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[实用新型]一种MCU上电控制电路-CN202222346350.6有效
发明人：郭承省;章小平;温禄泉;曹竟元;王炯;曾豪 -专利权人：成都极海科技有限公司
申请日： 2022-09-01 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： G06F1/26 文献下载
摘要：本实用新型涉及芯片领域，尤其涉及一种MCU上电控制电路。其中，MCU上电控制电路包括：NMOS管、可调电阻、控制开关、MCU芯片和供电电源；控制开关与可调电阻的输入端连接，可调电阻的输出端与NMOS管的栅极连接；NMOS管的漏极与MCU芯片的供电端口连接，所述NMOS管的源极与供电电源连接；所述可调电阻通过改变阻值来改变经过所述可调电阻之后的控制信号的电流，进而改变所述MCU芯片的供电时间，所述控制信号由所述控制开关发出；所述NMOS管根据所述控制信号控制所述供电电源与MCU芯片之间的导通或断开。本实用新型中，通过改变可调电阻的阻值，进而改变控制信号的电流值，从而控制MCU芯片上电时间，由此对MCU芯片进行上电启动检测。
一种 mcu 控制电路

[实用新型]MCU供电电路、FT测试设备和FT测试系统-CN202122641198.X有效
发明人：张旺宝;葛俊;郭承省;温禄泉;曹竟元;章小平;曾豪 -专利权人：珠海极海半导体有限公司;成都极海科技有限公司
申请日： 2021-10-29 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： G01R31/3167 文献下载
摘要：本申请实施例提出了一种MCU供电电路、FT测试设备和FT测试系统，该MCU供电电路包括：电源以及供电选择电路；电源包括第一连接端、第二连接端，供电选择电路包括第三连接端以及多个供电选择节点；第一连接端，用于连接MCU的第一引脚；多个供电选择节点中的任一个供电选择节点，用于作为被选端与第二连接端连接，以接入电源提供的供电电压；第三连接端，用于连接MCU的第二引脚；其中，第一引脚和第二引脚中的其中一个为MCU中的数字电路的供电引脚，另一个为MCU中的模拟电路的供电引脚；MCU供电电路用于通过电源和供电选择电路，对MCU中的模拟电路和数字电路进行分时序上电。以此可以满足FT测试场景下对于被测对象的多种上电需求。
mcu 供电电路 ft 测试设备系统

[实用新型]LSE静态工作点电压检测电路、MCU的电压检测电路及MCU自动化设备-CN202122557953.6有效
发明人：郭承省;章小平;温禄泉;曹竟元;张旺宝;曾豪 -专利权人：珠海极海半导体有限公司;成都极海科技有限公司
申请日： 2021-10-22 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G01R19/25 文献下载
摘要：本申请提供一种LSE静态工作点电压检测电路、MCU的电压检测电路及MCU自动化设备，该LSE静态工作点电压检测电路包括：LSE静态工作点电压输出单元和电压跟随单元；其中，LSE静态工作点电压输出单元的输出端和电压跟随单元的输入端连接，电压跟随单元的输出端用于与测量单元连接；LSE静态工作点电压输出单元，用于输出静态工作点电压，静态工作点电压小于或等于电压阈值；电压跟随单元，用于响应于接收到静态工作点电压，向测量单元输出目标电压，以通过测量单元测量目标电压。本申请能够通过比如示波器或万用表测量获得精确度更高的电压。
lse 静态工作电压检测电路 mcu 自动化设备

[发明专利]芯片失效点定位方法、装置及系统-CN202011163560.0有效
发明人： 曹竟元;符超;张佳佳;邓梦;万今明 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2020-10-27 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及一种芯片失效点定位方法、装置及系统，芯片失效点定位方法包括获取芯片通电后发射的光信号；对光信号进行分离，输出多个特定波段的光辐射图像；将多个特定波段的光辐射图像与预置良品芯片结构形貌图比较以确定芯片失效点的波长信息。本申请可以实现对半导体芯片失效点波长的探测分析，在分析过程不会对芯片引入新的失效，提高了对半导体芯片失效分析的效率及准确性，可广泛适用于芯片设计、生产的测试环节，售后问题反馈等环节。
芯片失效定位方法装置系统

[发明专利]驱动电路和驱动装置-CN202011377739.6在审
发明人：查理;符超;张佳佳;张凡;曹竟元 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2020-11-30 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： H03K17/687 文献下载
摘要：本申请涉及一种驱动电路和驱动装置。所述驱动电路包括：所述驱动电路包括：电源电路，用于为所述驱动电路提供驱动电流；缓冲电路，与所述电源电路相连，用于根据控制信号放大驱动电流，所述驱动电流用于驱动碳化硅场效应管；过压保护电路，用于当所述碳化硅场效应管的导通电压大于或等于电压阈值时，抑制所述导通电压；过流保护电路，用于当所述碳化硅场效应管的导通电流大于或等于电流阈值时，抑制所述导通电流。上述驱动电路结构简单，通过过压保护电路和过流保护电路，实现在高功率、高频等特殊环境下，保证碳化硅场效应管的可靠运行。
驱动电路装置

[发明专利]一种芯片静电损伤的定位方法及装置-CN202010114630.7有效
发明人：肖彪;张家华;符超;曹竟元;林思岚 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2020-02-24 - 公布日： 2020-12-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片静电损伤的定位方法及装置，该方法包括：对于芯片的失效样品，采用锁相缺陷定位热发射显微镜对失效样品中的缺陷位置进行定位评估，以得到失效样品的初始失效点；调节锁相缺陷定位热发射显微镜的定位参数后，再次采用锁相缺陷定位热发射显微镜对失效样品中的缺陷位置进行定位评估，以得到失效样品的新增失效点；采用扫描电子显微镜，对初始失效点和新增失效点的特征信息进行分析，以将初始失效点和新增失效点中特征信息与设定的静电损伤信息相同的部分失效点，确定为样品的静电损伤点。本发明的方案，可以解决芯片损伤位置的定位难度较大影响芯片的可靠性的问题，达到减小芯片损伤位置的定位难度以提升芯片的可靠性的效果。
一种芯片静电损伤定位方法装置

[发明专利]一种器件失效点的定位系统及方法-CN202010110552.3在审
发明人：肖彪;邓梦;符超;曹竟元;林思岚 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2020-02-24 - 公布日： 2020-06-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种器件失效点的定位系统及方法，该方法包括：开封装置，用于对待进行失效点定位的器件进行开封，以得到开封后的样品器件；偏置电源，用于对开封后的样品器件施加偏置电压；位置确定装置，用于在对开封后的样品器件施加偏置电压的情况下，对已施加偏置电压的样品器件的失效点的位置进行确定；位置显示装置，用于在已确定样品器件的失效点的位置的情况下，对已确定的器件的失效点的位置进行显示。本发明的方案，可以解决对失效器件的失效点进行定位的难度较大的问题，达到降低对失效器件的失效点进行定位的难度的效果。
一种器件失效定位系统方法

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