进行非接触测试和诊断的方法与装置-CN200510085419.2无效
发明人： 肯尼思·P·帕克 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2005-07-18 - 公布日： 2006-05-10 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种方法和装置，用于使用电容引线框架技术，对电子器件(例如，集成电路)的可达和不可达信号节点(例如，集成电路管脚)之间的短路进行检测。根据本发明的方法，用已知源信号激励被测可达节点。电容传感极板被容性耦合到该电子器件的可达节点和不可达节点中的至少一个，并且耦合到电容传感极板的测量设备容性感测出现在电子器件的可达节点和不可达节点中的至少一个上的信号。基于容性感测信号的值、已知的预期“无缺陷”容性感测信号测量值和/或预期“短路”容性感测信号测量值，可以确定在电子器件的可达节点和不可达节点之间是否存在短路故障。
不可短路连接进行接触测试诊断方法装置

[发明专利]用于探测测试接入点结构的摆动固定探针的方法和装置-CN200510116907.5无效
发明人： 肯尼思·P·帕克;里查德·W·大里瓦斯 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2005-10-25 - 公布日： 2006-05-03 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于清除珠状探测点表面上的氧化物、残留物或其他污染物，并在在线测试期间探测印刷电路板上的珠状探测点的擦扫固定探针的方法和装置。
用于探测测试接入结构摆动固定探针方法装置

[发明专利]用于探测测试接入点结构的扭曲固定探针的方法和装置-CN200510109585.1无效
发明人： 肯尼思·P·帕克;克里斯·R·雅各布森 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2005-10-26 - 公布日： 2006-05-03 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于在在线测试期间清除焊料珠状探测点表面上的氧化物、残留物或其他污染物，并探测印刷电路板上的焊料珠状探测点的扭曲固定探针。
用于探测测试接入结构扭曲固定探针方法装置

[发明专利]测试诊断通过区域阵列集成电路的电通路的方法和设备-CN200410103588.X无效
发明人： 肯尼思·P·帕克;努尔韦特·S·德夫南尼 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2004-12-30 - 公布日： 2005-11-09 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种能够测试通过电路组件的区域阵列封装的电通路的设备。所述设备可以包括在所述区域阵列封装上的测量访问目标，其中所述测量访问目标连接到所述区域阵列封装的信号路由层中的填充金属。还公开了一种用于测试通过电路组件区域阵列的电通路的连续性的方法。在所述方法中，激励所述电路组件的一个或多个节点；将测试探头耦合到所述区域阵列封装上的测量访问目标，其中所述测量访问目标与所述区域阵列封装的所述信号路由层中的填充金属相连接；并且通过耦合到所述测试探头的测试器来测量电特性，以判断通过所述电路组件的所述区域阵列的电通路的连续性。
测试诊断通过区域阵列集成电路通路方法设备

[发明专利]非接触式测试与诊断电通路的方法和装置-CN200510005134.3无效
发明人： 肯尼思·P·帕克;克里斯·R·雅各布森;迈伦·J·施奈德 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2005-01-28 - 公布日： 2005-11-02 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种能够测试通过电路组件的电通路的设备。该设备可以包括用于对所述电路组件的连接器进行测试的非接触式连接器测试探头。还公开了一种测试通过电路组件的电通路的连续性的方法。在该方法中，激励电路组件的一个或者多个节点，将电路组件上连接器的连接器引脚电容性耦合到非接触式连接器测试探头，并且通过耦合到非接触式连接器测试探头的测试器来测量电特性，以判断通过电路组件的电通路的连续性。
接触测试诊断通路方法装置

[发明专利]集成电路插座发运操纵封盖中的测试结构及测试方法-CN200410086661.7无效
发明人： 肯尼思·P·帕克 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2004-12-10 - 公布日： 2005-11-02 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明给出了一种能够测试通过电路组件的电通路的设备。该设备可以包括用于电路组件的插座的方便测试的发运及操纵封盖。该方便测试的发运及操纵封盖可以具有用于在测试期间电容性耦合到插座中的引脚阵列的导电层。本发明给出了一种用于测试通过电路组件的电通路的连续性的方法。在该方法中，激励电路组件的一个或多个节点，将电路组件上插座的触点与和该插座匹配的发运及操纵封盖的导电层电容性耦合，并由耦合到该发运及操纵封盖的测试器来测量电特性，以确定通过该电路组件的电通路的连续性。
集成电路插座发运操纵中的测试结构方法

[发明专利]诊断电路组件连接器的电路径中的缺陷位置的方法和装置-CN200410048191.5无效
发明人： 肯尼思·P·帕克;努尔韦特·苏文迪·德夫南尼 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2004-06-21 - 公布日： 2005-05-11 - 主分类号： G01R31/312 文献下载
摘要：本发明提供了诊断电路组件连接器的电路径中的缺陷位置的方法和装置。在用于测试经过连接器的电路径的一致性的方法中，连接器的成对触点经由第一多个无源电路元件被耦合。触点还经由第二多个无源电路元件被耦合到测试传感器端口，其中第二多个无源电路组件的各个被并联地耦合到测试传感器接口。所述方法进行对连接器的一个或多个节点的激励，然后经由测试传感器端口测量电特性。最后，所测得的电特性与至少一个阈值相比较，以评价经过连接器的至少两个电路径的连续性。
诊断电路组件连接器路径中的缺陷位置方法装置

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