专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]基于嵌入式的大气颗粒物监测仪控制器-CN201120557544.X有效
  • 李志为;杨冠玲;韩鹏 - 华南师范大学
  • 2011-12-27 - 2012-08-29 - G05B19/05
  • 本实用新型公开一种基于嵌入式的大气颗粒物监测仪的控制器,其包括CPU控制器,以及与CPU控制器连接的PLC控制器和I/O扩展电路,所述CPU控制器连接大气颗粒物监测仪的光电定位器,所述PLC控制器连接大气颗粒物监测仪的齿轮减速交流电机和微动开关,所述I/O扩展电路连接大气颗粒物监测仪的步进电机、称重天平,所述CPU控制器接收光电定位器发送的工位信息和微动开关经PLC控制器发送的工位信息,并经I/O扩展电路向步进电机发送控制信号和经PLC控制器向齿轮减速交流电机发送控制信号,称重天平的测量数据经I/O扩展电路上传CPU控制器。本实用新型的控制电路简单、方便,并支持多功能扩展。
  • 基于嵌入式大气颗粒监测控制器
  • [发明专利]基于可编程逻辑的光子计数器-CN200510035972.5有效
  • 邱健;杨冠玲;何振江 - 华南师范大学
  • 2005-07-21 - 2007-03-21 - G06M1/272
  • 本发明涉及微弱光电信息处理技术中专门针对光子信息的基于可编程逻辑的光子计数器,主要由脉冲放大电路、脉冲甄别电路、脉冲整形电路、计数门控制电路和光子计数电路构成。脉冲放大、甄别和整形电路实现了对微弱光电流的放大、脉冲信号的识别及其波形的整形等功能;并实现了与基于可编程逻辑(简称PLD)硬件电路上的衔接。本发明的特点是应用PLD器件实现了光子计数电路和计数门控制电路的设计,光子计数电路用于光子计数、数值锁存和数值输出等,计数门控制电路则控制着光子计数电路的计数时间,其计数时间可调、可自动载入设置时间和重复计时。
  • 基于可编程逻辑光子计数器
  • [发明专利]对称式结构二氧化硫紫外荧光发生器-CN200510035971.0无效
  • 杨冠玲;何振江 - 华南师范大学
  • 2005-07-21 - 2006-03-15 - G01N21/64
  • 本发明涉及环境大气质量自动监测仪器中紫外荧光法二氧化硫监测仪的荧光发生器,包括紫外光源,分别连接两个反射式衍射滤光器;反射式衍射滤光器,向两个紫外荧光室发出激发光;两个紫外荧光室,激发被测气体,产生荧光;两个紫外荧光采集器,分别收集来自两个紫外荧光室的荧光。本发明能同步提供大气二氧化硫荧光信息和系统本底信息,本发明可最大限度消除各种干扰因素对测量的影响,提高仪器的准确度和长期稳定性。
  • 对称结构二氧化硫紫外荧光发生器
  • [发明专利]紫外滤光装置及其紫外滤光方法-CN02115165.2无效
  • 何振江;杨冠玲;许超彬 - 华南师范大学
  • 2002-04-28 - 2004-08-18 - G02B5/20
  • 本发明提供一种紫外滤光装置,由输入光栏、多角石英棱镜、输出光栏和光屏蔽外壳共同构成,多角石英棱镜的光线入射面ad或ad′或a′d或a′d′与反射面ab的夹角α1、光线的两个出射面bc或b′c与cd或c′d的夹角α2分别等于设定的高端波长和低端波长的全反射临界角ic1和ic2。本发明具有透光率高、无膜层针孔漏光缺陷、性能耐久稳定、结构简单、成本低等特点。同时,本发明还提供该装置的紫外滤光方法。
  • 紫外滤光装置及其方法
  • [发明专利]测量薄膜折射率的方法及装置-CN03113652.4无效
  • 黄佐华;何振江;杨冠玲 - 华南师范大学
  • 2003-01-23 - 2003-10-08 - G01N21/45
  • 测量薄膜折射率的方法及其装置,是利用光栅通过透镜产生多个极大点,在频谱面上放置二元滤波器及薄膜样品,在光栅共轭象面上获得干涉条纹,利用输出与测量结构在象面上进行接收和观察,并测量干涉条纹的周期和错位量,从而求得薄膜的折射率。它能够解决折射率不确定性问题,测量过程简单,装置调节方便,测量稳定可靠,且易于实现。本发明测量条纹的精度达λ/10~λ/20,测量折射率精度为0.01~0.005。
  • 测量薄膜折射率方法装置

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