专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]晶体分析方法、晶体分析装置和晶体分析程序-CN202111292863.7在审
  • 栗田知周 - 富士通株式会社
  • 2021-11-03 - 2022-07-12 - G16C20/20
  • 本发明涉及晶体分析方法、晶体分析装置和晶体分析程序。公开了一种用于计算机执行下述过程的晶体分析方法,其包括:创建指示离子晶体中的重复晶胞的数据和与所述重复晶胞相邻的相邻重复晶胞的数据的图表;根据所述图表分析离子晶体;当指示重复晶胞中与阳离子原子键合的阴离子原子的数据的第一晶胞内节点的数目为n时,将指示重复晶胞中的阴离子原子的数据的第二晶胞内节点的数目设为n‑1以下,其中重复晶胞的数据包括指示重复晶胞中的原子的数据的多个晶胞内节点,并且所述多个晶胞内节点包括第一晶胞内节点和第二晶胞内节点。
  • 晶体分析方法装置程序

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