专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]X射线CT装置及其校正方法和装置、测定方法和装置-CN202010983851.8在审
  • 浅野秀光;今正人 - 株式会社三丰
  • 2020-09-18 - 2021-03-23 - A61B6/03
  • 本发明涉及一种X射线CT装置及其校正方法和装置、测定方法和装置,在使尺寸预先已知的球形校正治具(30)与被检体(W)接触的状态下进行CT扫描来生成体数据,获取该体数据中的被检体(W)表面形状的轮廓,并且根据球形校正治具(30)的中心坐标来计算球形校正治具(30)的边界面,求出用于使根据所述轮廓的斜率求出的被检体W的边界面与球形校正治具(30)的边界面一致的校正值,使用该校正值来校正被检体(W)的边界面,使用该校正后的边界面来求出被检体(W)的形状。由此,通过高精度地检测被检体的边界面来实现测量用X射线CT的高精度化。
  • 射线ct装置及其校正方法测定
  • [发明专利]测量用X射线CT装置-CN202010920049.4在审
  • 佐佐木诚治;中泽信行;境久嘉;今正人;浅野秀光 - 株式会社三丰
  • 2020-09-04 - 2021-03-09 - G01N23/046
  • 本发明提供一种测量用X射线CT装置。测量用X射线CT装置在X射线源与X射线检测器之间具备用于搭载测定对象的旋转台以及扫描机构,该测量用X射线CT装置在预先校正X射线源的焦点、X射线检测器和旋转台的旋转中心的几何位置关系的基础上向测定对象照射X射线来进行CT扫描,由此获取投影图像,并通过对该投影图像进行CT重建来生成测定对象的三维像,所述测量用X射线CT装置具备:基准框架,其具有不易受环境变动所影响的材质和构造;以及传感器,其配置于该基准框架,用于在CT扫描中逐次获取X射线源的焦点与X射线检测器的几何位置关系的校正值,其中,所述测量用X射线CT装置将该校正值用作CT重建的参数。
  • 测量射线ct装置
  • [发明专利]旋转台的控制方法和装置-CN201610237472.8有效
  • 松宫贞行;浅野秀光;今正人 - 株式会社三丰
  • 2016-04-15 - 2020-08-25 - G01N23/046
  • 提供一种旋转台的控制方法和装置。通过XY移动机构(18),能够将旋转台(16)沿与该旋转台(16)的旋转轴正交的二维方向(XY方向)移动,通过与旋转台(16)的旋转同步地对旋转台(16)的所述二维方向上的移动位置进行协调控制,能够使旋转台(16)以旋转台(16)上的任意的位置为虚拟的旋转中心进行旋转。并且,在对所述二维方向上的移动位置进行协调控制时,还对因旋转台(16)的偏心引起的旋转的偏心进行校正。由此,能够在旋转台上的任意的位置处设定虚拟的旋转中心,无需重新配置被检体就能够在多个摄像部位得到高分辨率的断层图像。
  • 旋转控制方法装置
  • [发明专利]光干涉测量装置-CN201110057679.4有效
  • 长滨龙也;久保光司;浅野秀光;宫仓常太 - 株式会社三丰
  • 2011-03-10 - 2011-09-21 - G01B11/24
  • 一种光干涉测量装置,其包括:宽带光的光源;物镜部,其将宽带光的光路分成包括参照镜的参照光路和包括测量对象的测量光路,并且物镜部输出两个分支光的合成波;以及光路长度改变部,其改变参照光路的光路长度或改变测量光路的光路长度;其中,物镜部包括控制参照光和对象光之间的相位差以产生相消干涉条纹的相位差控制构件以及检测相消干涉条纹的最小辉度位置的最小辉度位置检测部。
  • 干涉测量装置
  • [发明专利]三坐标测量机-CN201010153127.9有效
  • 松宫贞行;浅野秀光 - 株式会社三丰
  • 2010-04-20 - 2010-10-27 - G01B5/008
  • 本发明提供一种三坐标测量机(1),其包括三坐标测量机主体(2)和控制装置(3)。三坐标测量机主体(2)包括具有测量触头的探测器(4)和用于驱动探测器(4)的驱动机构(5)。探测器(4)包括用于驱动测量触头的驱动部(43)。控制装置(3)包括第1测量部(321)和第2测量部(322)。第1测量部(321)用于测量受驱动部(43)驱动的测量触头的移动量。第1测量部(322)用于测量探测器(4)的移动量。并且,第2测量部(322)的测量精度低于第1测量部(321)的测量精度。
  • 坐标测量

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