专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]金属硬掩膜氮化钛颗粒缺陷的改善方法-CN201911023024.8有效
  • 雷海波;田明;鲍宇;李西祥 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2019-10-25 - 2022-02-01 - H01L21/033
  • 本发明提供一种金属硬掩膜氮化钛颗粒缺陷的改善方法,提供一介电层,在所述介电层上以高氮气氛围溅射第一TiN层,所述第一TiN层延其厚度方向含氮量均匀;将步骤一中的所述高氮气氛围过渡至低氮气氛围,在所述第一TiN层上溅射第二TiN层,所述第二TiN层延其厚度方向含氮量逐渐降低;对所述第二TiN层表面进行等离子体处理,形成第三TiN层,所述第三TiN层延其厚度方向含氮量与所述第一TiN层延其厚度方向含氮量一致。本发明采用两步氮化钛沉积方法,克服了高氮气氛围溅射氮化钛颗粒导致缺陷的缺点,同时避免了低氮气氛围溅射氮化钛压应力较高的缺点,提高了产品的良率。
  • 金属硬掩膜氮化颗粒缺陷改善方法
  • [发明专利]一种形成金属扩散阻挡层的方法-CN201811015325.1有效
  • 鲍宇;李西祥 - 上海华力微电子有限公司
  • 2018-08-31 - 2021-07-27 - H01L21/768
  • 本发明提供一种形成金属扩散阻挡层的方法,提供衬底,衬底由下向上依次包括金属互联层,绝缘层,低K介电层及硬掩膜层;还包括以下步骤:形成穿透硬掩膜层,低K介电层及绝缘层的通孔,通孔底部暴露金属互联层,并于通孔的顶部形成沟槽,沟槽底部位于低K介电层中;在硬掩膜层、通孔的孔壁及孔底,及沟槽的槽壁及槽底形成第一金属层;使通孔的孔壁,及沟槽的槽壁及槽底的第一金属层与低K介电层反应形成合金阻挡层;于合金阻挡层及剩余的第一金属层表面形成金属种子层;于沟槽及通孔中填充金属。本发明的有益效果在于,通过在沉积金属种子层之前形成合金阻挡层,从而更加有效的防止铜在形成阻挡层形成之前扩散。
  • 一种形成金属扩散阻挡方法
  • [发明专利]铜填充的凹槽结构及其制造方法-CN201811477084.2有效
  • 鲍宇;李西祥;曹艳鹏 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2018-12-05 - 2020-11-24 - H01L21/768
  • 本发明公开了一种铜填充的凹槽结构,包括:凹槽,形成于第一介质层中;在凹槽的底部表面和侧面形成于阻挡层;在阻挡层的表面形成有纯铜的第一籽晶层;在第一籽晶层的位于凹槽的侧面的顶部的表面形成有铜合金的第二籽晶层;铜主体层将凹槽完全填充并形成凹槽结构,铜主体层的底部表面和侧面的底部和第一籽晶层直接接触用于降低凹槽结构的寄生电阻;铜主体层的侧面的顶部和第二籽晶层直接接触并通过第二籽晶层的铜合金材料降低凹槽结构的电迁移。本发明公开了一种铜填充的凹槽结构的制造方法。本发明能改善器件的EM性能,同时降低器件的寄生电阻;本发明特别适用于20nm以下的铜通孔的应用。
  • 填充凹槽结构及其制造方法

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