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[发明专利]微粒分析装置、微粒分析系统以及清洗方法-CN201980021602.6有效
发明人：熊野峻;永野久志;伊藤孝广;水野弘基;野尻辰夫;杉山益之 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2019-03-01 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N1/00 文献下载
摘要：为了在不将微粒分析装置停止、分解的情况下清洗微粒分析装置的内部，该微粒分析装置的特征在于，具有：旋流集尘机(14)；一级过滤器(16)，其与旋流集尘机(14)的下游连接，并被加热；气体分析装置(31)，其与一级过滤器(16)连接；气体配管部，其将旋流集尘机(14)与气体分析装置(31)连接，并设置有一级过滤器(16)；以及清洗气体导入装置(21)，其向气体配管部中的一级过滤器(16)的下游以及旋流集尘机(14)中的至少一方导入清洗气体，在至少清洗一级过滤器(16)的清洗模式时，与利用气体分析装置(31)进行微粒的分析的分析模式时相比从清洗气体导入装置(21)导入的清洗气体的流量上升。
微粒分析装置系统以及清洗方法

[发明专利]质量分析装置及其控制方法-CN202280009064.0在审
发明人：菅原佑香;桥本雄一郎;安田博幸;杉山益之;田村陆 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2022-01-17 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本公开的目的在于提供一种质量分析装置及其控制方法，能够降低由交流电压的控制电路的发热引起的质量轴的偏移。本公开的质量分析装置具备被施加交流电压的四极电极(111)和控制所述交流电压的电压值的控制部(100)，在将所述四极电极(111)用作质量过滤器的质量分析装置中，在测定之前，将预定的振幅(V1)的所述交流电压施加于所述多极电极预定的时间(T1)，将所述预定的振幅(V1)的所述交流电压施加于所述多极电极预定的时间(T1)时产生的发热量(J1)与将在所述测定中施加的振幅的交流电压施加至热稳定状态为止时产生的发热量相等(参照图3A)。
质量分析装置及其控制方法

[发明专利]离子源、质谱仪和毛细管的插入方法-CN202180084692.0在审
发明人：长谷川英树;杉山益之 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2021-10-25 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： H01J49/16 文献下载
摘要：提供一种实现高的分析再现性的技术。本公开的离子源的特征在于，具备毛细管以及在其内部插入有所述毛细管并向所述毛细管的外侧喷雾气体的气体喷雾管，所述气体喷雾管在比所述气体喷雾管的前端孔靠上游的位置具有使所述毛细管的下游端相对于所述气体喷雾管的所述前端孔的中心轴偏转的偏转部位。
离子源质谱仪毛细管插入方法

[发明专利]质量分析装置的控制方法、质量分析系统和电压控制装置-CN202180026440.2在审
发明人： 杉山益之;长谷川英树;长屋勇辉;桥本雄一郎;安田博幸 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2021-03-23 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： H01J49/06 文献下载
摘要：为了进行高效率的质量分析，特征在于，具有质量分析装置，质量分析装置包括：离子源、离子导向器、四极杆质量过滤器和配置在四极杆质量过滤器的后级的检测器，并且包括DC电源和RF电源、以及通过控制电源来控制直流电压即加速电压的电压控制装置，电压控制部，在一个坐标轴表示通过离子导向器的离子的质量电荷比且另一个坐标轴表示对离子导向部施加的加速电压的坐标中，在被离子稳定地通过离子导向器的稳定区域的下限值的线(L11)、离子的离子迁移率的线(L12)、加速电压的上限值即上边(L13)、以及加速电压是零的值的下边(L14)包围的控制区域(RA)内，以使测量的离子的质量电荷比越大则加速电压越大的方式按照控制线(L21)控制加速电压。
质量分析装置控制方法系统电压

[发明专利]质量分析装置-CN202180017548.5在审
发明人：菅原佑香;杉山益之;桥本雄一郎;安田博幸;田村陆 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2021-02-10 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： H01J49/06 文献下载
摘要：本发明提供一种进一步提高离子的透过效率的质量分析装置。在使在离子源(101)产生的离子通过具备电极的真空室并将其朝向检测器(106)移送的质量分析装置中，真空室包括由细孔(104)连通的第一真空室(107)和第二真空室(108)，含有从离子源(101)导入到第一真空室(107)的离子的气流通过第一真空室(107)内的离子导向件(103)分离成气流(704)和离子流(703)。第一真空室(107)具备减少分离出的气流(704)与离子流(703)的混合的整流板(113)。
质量分析装置

[发明专利]离子源、质谱仪、离子源控制方法-CN202080096365.2在审
发明人：长谷川英树;杉山益之;桥本雄一郎 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2020-12-04 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： H01J49/04 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种能够准确且高效地掌握毛细管下游侧的前端位置是否适当的离子源及其控制方法。本发明的离子源在未对毛细管导入试样时，测量电源对毛细管施加电压而产生的电流，在上述电流处于容许范围内的情况下，输出表示上述毛细管的露出量适当的意思的露出量信息，在不处于上述容许范围内的情况下，输出表示上述突出量不适当的意思的上述突出量信息(参照图1)。
离子源质谱仪控制方法

[发明专利]质量分析装置以及质量分析方法-CN202080094380.3在审
发明人：西元琢真;王子豪;古矢勇夫;任田浩;桥本雄一郎;杉山益之 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2020-12-02 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： H01J49/10 文献下载
摘要：在质量分析装置中，由于夹杂物堆积在框架内部等原因，耐电压降低，在离子源等中发生放电，由此有时无法进行正常的测定。基于放电的异常测定的结果无法和前处理部与针之间的管的堵塞等引起的测定异常进行区分，因此存在异常部位的确定需要时间，维护性降低的问题。作为其手段，设置串联连接在向针施加电压的离子源电源与框架之间的返回电流检测部和串联连接在向对置电极施加电压的对置电极电源与框架之间的返回电流检测部。通过将由返回电流检测部测定出的电流与预先决定的阈值进行比较，来检测放电的发生以及放电发生部位。
质量分析装置以及方法

[发明专利]离子源及质量分析仪-CN202080083601.7在审
发明人：长谷川英树;杉山益之;桥本雄一郎 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2020-10-15 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： H01J49/04 文献下载
摘要：本发明提供进一步缩小配管及毛细管的连接部分的死区体积的离子源及质量分析仪。离子源具有毛细管和配管。毛细管在上游侧具有形成毛细管上游侧端面的大径部，大径部在下游侧具有大径部下游侧面，配管在下游侧具有配管下游端面。毛细管保持部具有能够使毛细管下游侧端面通过的孔和能够设置大径部下游侧面的面。离子源具备保持配管的配管保持部。毛细管保持部及配管保持部配置成，通过使毛细管上游侧端面和配管下游端面接触而将毛细管和配管连接。
离子源质量分析

[发明专利]液相色谱质谱分析装置-CN201980077153.7在审
发明人： 杉山益之;桥本雄一郎;长谷川英树 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2019-10-25 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本公开提供一种能够自动地确定发生了流路堵塞的部位，并在短时间内恢复的液相色谱质谱分析装置。本公开的液相色谱质谱分析装置具有：第一流路，其通过分离柱；第二流路，其不通过分离柱；质谱分析部，其设置于第一流路以及第二流路的下游侧，对通过第一流路的试样进行分析；第一阀，其将第一流路以及第二流路中的任一个与质谱分析部连接；控制部，其控制第一阀的驱动；以及压力计，其测量第二流路的压力，将其输出给控制部。控制部在进行质谱分析部中的试样的分析时，将第一流路与质谱分析部连接，将质谱分析部的测量值与预定阈值进行比较，在判定为异常的情况下，驱动第一阀以将第二流路与质谱分析部连接。
色谱谱分析装置

[发明专利]质量分析系统以及判定质量分析装置的性能的方法-CN202080026023.3在审
发明人：炭灶佑香;桥本雄一郎;安田博幸;杉山益之 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2020-03-12 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供一种准确地判定对通过了质量分析部的离子进行检测的检测器单体的性能的技术。本公开的质量分析系统具备：第1转换器，其基于从质量分析装置中的、检测通过了质量分析部的离子的检测器输出的电信号中的脉冲的强度、面积来计算第1测定值；第2转换器，其通过对该电信号的脉冲数进行计数来求出第2测定值；计算部，其计算表示第1测定值相对于第2测定值的比率的A/P比；判定部，其基于A/P比的值来判定检测器的性能；以及控制部，其至少控制判定部的判定结果的输出(参照图1)。
质量分析系统以及判定装置性能方法

[发明专利]离子检测装置-CN202080019870.7在审
发明人：吉成清美;杉山益之;桥本雄一郎;今村伸 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2020-01-22 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： H01J43/06 文献下载
摘要：本发明实现了一种离子检测装置，其能够避免负离子与闪烁体直接碰撞，能够防止闪烁体劣化，实现闪烁体的长寿化、免维护化、正负两种离子的高灵敏度检测。相对于将正离子用CD(52)的中心点(63)与相对电极(54)的中心点(64)连接的基准线(65)，负离子用CD(53)的中心点(66)配置在与闪烁体(56)的中心点(67)所在一侧的区域相反一侧的区域。从离子进入口(62)入射的正离子受到偏转力而与正离子用CD(52)碰撞所产生的二次电子与闪烁体(56)碰撞而发光，经过光导(59)被光电子倍增管(58)检测。沿着基准线(65)生成负电位势垒，从离子进入口(62)进入的负离子被负离子用CD(53)吸引而碰撞生成的正离子与正离子用CD(52)碰撞产生的二次电子与闪烁体(56)碰撞，被光电子倍增管(58)检测。
离子检测装置

[发明专利]附着物收集装置以及检查系统-CN201780032937.9有效
发明人：熊野峻;杉山益之;永野久志;生井诚;伊藤孝广 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2017-05-29 - 公布日： 2021-08-17 - 主分类号： G01N1/02 文献下载
摘要：为了稳定地从检查对象物剥离物质，其特征在于，具有喷出气体的喷出口(n)、具有喷出口(n)的箱体(B)、以及设置于箱体(B)的具备喷出口(n)的面且具有预定高度的支撑部(H)。并且，其特征在于，支撑部(H)是形成于箱体(B)的凸形状部。另外，其特征在于，支撑部(H)具有长方体形状，并且设置为随着朝向回收因气体而从检查对象物(C)剥离出的物质的回收口的方向，彼此距离变短。
附着物收集装置以及检查系统

[发明专利]离子分析装置-CN201580083150.6有效
发明人：西村和茂;佐竹宏之;杉山益之;长谷川英树;坂井友幸 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2015-10-09 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G01N27/626 文献下载
摘要：为了降低因添加剂导致的装置污染，并高速地切换添加剂的喷雾和停止，本发明的离子分析装置具有：离子源，其将测定对象物质进行离子化；喷雾部，其将含有与测定对象物质反应的添加剂的液体进行微粒化，并朝向测定对象物质进行喷雾；分离分析部，其对由测定对象物质与添加剂反应而生成的离子进行分离分析；检测器，其对在分离分析部中分离分析出的离子进行检测；以及，控制部，其在不需要添加剂的时间内使供给至喷雾部的添加剂的流量降低。
离子分析装置

[发明专利]离子源-CN201980068077.3在审
发明人：长谷川英树;杉山益之;桥本雄一郎 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2019-10-10 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： H01J49/10 文献下载
摘要：本发明的目的在于通过既确保隔热性又将加热气体的温度分布均匀化，从而提高离子源的安全性、稳定性。本发明的离子源在保持离子探针的探针保持部内具备气体导入口，使加热气体的温度上升的加热部和上述气体导入口之间通过沿上述离子探针的延伸方向延伸且互相独立的多个配管连接(参照图4)。
离子源

[发明专利]离子分析装置-CN201680088025.9有效
发明人：西村和茂;杉山益之;长谷川英树;桥本雄一郎 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2016-08-19 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： G01N30/02 文献下载
摘要：本发明的离子分析装置包括：用于将液体试样中的测量对象物质离子化的离子源；离子引导器，能够被导入在离子源中所产生的离子和液滴，该离子引导器的离子的排出口与液滴的排出口不同；分析从离子的排出口所排出的离子的离子分析部；配置于液滴的排出口的轴上的、测量液滴的量的液滴测量部；和比较由液滴测量部所测量的液滴的量与阈值的解析控制部。
离子分析装置

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