专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]曝光装置、曝光方法以及元件制造方法-CN200880011784.0有效
  • 柴崎祐一 - 株式会社尼康
  • 2008-11-04 - 2010-03-17 - H01L21/027
  • 从一晶圆载台(WST1)位于形成液浸区域(14)的投影光学系统(PL)下方的区域的状态转移至另一晶圆载台(WST2)位于形成液浸区域(14)的投影光学系统(PL)下方的区域的状态时,使分别设于两晶圆载台(WST1,WST2)的檐部(23a’)与段部(23b)卡合,并在X轴方向错开的状态下,使两晶圆载台(WST1,WST2)沿Y轴方向接近或接触,并维持该状态沿Y轴方向同时驱动两晶圆载台(WST1,WST2)。藉此,液浸区域即透过檐部在两个晶圆载台间进行交接,并抑制形成液浸区域的液体的泄漏。
  • 曝光装置方法以及元件制造
  • [发明专利]曝光装置及曝光方法-CN200910149533.5无效
  • 藤原朋春;柴崎祐一 - 株式会社尼康
  • 2005-10-31 - 2009-12-09 - G03F7/20
  • 本发明提供一种可以抑制液体的残留的曝光装置。曝光装置(EX)具备:可保持衬底(P)并移动的衬底载台(ST1);可与衬底载台(ST1)独立地移动的计测载台(ST2);在衬底载台(ST1)及计测载台(ST2)的至少一个的载台的上面形成液体(LQ)的浸液区域(LR)的浸液机构(12等)。在计测载台(ST2)的上面,设有可回收液体(LR)的回收口(51)。
  • 曝光装置方法
  • [发明专利]曝光方法及曝光装置、载置台装置、及设备制造方法-CN200910009907.3有效
  • 柴崎祐一 - 株式会社尼康
  • 2004-08-05 - 2009-08-12 - G03F7/20
  • 一种曝光方法及曝光装置、载置台装置、及设备制造方法。为了在对一个晶片载置台(WST1)上的晶片进行曝光动作的同时进行两个晶片载置台(WST1、WST2)的替换,使另一个晶片载置台(WST2)暂时位于一个晶片载置台的下方,通过包含该步骤,可以在对一个晶片载置台上的晶片进行曝光动作的同时进行两个晶片载置台的替换动作(交换动作),上述两个晶片载置台的替换动作基于使另一个晶片载置台暂时位于该一个晶片载置台的下方的方式,这样一来,与从对一个晶片载置台上的晶片的曝光动作结束的时刻开始进行两个晶片载置台的替换动作时相比,可在短时间内进行该替换。
  • 曝光方法装置载置台设备制造
  • [发明专利]平台装置与曝光装置,以及元件制造方法-CN200710163828.9有效
  • 柴崎祐一 - 株式会社尼康
  • 2004-01-26 - 2008-07-09 - G03F7/20
  • 本发明是有关于一种平台装置与曝光装置,以及元件制造方法。该平台(RST),是一面浮动于平板的上方一面支撑光栅,并可移动于二维面内的三自由度方向,框状构件是以浮动于平板的上方可移动于二维面内的三自由度方向。在框状构件设置第一定子(1361~1382)、第二定子(1401、1402),在平台设第一可动元件、第二可动元件以与第一定子、第二定子个别协动以产生使平台于二维面内驱动的驱动力。因此,由平台的驱动的反力作用于第一或第二定子,由此反力框状构件大略依照动量守恒定律在二维面内移动。藉此,由平台的移动的反力可大略完全加以消除的同时,不产生包含平台及框状构件系统的重心移动的关系,偏负载亦不会作用在平板。
  • 平台装置曝光以及元件制造方法
  • [发明专利]载台装置及曝光装置-CN200680007894.0有效
  • 柴崎祐一 - 株式会社尼康
  • 2006-08-03 - 2008-03-05 - H01L21/027
  • 本发明提供载台装置及曝光装置。晶片载台(WST)及计测载台(MST)被构成为可沿着底盘(21)上表面移动,通过相互靠近而成为一体并沿Y方向移动,来进行水(Lq)的转移。对准系统(45)测定晶片载台(WST)与计测载台(MST)的相互靠近的边缘部,聚焦/调平检测系统(64)测定晶片载台(WST)及计测载台(MST)相互靠近状态下的Z方向的阶梯差。在使两载台靠近的情况下,基于这些测定结果来调整晶片载台(WST)与计测载台(MST)之间的相对位置。
  • 装置曝光

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