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[发明专利]一种电感开路检测装置和系统-CN202211457698.0在审
发明人：宋文杰;邓建廷;胡远明;计鹏丽;张金婉;霍桂朋;杜雨田;路云飞;王莹莹;孙寰宇 -专利权人：宁畅信息产业（北京）有限公司
申请日： 2022-11-18 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01R31/54 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种电感开路检测装置和系统。电感开路检测装置包括：在线测试仪和至少一个检测模块，检测模块的检测端与在线测试仪的探针电连接；其中，检测模块包括二极管、电容和电阻单元，二极管的正极作为检测端，二极管的负极与电容的第一端电连接，电容的第二端接地，电阻单元的第一端与电容的第一端电连接，电阻单元的第二端与电容的第二端电连接，以通过电容两端的电压确定目标电感的线圈通断状态。本发明实施例提供的电感开路检测装置，能够提高检测可靠性。
一种电感开路检测装置系统

[发明专利]一种用于金属材料动态剪切变形及失效测试的方法-CN202211411385.1在审
发明人：许泽建;杜雨田 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2022-11-11 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G01N3/24 文献下载
摘要：本发明公开一种用于金属材料动态剪切变形及失效测试的方法，包括：S1，制备缺口双剪切试样；S2，对缺口双剪切试样进行静动态剪切加载，实现不同的应变率条件；S3，在应变率条件下进行多次实验，得到回收试样，基于回收试样，得到金属材料在应变率条件下的剪切变形特性和失效特性。本发明能够使剪切区内更接近纯剪切应力状态，失效点更为集中在剪切区中心区域，失效模式更接近纯剪切失效。
一种用于金属材料动态剪切变形失效测试方法

[实用新型]一种地铁站台门用自洁装置-CN202222291045.1有效
发明人：肖立;陈虎;王宇鹏;张宇昂;杜雨田;雷孙锦亿 -专利权人：肖立
申请日： 2022-08-29 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： B08B1/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种地铁站台门用自洁装置，属于自动门清洁技术领域，其包括水箱，所述水箱的一侧远离拉动结构的位置固定安装有呈竖向排列的喷头，喷头与水箱连通，多个竖向排列喷头的两侧设有沿着水箱高度可拆连接的清洁条，所述水箱的内部滑动设有活塞板。该地铁站台门用自洁装置，通过设置清洁条、弹簧、活塞板和喷头，在地铁门打开时，使得清洁条贴合地铁门可以起到对地铁门进行清洁的作用，同时打开闭口结构通气，使得弹簧的弹性力可带动活塞板运动，进而使得活塞板可以将消毒液通过喷头挤出至地铁门上，进而可以对地铁门进行消毒及打湿清洁，实现了对地铁门的自动清洁和消毒，同时节省了时间。
一种地铁站台装置

[发明专利]一种PCIEx4的散热测试负载卡及散热测试方法-CN201811625259.X在审
发明人：李海杰;邓建廷;白文记;杜雨田;宿韧 -专利权人：曙光信息产业股份有限公司
申请日： 2018-12-28 - 公布日： 2019-05-17 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种PCIEx4的散热测试负载卡，包括：电子负载电路，包括功率半导体器件，用于根据功耗设定参考电压输出热量，以模拟主控芯片散发热量；指示灯，用于指示所述PCIEx4的散热测试负载卡是否正常工作；散热片，紧贴于所述电子负载电路的功率半导体器件表面。以上的PCIEx4的散热测试负载卡使用功率半导体器件作为功耗元件，相比于功耗电阻的方式，控制方式简单，热量集中，并且更接近于主控芯片的散热情况。并且PCIEx4的负载卡适用于X4、X8、X16规格的插槽，克服PCIEx1板卡连接不紧固的缺点。
散热测试负载卡功率半导体器件电子负载电路主控芯片指示灯半导体器件板卡连接参考电压功耗电阻功耗设定功耗元件控制方式热量集中散发热量使用功率输出热量散热片散热插槽紧固紧贴

[发明专利]电源测试板及电源测试方法-CN201811624969.0在审
发明人： 杜雨田;杨娟娟;白文记;宿韧;李海杰 -专利权人：曙光信息产业股份有限公司
申请日： 2018-12-28 - 公布日： 2019-04-19 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本发明提供了电源测试板及电源测试方法。电源测试板包括：印刷电路板；一个或多个CPU，设置在所述印刷电路板上；第一组电源，在所述印刷电路板上设置为邻近所述一个或多个CPU以为所述一个或多个CPU供电；多个内存模块，设置在所述一个或多个CPU的相对侧上，并且每两个内存模块与一个CPU相对应；以及第二组电源，在所述印刷电路板上设置为与相应的内存模块相对应以为每个内存模块供电，其中，以预留零器件的方式将所述第一组电源和所述第二组电源设置为待测试的电源。对新一代Intel平台CPU和内存模块的电源评估满足了最大的功耗需求并且满足兼容不同家电源方案供应商。在同样叠层结构，铜箔铺设等条件下，进行针对性强的对比测试。
电源测试内存模块印刷电路板组电源电源供电叠层结构对比测试供应商新一代功耗铜箔预留兼容邻近铺设测试评估