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[发明专利]一种可实现熔石英微透镜阵列CO2-CN202310937582.5在审
发明人：程健;张紫晓;陈继祥;陈明君;赵林杰;贺欣欣;杨子灿;张天浩 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2023-07-28 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06F30/28 文献下载
摘要：本发明提供一种可实现熔石英微透镜阵列CO2激光精密抛光的初始微结构临界尺寸设计方法，属于光学加工领域。为解决对熔石英CO2激光抛光表面形貌的形成机制及微透镜阵列形状的控制机制不明确，试错法确定结构参数和激光参数可能无法获取满足质量要求的目标微透镜阵列结构，且试错有随机性、效率低问题。根据目标微透镜阵列设计初始微结构，基于热力学和流体力学原理建立初始微结构的仿真模型并建立温度场仿真，选择抛光半径和功率，再对不同结构参数的初始微结构抛光过程仿真，得到微透镜尺寸和形貌，最终确定初始微结构的临界尺寸。避免工艺参数试错法工作量大、效率低；为通过工艺过程中选择合适的激光参数及控制微透镜阵列形状提供了指导。
一种实现石英透镜阵列 co base sub

[发明专利]一种基于Labview的熔石英元件表面微缺陷光致荧光检测集成控制系统及方法-CN202310977239.3在审
发明人：程健;陈继祥;张紫晓;赵林杰;陈明君;杨炜嵩;杨丁槐;杨子灿 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2023-08-04 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明一种基于Labview的熔石英元件表面微缺陷光致荧光检测集成控制系统及方法，涉及光学元件技术领域，为解决现有的光致荧光检测系统操作时需要分别顺序控制激光器、光谱仪和三维电动平台等硬件设施，操作繁琐、效率低及稳定性差的问题。所述系统采用Labview进行开发，包括：激光器控制模块，用于激光器的控制及参数的实时显示；运动控制模块，用于电动平台使能的控制，元件运动的控制，并对元件位置的实时显示；数据采集子模块，用于对稳态荧光光谱数据的采集；数据处理子模块，用于对数据的荧光强度信息的提取；数据存储子模块，用于对最终的荧光强度矩阵文件的存储与提取；实时成像显示模块，用于稳态荧光光谱及探测区域的实时成像显示。
一种基于 labview 石英元件表面缺陷荧光检测集成控制系统方法

[发明专利]一种CO2-CN202310937655.0在审
发明人：程健;张紫晓;陈继祥;陈明君;赵林杰;贺欣欣;杨子灿;张天浩 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2023-07-28 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G16C60/00 文献下载
摘要：本发明提供一种CO2激光快速烧蚀加工熔石英微透镜阵列的初始微结构的路径规划方法及路径，属于光学加工技术领域。为解决CO2激光烧蚀快速去除材料加工微柱阵列时，加工表面存在烧蚀过度或不足以致粗糙不平，严重影响微透镜阵列质量问题。利用阵列点和阵列线两种加工方式进行加工实验，优选多线扫描，规划路径为交叉轨迹和非交叉S形轨迹，优选非交叉S形轨迹，虽然其效果较好但仍存在加工表面不平整问题，再次优化为非交叉点扫描起点同侧轨迹，扫描相邻两条横纵轨迹的时间间隔相同。本发明揭示了沿不同轨迹进行扫描对加工表面形貌的影响；解决初始微结构存在表面烧蚀过度或不足以致粗糙不平问题，为获得高质量熔石英微透镜阵列奠定基础。
一种 co base sub

[发明专利]一种光学元件全口径表面微缺陷光致荧光检测用自动对焦检测方法-CN202310977429.5在审
发明人：程健;陈继祥;张紫晓;赵林杰;陈明君;杨炜嵩;杨丁槐;杨子灿 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2023-08-04 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明一种光学元件全口径表面微缺陷光致荧光检测用自动对焦检测方法，涉及光学元件技术领域，为解决现有的对焦检测方法，需要手动对焦及检测，效率低，且无法保证检测结果的准确性和一致性的问题。包括如下步骤：一、安装物镜与待测光学元件；二、确定待检测区域内多个标定检测点坐标，构建检测物镜焦平面方程，制定检测扫描路径；三、控制元件沿检测扫描路径移动进行检测，判断待测点是否处于物镜焦平面，若是，则在该点进行扫描检测，若不是，则计算补偿量并控制移动平台在调焦方向对元件进行距离补偿；四、实时保存光谱信息及检测成像信息；五、根据检测扫描路径判断检测是否结束。实现了光学元件表面微缺陷光致荧光检测的自动对焦及检测。
一种光学元件口径表面缺陷荧光检测自动对焦方法