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[发明专利]信息处理设备和显微镜系统-CN202080017375.2在审
发明人：池田宪治;岸井典之;中钵秀弥;田口步;中川和博;安川咲湖 -专利权人：索尼集团公司
申请日： 2020-02-26 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明使得可以更合适地进行荧光分离。根据一个实施例的信息处理设备设置有：荧光信号获取单元(112)，其获取分别对应于多个激发光的多个荧光光谱，多个激发光具有相互不同的波长，并且照射通过用荧光试剂(10)对样本(20)进行染色而制备的荧光染色样本(30)；链接单元(131)，其在波长方向上链接多个荧光光谱中的至少一些，以生成链接的荧光光谱；分离处理单元(132)，其使用包括链接的自发荧光参考光谱和链接的荧光参考光谱的参考光谱将链接的荧光光谱分离成每个荧光材料的光谱，在链接的自发荧光参考光谱中，样本中的自发荧光材料的光谱在波长方向上链接，在链接的荧光参考光谱中，荧光染色样本中的荧光材料的光谱在波长方向上链接；以及提取单元(132)，其使用由分离处理单元分离的每个荧光材料的光谱来更新链接的自发荧光参考光谱。
信息处理设备显微镜系统

[发明专利]信息处理装置、信息处理方法、信息处理系统以及程序-CN201980047367.X在审
发明人：中川和博;田口步;中钵秀弥 -专利权人：索尼公司
申请日： 2019-07-05 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：提供了一种信息处理装置(100)，包括：图像获取单元(112)，获取用荧光染料试剂(10)染色的样本(20)的捕获图像信息；信息获取单元(111)，获取关于荧光染料试剂(10)的信息；校正单元(131)，使用衰落系数来校正捕获图像信息中的亮度，所述衰落系数包括在关于荧光染料试剂(10)的信息中，并且指示荧光染料试剂(10)的荧光强度降低的容易程度；以及计算单元(132)，使用校正后亮度来计算捕获图像信息中的对应于荧光分子的信息。
信息处理装置方法系统以及程序

[发明专利]图像传感器、其制造方法及检查装置-CN201280039991.3在审
发明人： 田口步 -专利权人：索尼公司
申请日： 2012-08-01 - 公布日： 2014-04-16 - 主分类号： H01L27/14 文献下载
摘要：[问题]为了提供具有高光收集效率和低像素间串扰的图像传感器，其制造方法及检查装置。[解决方案]一种图像传感器包括：光源转换单元，其还包括多个光接收元件，并将所接收的光转换为电信号；多个透镜，其位于每个光接收器件的直接上方，并收集向位于其直接下方的光接收元件的光；以及绝缘层，其在透镜上方形成，并且由半透明材料形成。检测区域被布置为分别对于每个光接收元件彼此分离地在绝缘层的表面上形成，并且其的中心位于连接每个光接收元件的光接收部件的中心和直接位于其上方的透镜的中心的延长线上。用于检测的样本固定在至少所述检测区域处。
图像传感器制造方法检查装置

[发明专利]发光强度测量装置-CN201210020091.6有效
发明人： 田口步 -专利权人：索尼公司
申请日： 2012-01-20 - 公布日： 2012-08-01 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种发光强度测量装置，包括：光接收单元，与具有其中容纳样本的多个间格的生物芯片相对地设置，并且包括排列的多个光接收元件；和确定部，基于预先获得的光接收元件的噪声特性来确定每一光接收元件的权重比。该发光强度测量装置还包括：乘算部，将每一光接收元件的输出乘以权重比以计算每一光接收元件的加权输出；和加算部，将与间格中的一个分别相对的光接收元件的加权输出相加。
发光强度测量装置

[发明专利]图像传感器、制造图像传感器的方法以及传感器设备-CN201010599279.1有效
发明人：河西弘人;皆川达也;安芸祐一;桥本诚;田口步;山崎刚;市村功;前田圭一 -专利权人：索尼公司
申请日： 2010-12-21 - 公布日： 2011-06-29 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明提供了一种图像传感器、制造图像传感器的方法以及传感器装置。该图像传感器包括：光电转换部，包括光接收元件；以及井区，由整体地形成在光电转换部上的壁结构限定，其中，井区被定位成与光电转换部的光接收元件相对应。
图像传感器制造方法以及传感器设备

[发明专利]物体检测系统及物体检测方法-CN201010231427.4无效
发明人： 田口步 -专利权人：索尼公司
申请日： 2010-07-20 - 公布日： 2011-02-09 - 主分类号： G03H1/00 文献下载
摘要：本发明提供了物体检测系统及物体检测方法，该物体检测系统包括：光发射部，它用于向物体发射呈二维图案的光；光扫描块，它用于通过在预先确定的空间内连续地改变所述呈二维图案的光的发射方向来执行扫描操作；光反射体，它附设在所述物体上的预定位置处以用作检测对象，并用于将所述呈二维图案的光沿着与所述呈二维图案的光的所述发射方向相反的方向反射；反射光检测部，它用于检测被所述光反射体反射而成为到达所述反射光检测部的光的所述光；以及反射光分析部，它用于基于代表着被所述反射光检测部检测到的所述反射光的信号，来计算所述光反射体的垂直方向角度和水平方向角度。本发明的系统及方法能够更简单且更精确地对物体的移动进行检测。
物体检测系统方法

[发明专利]电子器件芯片及其集合、衍射光栅光调制器及其集合-CN200510097900.3无效
发明人： 田口步;西田真达;伊藤康幸;玉田仁志 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2005-09-02 - 公布日： 2006-03-08 - 主分类号： G02B26/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种衍射光栅光调制器，其包括在衬底上形成的多个衍射光栅光调制元件，每一衍射光栅光调制元件包括：下部电极、支撑于下部电极之上的类似带状的固定电极和可移动电极、以及电连接于可移动电极的暴露的连接端子(用于与外部电路电连接)，在向下部电极施加电压的同时，所述固定电极和可移动电极构成了一个衍射光栅，所述衍射光栅光调制器具有围绕所述连接端子的保护电极，使得所述衍射光栅光调制元件确定能够避免受到静电的损坏。
电子器件芯片及其集合衍射光栅调制器