专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光响应阵列-CN88102359.0无效
  • 米罗斯拉夫·翁德里斯 - 斯坦科尔公司
  • 1988-04-16 - 1991-04-17 - H01J40/14
  • 一种感测多个位置电磁辐射强度的阵列,采用了光电和非光响应二极管网络,各光电二极管的一端接到阵列一端的公共线。非光响应二极管接成同极性串联。各光响应二极管的第二端接到串联连接串中非光响应二极管的一个不同连结点。用斜波电压扫描该阵列,每一电流变化表示一光电二极管受照情况。用单晶半导体和非晶、多晶半导体薄膜,如非晶硅和电沉积含碲化镉半导体,易于制成单片式阵列而不存在大量相交迭的导体。
  • 响应阵列
  • [其他]光响应阵列-CN88102359无效
  • 米罗斯拉夫·翁德里斯 - 斯坦科尔公司
  • 1988-04-16 - 1988-12-14 - H01J40/14
  • 一种感测多个位置电磁辐射强度的阵列中应用光电和非光响应二极管网络。各光电二极管的一端接到阵列一端的公共线。非光响应二极管接成同极性串联。各光响应二极管的第二端接到串联连接串中非光响应二极管的一个不同连结点。用斜坡电压扫描该阵列,每一电流变化表示一光电二极管受照情况。用单晶半导体和非晶、多晶半导体薄膜,如非晶硅和电沉积含碲化镉半导体,易于制成单片式阵列而不存在大量相交迭的导体。
  • 响应阵列
  • [其他]自生耗损研磨-CN87103890无效
  • 沃尔夫冈·D·G·伯克;塔多伊斯兹·M·科泽克瓦 - 斯坦科尔公司
  • 1987-05-29 - 1988-03-02 - B02C17/16
  • 将碳化硅研磨成亚微米级粉末的一种方法,包括在有碳化硅研磨介质存在的条件下,用无杂质的高能自生耗损研磨机将平均粒度介于1和200微米的碳化硅稀浆料研磨足够时间,得到比表面至少为5平方米/克,最好时至少为9平方米/克的粉末。研磨介质纯度高,其平均粒度小于4毫米,最好小于2.5毫米。进一步处理研磨过的物料,使其平均粒度小于1微米,成品粉末中97%以上的颗粒小于5微米,本发明包括制成的成品粉末。
  • 自生耗损研磨

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