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[发明专利]测试盘旋转装置以及直列式测试分选机-CN201410016369.1有效
发明人：金景泰;朴赞豪;李宰圭;柳雄铉;朴海俊;李国炯;郑贤采;朴长用 -专利权人：未来产业株式会社
申请日： 2014-01-14 - 公布日： 2014-07-23 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明涉及一种测试盘旋转装置以及包含其的直列式测试分选机，所述测试盘旋转装置包括：支撑机构，用于支撑在第一腔室单元和第二腔室单元之间搬运的测试盘，所述第一腔室单元和所述第二腔室单元朝向不同方向且隔着间隔设置；基座机构，可旋转地结合有所述支撑机构；以及旋转机构，旋转测试盘，使得收容在测试盘上的半导体元件在所述第一腔室单元和所述第二腔室单元中以相同的配置进行测试。
测试盘旋装置以及直列式分选

[发明专利]半导体元件分选系统-CN201310120680.6有效
发明人：金景泰;朴赞豪;李宰圭;柳雄铉;朴海俊;李国炯;郑贤采;朴长用 -专利权人：未来产业株式会社
申请日： 2013-04-09 - 公布日： 2013-10-30 - 主分类号： B07C5/36 文献下载
摘要：本发明涉及半导体元件分选系统，其包括：装载装置，用于执行将待测试的半导体元件收纳到测试托盘的装载工序；卸载装置，用于执行将已测试的半导体元件从测试托盘分离的卸载工序；输送装置，用于输送测试托盘；测试装置，在所述装载装置和所述卸载装置之间沿着所述输送装置设置多个。根据本发明，包括比所述装载装置和所述卸载装置更多数量的测试装置，所以即使分别执行装载工序、测试工序和卸载工序所需的时间上有差异也能够防止作业时间延迟，从而能够提高半导体元件的生产率。
半导体元件分选系统

[发明专利]半导体元件分选系统-CN201310133244.2有效
发明人：金景泰;朴赞豪;李宰圭;柳雄铉;朴海俊;李国炯;郑贤采;朴长用 -专利权人：未来产业株式会社
申请日： 2013-04-17 - 公布日： 2013-10-30 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：一种半导体元件分选系统，包括：N个（N是大于0的整数）分类装置，执行将待测试的半导体元件收纳到测试托盘的装载工序及将已测试的半导体元件从测试托盘分离的卸载工序；分类搬运单元，沿着设有分类装置的方向搬运测试托盘；M个（M是大于N的整数）测试装置，与分类装置隔开设置；测试搬运单元，沿着设有测试装置的方向搬运测试托盘；连接搬运单元，分别与分类搬运单元和测试搬运单元连接以在分类装置和测试装置之间运送测试托盘。本发明与执行装载工序和卸载工序的装置相比，包括更多数量的执行测试工序的装置，即使分别执行装载工序、卸载工序及测试工序的时间有差异，也可以防止作业时间延迟，以提高对半导体元件的制造效率。
半导体元件分选系统

[发明专利]半导体元件分选系统-CN201310120677.4有效
发明人：金景泰;朴赞豪;李宰圭;柳雄铉;朴海俊;李国炯;郑贤采;朴长用 -专利权人：未来产业株式会社
申请日： 2013-04-09 - 公布日： 2013-10-30 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本发明涉及一种半导体元件分选系统，包括：N个（N是大于0的整数）分类装置，用于执行将待测试的半导体元件收纳到测试托盘的装载工序和将经测试的半导体元件从测试托盘分离的卸载工序；以及M个（M是大于N的整数）测试装置，与所述分类装置隔开设置，用于执行将收纳在测试托盘上的半导体元件连接到测试设备的测试工序。根据本发明，包括比分类装置更多数量的测试装置，所以即使分别执行装载工序、测试工序和卸载工序所需的时间上有差异，也能够防止作业时间延迟，由此能够提高半导体元件的生产率。
半导体元件分选系统

[发明专利]用于供应电子元件的设备-CN201010271703.X有效
发明人：金舜镐;金荣敏;金洪泰;李国炯 -专利权人：未来产业株式会社
申请日： 2010-09-03 - 公布日： 2011-08-03 - 主分类号： H05K13/02 文献下载
摘要：本发明公开一种用于供应电子元件的设备，其通过简化的过程便于额外地提供电子元件，其中所述简化的过程省略了将电子元件容纳在输送带中的步骤以及将盖带粘附到容纳有电子元件的输送带上的步骤。所述设备包括：供给单元，所述供给单元包括用于将所述电子元件存储在其中的存储槽；第一传送单元，所述第一传送单元用于将所述电子元件传送到拾取位置，其中，所述拾取位置是指设置在表面贴装设备中的贴装单元可以拾取所述电子元件的位置；以及第二传送单元，所述第二传送单元用于将从所述供给单元供给的所述电子元件传送到所述第一传送单元，其中，所述第二传送单元被安装在所述供给单元和所述第一传送单元之间。
用于供应电子元件设备