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[发明专利]读重试测试方法、装置、可读存储介质及电子设备-CN202110724696.2有效
发明人：孙成思;孙日欣;王营许;高嵊昊;胡伟;朱渝林 -专利权人：成都佰维存储科技有限公司
申请日： 2021-06-29 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本发明公开一种读重试测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，根据接收的待测闪存的读重试功能的测试请求以块为单位对所述待测闪存的目标操作模式进行遍历，直至遍历完所述目标操作模式中的所有块；对于遍历到的目标块中的预设目标页进行读操作，得到目标原始数据；基于所述目标原始数据对所述预设目标页的数据进行位翻转，得到位翻转后的预设目标页；读取所述位翻转后的预设目标页的数据，得到读取结果，并根据所述读取结果得到所述读重试功能的测试结果，以此强制修改数据来进行位翻转的构造，从而触发主控的读重试功能并对其进行测试，提高了测试读重试功能的效率。
重试测试方法装置可读存储介质电子设备

[发明专利]范围查询方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备-CN202110193211.1有效
发明人：孙成思;孙日欣;胡伟;王营许 -专利权人：成都佰维存储科技有限公司
申请日： 2021-02-20 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： G06F16/22 文献下载
摘要：本发明公开一种范围查询方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备，包括：将数据存储地址的范围信息按照B+树结构进行存储；接收范围查询请求；根据所述范围查询请求在所述B+树中进行遍历并反馈对应的结果；本发明通过将数据存储地址的范围信息按照B+树结构进行存储，并基于B+树结构的特性进行查询，相对于现有技术中的建立索引方式，可以节省大量的索引空间，相对现有技术中的区间排序方式，查询性能更加稳定，从而实现了既可以提供稳定高效的查询性能，同时又可以节省大量的缓存空间。
范围查询方法装置计算机可读存储介质电子设备

[发明专利]闪存数据保存分析方法、装置、可读存储介质及电子设备-CN202011456338.X有效
发明人：孙成思;孙日欣;王营许;胡伟;朱雨林;童海涛 -专利权人：成都佰维存储科技有限公司
申请日： 2020-12-11 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明提供的一种闪存数据保存分析方法、装置、可读存储介质及电子设备，从待分析的闪存设备中随机选取待分析的读重试的逻辑地址集合，随机划分为多个逻辑地址子集合，对每个子集合进行数据分析，比较读重试控制策略修改前后对应的出现读重试的逻辑地址的个数，分别得到对应的数据分析结果，根据各个子集合对应的数据分析结果和读重试修改前后的数据分析结果，得到最终分析结果，以此提高了数据分析处理流程的全面性，通过数据分析处理流程中不同数据分析方法得到的多个数据分析结果来综合分析读重试现象出现的原因是否为数据保存问题，提高了判断出现读重试现象原因的准确度，为后续采取解决措施提供了依据，进一步提升了闪存设备的读性能。
闪存数据保存分析方法装置可读存储介质电子设备

[实用新型]具有防脱焊功能的排针及PCB板-CN202120990913.8有效
发明人：孙成思;孙日欣;王营许;林小龙;高嵊昊;胡伟 -专利权人：深圳佰维存储科技股份有限公司
申请日： 2021-05-10 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： H01R12/58 文献下载
摘要：本实用新型公开一种具有防脱焊功能的排针，包括绝缘座和插针，绝缘座上构造有用于供插针贯穿的安装孔，插针包括相互连接的第一针段和第二针段，第一针段的横截面面积大于第二针段的横截面面积，第二针段的横截面面积小于或等于安装孔的面积。本实用新型实施例所提出的具有防脱焊功能的排针，其所包括的排针具有第一针段和第二针段，第一针段的横截面面积大于第二针段的横截面积，而第二针段的横截面面积则小于或等于安装孔的面积，如此，在将排针的第二针段穿插于绝缘座上后，第一针段将卡持于安装孔处，使得排针无法朝向焊锡所在位置移动，也即：排针在受到外力作用时，此外力不会作用于焊锡或焊盘上，从而保证不会出现焊锡或焊盘脱落的情况。本实用新型还公开一种包括上述排针的PCB板。
具有防脱焊功能 pcb

[发明专利]纠错能力测试方法、装置、可读存储介质及电子设备-CN202110724166.8在审
发明人：孙成思;孙日欣;王营许;高嵊昊;胡伟;朱渝林 -专利权人：成都佰维存储科技有限公司
申请日： 2021-06-29 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G11C29/42 文献下载
摘要：本发明公开一种纠错能力测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，根据接收的纠错能力的测试请求读取待测闪存的预设目标页的数据，得到目标数据，并根据测试请求中的操作指向设置指令将待测闪存的操作指向设置为页寄存器；从目标数据中随机选取任一位，得到目标位，并基于目标位对目标数据对应的预设目标页进行位翻转，得到位翻转后的预设目标页；读取位翻转后的预设目标页的数据，得到读取结果，并根据读取结果判断是否读失败，若是，则基于位翻转后的预设目标页确定待测闪存的纠错能力测试结果，否则，返回执行所述从所述目标数据中随机选取任一位步骤，从而在不损伤闪存颗粒的同时，提高了纠错能力测试的准确性。
纠错能力测试方法装置可读存储介质电子设备

[发明专利]坏块筛选方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备-CN202110318394.5在审
发明人：孙成思;孙日欣;王营许;高嵊昊;胡伟;朱渝林;童海涛 -专利权人：成都佰维存储科技有限公司
申请日： 2021-03-25 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开一种坏块筛选方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备，多次读取NAND闪存的待筛选块的当前页的原始数据，得到第一数据集合；基于所述第一数据集合与标准原始数据得到比特翻转个数集合；判断所述比特翻转个数集合中任一比特翻转个数是否超过第一预设阈值，若是，则将所述当前页对应的待筛选块标记为坏块，若否，则判断所述比特翻转个数集合是否为稳定状态，若否，则将所述当前页对应的待筛选块标记为坏块，将比特翻转的概率性转换成了确定性趋势，基于比特翻转个数集合进行坏块判断，有效防止了比特翻转概率性导致遗漏统计比特翻转个数的情况，能够更准确地筛选坏块，避免了坏块遗漏。
筛选方法装置计算机可读存储介质电子设备

[发明专利]坏块筛选方法、装置、可读存储介质及电子设备-CN202110255826.2在审
发明人：孙成思;孙日欣;王营许;高嵊昊;胡伟;朱渝林;童海涛 -专利权人：成都佰维存储科技有限公司
申请日： 2021-03-09 - 公布日： 2021-06-25 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开一种坏块筛选方法、装置、可读存储介质及电子设备，在对NAND闪存的待筛选块执行擦写读操作的过程中，确定所述待筛选块中当前页的第一比特翻转个数；判断所述第一比特翻转个数是否超过第一预设阈值，若是，则多次读取所述当前页的原始数据，根据多次读取结果确定所述当前页的第二比特翻转个数；根据所述当前页的原始数据确定存储单元测试率，并根据所述第二比特翻转个数与所述存储单元测试率确定所述当前页的第三比特翻转个数；判断所述第三比特翻转个数是否超过第二预设阈值，若是，则将所述当前页对应的待筛选块标记为坏块，有效防止了遗漏统计比特翻转个数，能够更准确地筛选坏块，避免了坏块遗漏。
筛选方法装置可读存储介质电子设备

[发明专利]NAND指令调度方法、装置、可读存储介质及电子设备-CN202110208069.3在审
发明人：孙成思;孙日欣;王营许;高嵊昊;胡伟;朱渝林;童海涛 -专利权人：成都佰维存储科技有限公司
申请日： 2021-02-24 - 公布日： 2021-05-18 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明公开一种NAND指令调度方法、装置、可读写存储介质及电子设备，当接收指令调度请求后，根据所述指令调度请求遍历等待队列中的成员命令，且对于遍历到的当前成员命令，判断其所属的逻辑单元是否空闲，若是，则调度所述当前成员命令，若否，则不调度；通过对等待队列中的成员命令所属的逻辑单元进行状态判断，当逻辑单元状态为空闲时则对当前成员命令进行调度，从而能够优先将逻辑单元状态为空闲状态的成员命令进行调度，最大化利用总线带宽对指令进行调度，避免了按照顺序调度时无法最大化利用总线的带宽，出现逻辑单元空闲而执行队列中没有对应的成员命令可以调度的情况，造成总线资源浪费、指令调度效率低的问题，从而提升NAND指令调度效率。
nand 指令调度方法装置可读存储介质电子设备

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