专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]光学取像系统及光学检测系统-CN201420105222.5有效
  • 高志豪;江庆原;邓亦书 - 由田新技股份有限公司
  • 2014-03-10 - 2014-08-06 - G02B26/10
  • 一种光学取像系统及光学检测系统,该光学取像系统用于对一待测物取像,包含一具有一入光端及一出光端的微分干涉装置,该待测物之光线由该入光端进入该微分干涉装置,经微分干涉后由该出光端发出;该光学取像系统还包含一线扫描取像装置,连接于该微分干涉装置的该出光端,撷取该出光端发出的光线而产生一线扫描影像。该光学检测系统包含该光学取像系统及一检测模块。通过该线扫描取像装置搭配该微分干涉装置,使所述感光元件排列的方向是平行该微分干涉装置能清楚成像的区域的延伸方向,而使取像全程被线型感光单元取像的视野均保持清楚的成像。
  • 光学系统检测
  • [实用新型]观测系统-CN201220371849.6有效
  • 陈登文;江庆原 - 由田新技股份有限公司
  • 2012-07-30 - 2013-02-27 - G01N21/88
  • 一种观测系统,适用于观测一个待测物,并包含位于该待测物的一侧的一个同轴灯源、一个线性灯源、一个半穿反透镜及一个观测单元。该同轴灯源包括一个发光表面及一根与该待测物的一个待测平面平行的第一光学轴。该线性灯源包括一根第二光学轴,该第二光学轴与一根该待测平面的法线夹一个入射角。该半穿反透镜与该发光表面夹45度,且夹角开口朝向该待测平面。该观测单元朝向该待测物且沿一根第三光学轴取像,该第三光学轴通过该待测物并该法线夹一个与该入射角大小相同的反射角。如此,在使用该线性灯源时及该同轴灯源时,该观测单元均能以明视野观测。
  • 观测系统
  • [实用新型]取像系统-CN201220375240.6有效
  • 江庆原;方志恒 - 由田新技股份有限公司
  • 2012-07-30 - 2013-02-27 - G02B13/00
  • 一种取像系统,适用于对一个待测物的一个待测面进行取像,包含一个镜头透镜及一个感光面板。该镜头透镜平行该待测面,具有一个光学中心。该感光面板偏移地平行间隔排列于该镜头透镜远离该待测面的一侧,具有一个面板中心。一根通过该光学中心及该面板中心的轴线,该轴线通过该待测面且与一根垂直该待测面的法线夹一个非零的角度,多条光线分别自该待测面经该镜头透镜在该感光面板上聚焦,形成一个与该感光面板重迭的成像面。该光学中心及该面板中心的轴线与该待测面的法线夹一个非零的角度而能倾斜取像,且来自该待测面的多条光线在该感光面板上聚焦,形成一个与该感光面板重迭的成像面而能清楚成像。
  • 系统

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