专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种表面贴片电子元器件静态检测夹具-CN202221956507.0有效
  • 卢盛仁;黄玉明;杨天纯 - 深圳市兔拉检测科技有限公司
  • 2022-07-27 - 2023-02-14 - B25H1/08
  • 本实用新型提供了一种表面贴片电子元器件静态检测夹具,包括:检测台、左夹持结构、右夹持结构和顶座;检测台安装在安装座的上端面中部,且安装座的上端面后端垂直固定有后侧板;顶座固定在后侧板上;左夹持结构活动设置在安装座和检测台的左部之间;右夹持结构活动设置在安装座和检测台的右部之间,所述左夹持结构和右夹持结构关于检测台的中心线呈左右对称,且左夹持结构和右夹持结构设置一致;所述安装座的下端面四个拐角处均设置有一组支撑腿,且支撑腿的底部安装有支脚。本实用新型方便对电子元器件进行灵活夹持,且可翻转移动活动,有助于检测更全面准确,同时可对不同规模的电子元器件进行夹持检测,检测范围更广泛。
  • 一种表面电子元器件静态检测夹具
  • [实用新型]一种电池管理芯片老化试验装置-CN202222100428.6有效
  • 袁田金;黄玉明;杨天纯 - 深圳市兔拉检测科技有限公司
  • 2022-08-10 - 2022-12-27 - G01R31/28
  • 本实用新型提出一种电池管理芯片老化试验装置,包括箱体、控制器、两个加热装置、放置架组件、抽风机,箱体内设有老化腔、放置腔、循环腔道,老化腔与放置腔导通,循环腔道的首尾两端分别与放置腔、老化腔导通,两个加热装置分别设置于老化腔的两对称腔壁上,放置架组件与箱体滑动连接并部分收容于老化腔内且遮挡老化腔,抽风机固定收容于放置腔内并位于一个加热装置的一侧,控制器固定连接于箱体的一侧并分别与两个加热装置、抽风机电连接;本电池管理芯片老化试验装置能够有效地缩减高温老化测试时的温度差异,有利于企业工人高效率使用。
  • 一种电池管理芯片老化试验装置
  • [实用新型]一种用于电子元器件检测的定位装置-CN202222100454.9有效
  • 卢盛仁;黄碧康;江佳恩 - 深圳市兔拉检测科技有限公司
  • 2022-08-10 - 2022-12-27 - G01R1/04
  • 本实用新型提出一种用于电子元器件检测的定位装置,包括固定架、升降装置、定位机构、摄像机、控制器,固定架内设有放置槽,升降装置固定收容于放置槽内,定位机构收容于放置槽内并与固定架滑动连接且位于升降装置上方,定位机构底部与升降装置的推杆固定连接,固定架一侧设有支撑架,支撑架延伸至定位机构上方,摄像机与支撑架固定连接并与定位机构对齐,控制器固定连接于固定架一侧并分别与升降装置、定位机构、摄像机电连接;本用于电子元器件检测的定位装置能够对电子元器件进行快速调整定位,避免了人工调整所带来的误差,有效地提高了企业的生产效率。
  • 一种用于电子元器件检测定位装置
  • [实用新型]一种半导体分立器件高、低温测试装置-CN202221954927.5有效
  • 袁田金;黄碧康;江佳恩 - 深圳市兔拉检测科技有限公司
  • 2022-07-27 - 2022-12-27 - G01R31/26
  • 本实用新型提出一种半导体分立器件高、低温测试装置,包括箱体、两个加热面板、控制器、放置架、制冷装置,箱体内设有存放腔,两个加热面板分别固定连接于存放腔的两对称侧壁上,放置架与箱体滑动连接并部分收容于存放腔内,箱体顶部设有与存放腔导通的开合部,制冷装置固定连接于箱体的背部并与开合部连接并导通,控制器固定连接于箱体一侧并分别与加热面板、制冷装置、开合部电连接;综上所述,本半导体分立器件高、低温测试装置便于工人对半导体器件进行测试,测试期间无需更换设备,有利于提高半导体器件的测试效率。
  • 一种半导体分立器件低温测试装置
  • [发明专利]一种智能芯片检测仪及其检测方法-CN202110044275.5有效
  • 于成 - 深圳市兔拉检测科技有限公司
  • 2021-01-13 - 2022-11-01 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种智能芯片检测仪及其检测方法,包括支撑桌,所述支撑桌顶部的左侧活动连接有显示屏,所述支撑桌的顶部活动连接有电脑机箱,所述支撑桌顶部的右侧活动连接有检测仪本体,所述显示屏的输入端通过电缆与电脑机箱的输出端电连接,所述电脑机箱的输入端通过电缆与检测仪本体的输出端电连接,所述检测仪本体内壁的底部固定连接有检测平台。本发明通过设置芯片输出端连接器,可以与不同的芯片本体连接,再通过电压控制器对控制电压,可以根据不同的芯片本体调节不同的电压,从而避免电压过大毁坏芯片本体,达到了可以对不同智能芯片进行检测的效果,解决了现有的智能芯片检测仪不能对不同智能芯片进行检测的问题。
  • 一种智能芯片检测及其方法

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