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[发明专利]粉末比率测定装置以及粉末比率测定系统-CN201780063845.7有效
发明人：山平尚史;西野嵩启;平田丈英;津田和吕;坪井俊树 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2017-11-29 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：本发明提供一种在高炉等的操作工序中，能够实时且高精度地测定附着于作为原料而被使用块状的物质的表面的粉末的粉末比率的粉末比率测定装置以及粉末比率测定系统。其是测定附着于块状的物质的表面的粉末的粉末比率的粉末比率测定装置，具备：照明块状的物质的照明装置；对块状的物质进行拍摄并制作图像数据的拍摄装置；以及运算装置，其具有计算由拍摄装置制作出的图像数据的特征量的计算部以及将由计算部计算出的特征量转换为粉末比率的转换部。
粉末比率测定装置以及系统

[发明专利]原料的粒度分布测定装置、粒度分布测定方法以及空隙率测定装置-CN201880023175.0有效
发明人：山平尚史;西野嵩启;平田丈英;津田和吕;坪井俊树 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：提供能够高精度地测定包含粗粒和细粒的原料的粒度分布的原料的粒度分布测定装置、粒度分布测定方法、以及使用所测定的粒度分布来测定空隙率的空隙率测定装置。原料的粒度分布测定装置，具有：粗粒测定装置，取得表示粗粒的粒度分布的信息；细粒测定装置，取得表示细粒的粒度分布的信息；以及运算装置，使用表示粗粒的粒度分布的信息来算出粗粒的粒度分布，使用表示细粒的粒度分布的信息来算出细粒的粒度分布，并使用粗粒的粒度分布和细粒的粒度分布来算出原料整体的粒度分布。
原料粒度分布测定装置方法以及空隙

[发明专利]向高炉装入原料的方法-CN201780017142.0有效
发明人：市川和平;柏原佑介;大山伸幸;津田和吕;山平尚史;石井邦彦 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2017-03-14 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： C21B5/00 文献下载
摘要：在高炉内形成焦炭混合矿石层和焦炭层而进行的高炉操作中，根据形成焦炭层的焦炭中的粉状焦炭的含量，适当地控制焦炭混合矿石层的焦炭混合量，确保高炉内部的透气性。一种向高炉装入原料的方法，层状地形成焦炭混合矿石层和焦炭层，其中，利用设置于输送形成焦炭层的焦炭的输送设备的上方的粒度测定传感器对焦炭中的短径为5mm～35mm的范围的任意的短径以下的焦炭粒子的比率进行测定，将用于形成焦炭层的焦炭不含短径为35mm以下的焦炭粒子的条件定义为基准条件时，基于所测定的比率，将混合原料中的焦炭混合量设定为少于基准条件下的焦炭混合量，将与基准条件的差分的量的焦炭作为形成焦炭层的焦炭进行配合。
高炉装入原料方法

[发明专利]异常检测方法以及高炉操作方法-CN201480041242.3有效
发明人： 津田和吕;平田丈英;山平尚史;阿部秀和 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2014-06-18 - 公布日： 2017-06-13 - 主分类号： C21B7/24 文献下载
摘要：本发明涉及异常检测方法以及高炉操作方法。异常检测装置(10)包括设置在高炉(1)的多个风口(11)附近的风口照相机(31)以及图像处理装置(7)。图像处理装置(7)的代表亮度矢量收集部(773)按照预先由风口照相机(31)同时拍摄的风口图像的每一个基于各像素的亮度值来决定代表亮度，并以时间序列收集代表亮度矢量。指标提取部(775)进行以时间序列收集的代表亮度矢量的主成分分析，并提取主成分矢量。另外，代表亮度矢量收集部(773)从作业时由风口照相机(31)同时拍摄的风口图像收集代表亮度矢量。异常检测处理部(777)计算从收集的代表亮度矢量向主成分矢量方向引出的垂线的长度作为评价值，并通过将评价值与规定的阈值相比较来检测高炉(1)的异常。
异常检测方法以及高炉操作方法

[发明专利]测定方法和测定装置-CN201280041663.7有效
发明人：西泽佑司;四辻淳一;津田和吕;大重贵彦 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2012-09-05 - 公布日： 2014-04-30 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明的目的在于非接触性/非破坏性且简便地测定形成于被检体的表面的覆膜的膜厚，得到覆膜的组分的信息，分光装置（10）事先测定已知的被检体的分光数据，运算装置（22）对测定出的分光数据进行基底分解，提取该分光数据的特征量，计算该特征量与形成于所述已知的被检体的表面的覆膜的膜厚和组分之间的关系，分光装置（10）测定所述被检体的分光数据，运算装置（22）对测定出的被检体的分光数据进行基底分解，提取该分光数据的特征量，根据计算出的已知的被检体的分光数据的特征量与覆膜的膜厚和组分之间的关系，计算形成于所述被检体的表面的覆膜的膜厚和组分。
测定方法装置