专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]片状物的缺陷检查用照明、片状物的缺陷检查装置和片状物的缺陷检查方法-CN201980060619.2有效
  • 杉原洋树 - 东丽株式会社
  • 2019-08-23 - 2023-06-27 - G01N21/892
  • 本发明的特征在于,具有:对片状物照射照明光,且片状物的宽度方向为其长度方向的长尺寸的光照射机构;和第一遮光机构,其位于从光照射机构向片状物的光路间,在与光照射机构的长度方向平行的方向上交替排列有遮光部和开口部;和第二遮光机构,其在从所述光照射机构向片状物的光路间位于第一遮光机构与片状物之间,在与光照射机构的长度方向平行的方向上交替排列有遮光部和开口部,在第二遮光机构的遮光部与光照射机构之间具有第一遮光机构的开口部,第一遮光机构的开口部在与该光照射机构的长度方向平行的方向上的长度比第二遮光机构的遮光部在与该光照射机构的长度方向平行的方向上的长度短。
  • 片状缺陷检查照明装置方法
  • [发明专利]结构体检查方法及制造方法、结构体检查装置及制造装置-CN201980078356.8有效
  • 杉原洋树;谷野贵广 - 东丽株式会社
  • 2019-12-19 - 2023-03-24 - G01B11/00
  • 能够高精度地检测结构体是合格品还是不合格品。结构体检查装置具备:以两个以上的路径辐射X射线的X射线辐射单元(1a、1b)、对透射了结构体(2)的X射线进行检测的一个以上的X射线检测单元(3)、在多个位置测定从所述X射线辐射单元到所述结构体的距离的多个位置距离测定单元(4)、以及图像处理单元(5),所述图像处理单元包括:对所述X射线检测单元所取得的两个以上的图像检测缺陷候选的缺陷候选检测单元、高度测定单元、对记录了通过所述高度测定单元得到的高度位置信息的图像和通过所述缺陷候选检测单元得到的缺陷候选图像进行逻辑积运算的图像运算单元、根据所述距离和所述结构体的厚度来设定检查范围的检查范围设定单元、以及在所述检查范围中含有缺陷候选的情况下判断为缺陷的缺陷判断单元。
  • 结构体检方法制造装置
  • [发明专利]圆筒体表面检查装置及圆筒体表面检查方法-CN201880017052.6有效
  • 杉原洋树 - 东丽株式会社
  • 2018-03-02 - 2021-08-06 - G01N21/952
  • 本发明的目的在于提供即使圆筒体的表面和检查装置的相对位置变化,也能够稳定且高精度地进行检查的圆筒体表面检查装置。本发明由下述部构成:光照射部(5),对圆筒体(1)照射光;二维摄像部(6),配置于对在圆筒体的表面反射的光进行接收的位置;扫描位置确定部(7a),在二维图像数据(8)中确定与圆筒体的周向对应的第一方向的扫描位置(PA);时间序列扫描图像生成部(7b),取出扫描位置(PA)处的与第一方向垂直的第二方向的图像数据,将各图像数据按时间序列顺序在第一方向上排列而生成时间序列扫描图像;及检查部(7c),检查时间序列扫描图像而对缺陷(4)进行检测。扫描位置确定部(7a)具有:亮度轮廓制作部(71);亮度峰值位置算出部(72),算出亮度最高的峰值位置(10);亮度计测部(73),计测峰值位置(10)的亮度;亮度下降位置算出部(74),根据亮度的轮廓(9),算出成为对所述峰值位置(10)的亮度乘以预先确定的小于1的系数倍值而得到的亮度的位置;以及扫描位置保持部(75),将算出的所述位置作为扫描位置(PA)保持。
  • 圆筒体表检查装置方法

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