“永野久志”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果10个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]微粒分析装置、微粒分析系统以及清洗方法-CN201980021602.6有效
发明人：熊野峻;永野久志;伊藤孝广;水野弘基;野尻辰夫;杉山益之 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2019-03-01 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N1/00 文献下载
摘要：为了在不将微粒分析装置停止、分解的情况下清洗微粒分析装置的内部，该微粒分析装置的特征在于，具有：旋流集尘机(14)；一级过滤器(16)，其与旋流集尘机(14)的下游连接，并被加热；气体分析装置(31)，其与一级过滤器(16)连接；气体配管部，其将旋流集尘机(14)与气体分析装置(31)连接，并设置有一级过滤器(16)；以及清洗气体导入装置(21)，其向气体配管部中的一级过滤器(16)的下游以及旋流集尘机(14)中的至少一方导入清洗气体，在至少清洗一级过滤器(16)的清洗模式时，与利用气体分析装置(31)进行微粒的分析的分析模式时相比从清洗气体导入装置(21)导入的清洗气体的流量上升。
微粒分析装置系统以及清洗方法

[发明专利]附着物收集装置以及附着物分析系统-CN202080050377.1有效
发明人：熊野峻;高田安章;野尻辰夫;永野久志;水野弘基;藤井贵之 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2020-06-17 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01N1/02 文献下载
摘要：为了稳定地回收附着于检查对象物的附着物，特征为具备：向上喷射气体的喷嘴(111)；具备喷射气体的开口部的上表面(105)；回收向检查对象物(C)喷出的气体的回收口；以及检测检查对象物(C)是否接触了上表面(105)的接触检测传感器(130)，通过气体收集附着于检查对象物(C)的附着物，喷嘴(111)的前端的高度与上表面(105)的高度大致相同，或者为上表面(105)的高度以下，在上表面(105)设置有凹部(121)，凹部(121)相对于喷嘴(111)的喷射口(112)设置在回收口侧，并且与喷嘴(111)的喷射口(112)相接，或者包含喷嘴(111)的喷射口(112)。
附着物收集装置以及分析系统

[发明专利]危险物探测装置的试验用药品、危险物探测装置及危险物探测方法-CN201780024019.1有效
发明人：水野弘基;永野久志;伊藤孝广;生井诚;根本文彦 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2017-04-13 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明的目的是即使在使用了相当于危险物的试剂(试剂用药品)的情况下也抑制误工作。使用添加有与作为检测对象的危险物质不同的指标物质的试剂用药品，基于试剂用药品所包含的检测对象来进行校正，具有进行质谱分析的分析部，在作为分析部的分析结果的谱图中不含相当于指标物质的峰、且包含相当于作为检测对象的物质的峰的情况下，判定为包含检测对象。
危险物探测装置试验用药方法

[发明专利]附着物收集装置以及检查系统-CN201780032937.9有效
发明人：熊野峻;杉山益之;永野久志;生井诚;伊藤孝广 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2017-05-29 - 公布日： 2021-08-17 - 主分类号： G01N1/02 文献下载
摘要：为了稳定地从检查对象物剥离物质，其特征在于，具有喷出气体的喷出口(n)、具有喷出口(n)的箱体(B)、以及设置于箱体(B)的具备喷出口(n)的面且具有预定高度的支撑部(H)。并且，其特征在于，支撑部(H)是形成于箱体(B)的凸形状部。另外，其特征在于，支撑部(H)具有长方体形状，并且设置为随着朝向回收因气体而从检查对象物(C)剥离出的物质的回收口的方向，彼此距离变短。
附着物收集装置以及检查系统

[发明专利]微粒捕获装置-CN201510607660.0在审
发明人： 永野久志;铃木康孝;鹿岛秀夫;桥本雄一郎;杉山益之;菅谷昌和;土井泰德;寺田光一 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2011-11-08 - 公布日： 2016-01-06 - 主分类号： G01N1/22 文献下载
摘要：提供一种微粒捕获装置，具备：吸气部，其吸取从对象剥离的试样；微粒浓缩部，其为圆锥状，对由所述吸气部吸取且从所述圆锥状的大半径侧导入的所述试样进行浓缩，在设置于所述圆锥状的小半径侧的微粒捕获过滤器中捕获所述试样；加热部，其对所述微粒捕获过滤器进行加热；第一泵，其从所述圆锥状的所述大半径部侧吸取气流；第二泵，其间隔所述微粒捕获过滤器地被设置在所述圆锥状的相反侧，从所述圆锥状的所述小半径部侧吸取气流，并且容量比所述第一泵小；排出部，其通过来自所述第二泵的吸取，排出来自所述微粒捕获过滤器捕获到的所述试样的气流；以及控制部，其至少控制所述第一泵的动作。
微粒捕获装置

[发明专利]分析装置及分析方法-CN201180054607.2有效
发明人： 永野久志;铃木康孝;鹿岛秀夫;桥本雄一郎;杉山益之;菅谷昌和;土井泰德;寺田光一 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2011-11-08 - 公布日： 2013-07-24 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：提供一种在对微粒连续地回收浓缩的同时，实时地进行分析的方法。利用来自送气部（5）的气流使附着在认证对象（2）上的检测对象物质的气体和/或微粒剥离，吸取剥离的试样，在微粒捕获部（10）中进行浓缩来捕获，在离子源部（21）中生成试样的离子，在质量分析部（23）中进行质量分析。从得到的质量光谱中，判定是否有来自检测对象物质的质量光谱，并将该结果显示在显示部（27）中，由此，对附着在认证对象（2）上的检测对象物质进行连续、实时、迅速且误报低的检测。
分析装置方法

[发明专利]离子阱、质量分析计、离子迁移率分析计-CN200810109182.0有效
发明人：马场崇;佐竹宏之;永野久志 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2008-05-23 - 公布日： 2008-12-31 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明提供一种离子阱、质量分析计、离子迁移率分析计，其课题在于提供一种小型、廉价、简便的质量分析单元，其能够应用可以实现无需在以往的质量分析方法中必须的高真空的低真空中的动作、小型且电极个数少并且形状易于加工、进而无需电子倍增管等放大的检测离子电流的离子检测方法。在该真空区域中以往使用离子迁移率分析单元，但通过本方式可以提供新的质量分析手段，可以针对各种应用显著地提高分析精度。使用在本发明中公开的一维离子阱。基于一维离子阱的质量分析单元可以囚禁大量的离子，可以提供能够在低真空中动作的质量分析方式，所以可以实现不使用高真空的质量分析单元。
离子质量分析离子迁移率

[发明专利]气体监测装置及气体监测方法-CN200710078911.6无效
发明人：濑户康雄;大泽勇久;关口浩;丸子恒;高田安章;奥村昭彦;冈田英宏;永野久志;和气泉 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2007-02-16 - 公布日： 2008-03-05 - 主分类号： G01N27/68 文献下载
摘要：本发明提供可以实时检测作为一种化学武器药品的二苯基氰基胂(DC)和二苯基氯胂(DA)的气体监测装置。用大气压化学离子化质量分析法由正离子化模式进行测定，从DA和DC共同的离子强度测定DA和DC的总量，从DC特有的离子强度测定DC的浓度，以它们之差作为DA的浓度。
气体监测装置方法

[发明专利]气体监控装置-CN200610001574.6有效
发明人：高田安章;管正男;永野久志;和气泉;冈田英宏;野尻辰夫;濑户康雄;佐野保广;山城繁春;大泽勇久 -专利权人：株式会社日立制作所;警察厅科学警察研究所
申请日： 2006-01-24 - 公布日： 2006-11-22 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供即使是试样气体中的共存物质的浓度发生变化，也能够准确地定量化学试剂的浓度的气体监控装置。这种气体监控装置(1)的特征在于，具有导入含有测定对象物质的试样气体的试样导入部(3)、测定包含在试样气体中且与测定对象物质共存的规定共存物质的浓度的共存物质浓度测定单元(4)、使所述试样气体电离的电离部、分析从所述电离部生成的离子的质量的质量分析仪、解析由质量分析仪检测出的信号并计算出测定对象物质的浓度的数据处理部(7)、显示由数据处理部(7)解析的解析结果的显示部(8)；并且，数据处理部(7)具有对应于规定共存物质的浓度而修正测定对象物质的浓度的修正单元。
气体监控装置

[发明专利]化学剂的探测装置及探测方法-CN03155132.7无效
发明人：深野真纯;本城繁;永野久志;高田安章;濑户康雄;糸井辉雄;井浦一光 -专利权人：株式会社日立制作所;警察厅科学警察研究所长
申请日： 2003-08-22 - 公布日： 2004-09-29 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种适用于硫磺芥子气和路氏毒气1探测的化学剂探测装置及探测方法，该装置具有探测化学剂的速度快、误报率低、探测化学剂的种类全和无人连续监测的特点。在本发明中，探测装置由取入样品并加热的样品导入部1、使从样品导入部1来的样品离子化的离子化部2、质量分析部3和解析数据的计算机6构成。当利用计算机6辨认出硫磺芥子气或路氏毒气1所特有的规定信号时，可以确定该样品。
化学剂探测装置方法

1
共 10 条