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- [发明专利]光矢量分析方法及装置-CN202211224670.2在审
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王祥传;陈旭峰;潘时龙;李树鹏;汤晓虎;王立晗;刘熙;薛敏
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南京航空航天大学
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2022-10-09
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2022-12-27
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H04B10/071
- 本发明公开了一种光矢量分析方法，用于对并联于光链路中的复数个待测器件的幅相频率响应同时进行测量；该方法包括以下步骤：用步进频微波信号对光脉冲信号进行单边带调制，生成步进频光脉冲信号；以其作为探测光信号输入光链路，并对返回光信号进行光电探测，得到携带复数个待测器件的频率响应信息的电信号；以步进频微波信号作为参考，通过加窗的方式从所述电信号中将各个待测器件的时域脉冲响应分别选出，并对每个待测器件在各个频率处的时域脉冲响应做短时傅里叶变换，得到各待测器件在频域上的幅相响应。本发明还公开了一种光矢量分析装置。本发明可对复数个器件的幅相响应同时进行测量，且可同时保证具有高时域分辨率和高频率分辨率。
- 矢量分析方法装置
- [发明专利]一种光器件频响测量方法及测量装置-CN202011122563.X有效
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潘时龙;卿婷;曹美会;李树鹏;方奕杰;王立晗
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南京航空航天大学
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2020-10-20
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2022-02-01
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G01M11/02
- 本发明公开了一种光器件频响测量方法，将频率为ω1的第一微波信号和频率为ω2的第二微波信号分别调制于频率为ω0、ω0+Δω的两路光载波上，生成两路奇数阶被抑制的二阶双边带信号；将所述两路二阶双边带信号耦合后分为两路，一路作为参考路直接光电转换为参考路电信号，另一路作为测试路，经过待测光器件后光电转换为测试路电信号；以参考路电信号中的+2阶频率分量Δω+2(ω2‑ω1)和‑2阶频率分量Δω‑2(ω2‑ω1)作为参考，提取测试路电信号中这两个频率分量处的光电流，然后计算出待测光器件在频率处、频率处的幅度响应和时延响应。本发明还公开了一种光器件频响测量装置。相比现有技术，本发明可大幅提高测量精度和测量范围，且降低对硬件的性能要求。
- 一种器件测量方法测量装置
- [发明专利]光时延测量方法及装置-CN202111248271.5在审
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王祥传;刘熙;潘时龙;王立晗;汤晓虎;陈旭峰;郭照鑫
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南京航空航天大学
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2021-10-26
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2021-12-31
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H04B10/077
- 本发明公开了一种光时延测量方法，用两路不同频率的微波信号对同一路窄线宽光载波进行多边带调制，所述两路微波信号的频率差与待测光时延的乘积小于等于二分之一；将所生成的调制光信号分为两路，一路经过待测光链路作为测量路，另一路不经过待测光链路作为参考路，对测量路和参考路光信号分别进行光电转换，得到两路具有多个稀疏波长簇且每一个波长簇中包含多个密集频率分量的多频微波信号；在数字域中提取出至少两个相邻稀疏波长簇中多个不同频率分量在两路多频微波信号中的相位差，并依据所述相位差使用相推法解算出待测光时延。本发明还公开了一种光时延测量装置。相比现有技术，本发明具有测量稳定度高，测量速度快，结构简单的优点。
- 光时延测量方法装置
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