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- [发明专利]微波驱动的等离子体离子源-CN202180027304.5在审
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M·坦纳
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托夫沃克股份公司
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2021-04-01
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2022-11-22
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H05H1/30
- 本发明涉及一种用于将待电离样品电离成样品离子的微波驱动的等离子体离子源(1),该微波驱动的等离子体离子源(1)包括用于将样品从微波驱动的等离子体离子源(1)的外部送入微波驱动的等离子体离子源(1)的内部(3)的样品入口(6);用于生成微波以从等离子体气体(100)生成等离子体(101)的微波发生器(10);提供等离子体炬的定向方向(29)的等离子体炬(20)具有内部(21),用于容纳(2)由等离子体气体(100)生成等离子体(101)的过程以及通过将样品暴露于等离子体(101)而将样品电离成样品离子的过程,其中等离子体炬(20)包括炬出口(22),其用于将等离子体(101)和样品离子基本上沿着等离子体炬的定向方向(29)从等离子体炬(20)的内部(21)排放至外部,炬出口(22)具有炬孔径。此外,微波驱动的等离子体离子源(1、201)包括屏蔽层(4),其用于屏蔽从微波驱动的等离子体离子源(1)的内部(3)传送至微波驱动的等离子体离子源(1)的外部的微波,其中屏蔽层(4)包括屏蔽出口(5),其用于将等离子体(101)和样品离子基本上沿着等离子体炬定向方向(29)从微波驱动的等离子体离子源(1)的内部(3)排放至微波驱动的等离子体离子源(1)的外部,屏蔽出口(5)具有屏蔽孔径。由此,屏蔽出口(5)与炬出口(22)流体耦合,以将等离子体(101)和样品离子基本上沿着等离子体炬的定向方向(29)从等离子体炬(20)的内部(21)排放至微波驱动的等离子体离子源(1)的外部,其中屏蔽孔径的尺寸小于炬孔径的尺寸的150%优选小于炬孔径的尺寸的125%、特别优选小于炬孔径的尺寸的110%。屏蔽孔径的尺寸和炬孔径的尺寸均以面积为单位测量。
- 微波驱动等离子体离子源
- [发明专利]用于确定谱图的方法和设备-CN201710947870.3有效
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M·戈南;C·坦纳
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托夫沃克股份公司
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2017-10-12
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2022-06-24
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G01N27/622
- 本发明涉及用于确定包含一种或多种组成部分的样品的谱图的方法和设备,该方法和设备是基于该一种或多种组成部分经历物理过程或化学过程所需的时间。该谱图通过以下方式确定:通过调制单元将该样品分成检验物,对于这些检验物,能够根据调制模式(23)定时地相继启动该物理过程或化学过程,该调制模式是包括N个连续的调制函数(23.1,23.2,23.3)的函数,其中N为2或更大;在N个连续的循环(25.1,25.2,25.3)中用检测器测量该样品的这些组成部分完成该物理过程或化学过程时的时间,其中在相继的循环(25.1,25.2,25.3)中,每个循环(25.1,25.2,25.3)被指派给该调制模式(23)内这些调制函数(23.1,23.2,23.3)中的连续的一个调制函数,其中每个循环(25.1,25.2,25.3)与其所指派的调制函数(23.1,23.2,23.3)的起点(22.1,22.2,22.3)相比以时间上的偏置(26.1,26.2,26.3)开始,其中对于每个循环(25.1,25.2,25.3)而言该偏置(26.1,26.2,26.3)是不同的,其中该检测器提供检测器信号,该检测器信号提供在何时多少数目的组成部分已经完成了该物理过程或化学过程的信息,并且其中该检测器信号具有检测时间分辨率(31),其中这些偏置(26.1,26.2,26.3)中的至少一个偏置具有不同于零、不同于该检测时间分辨率(31)且不同于该检测时间分辨率(31)的倍数的绝对值;以及用计算单元计算该检测器信号与该调制模式(23)的相关性。
- 用于确定方法设备
- [发明专利]自动取样器-CN201980010971.5在审
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M·戈南;F·洛佩兹希尔菲克;M·胡特里;M·厄尔布;M·范德
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托夫沃克股份公司
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2019-02-01
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2020-09-15
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H01J49/04
- 本发明涉及一种自动取样器(1),其用于从多个流体样品,特别是气态样品中获得质谱。该自动取样器(1)包括多个容器(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6),该多个容器包括提供样品的样品源(3.1、3.2、3.3、3.4、3.5、3.6),其中容器(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6)中的每一个均具有对接端口(4.1、4.2、4.3、4.4、4.5、4.6),该对接端口(4.1、4.2、4.3、4.4、4.5、4.6)用于与连接器(5)连接,以在连接器(5)连接至相应的对接端口(4.1、4.2、4.3、4.4、4.5、4.6)时能够经由连接器(5)进入相应容器(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6)的内部,从而经由该连接器(5)分别从相应的容器(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6)中获得相应的样品。由此,连接器(5)可以与每个对接端口(4.1、4.2、4.3、4.4、4.5、4.6)连接并且可以与其分离。该自动取样器(1)还包括用于将至少一部分样品电离成离子的电离源(6),其中该电离源(6)流体地联接至连接器(5),以经由连接器(5)从容器(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6)中接收样品。此外,自动取样器(1)包括用于从离子中获得质谱的质量分析仪(7),该质量分析仪(7)流体的联接至电离源(6)以从电离源(6)接收离子,从而从离子中获得质谱。该电离源(6)可以和连接器(5)一起在自动取样器(1)内依次移动到多个容器(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6)中的每一个,以将连接器(5)连接至相应容器(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6)的对接端口(4.1、4.2、4.3、4.4、4.5、4.6),以便从相应容器(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6)中收集样品,从而将至少一部分样品电离成离子并从该离子中获得质谱。此外,本发明涉及一种自动取样器(1)的操作方法。
- 自动取样
- [发明专利]用于质谱分析法的设备和方法-CN201680028887.2有效
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C·坦纳;M·坦纳;M·戈南
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托夫沃克股份公司
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2016-03-18
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2019-12-06
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H01J49/04
- 用于质谱分析法的设备包括:部分发生器(10),用于与触发脉冲同步地产生局部分析物部分;传送系统(20),耦合到部分发生器(10),用于输送局部分析物部分;等离子体电离器单元(30),耦合到传送系统(20),用于使用等离子体来雾化、汽化和电离接收到的分析物部分;质量分析器(41),耦合到等离子体电离器单元(30),用于分析接收到的分析物部分,其包括至少一个检测器;以及数据采集电子器件(50),连接到至少一个检测器,用于采集由至少一个检测器生成的信号(43)。该设备还包括信号延迟装置(60),用于接收触发脉冲(11)并发送对应于触发脉冲的延迟信号(61),以便将所要分析的颗粒在部分生成与检测之间所经历的延迟纳入考虑。
- 用于谱分析设备方法
- [发明专利]用于质谱分析法的装置-CN201580037377.7有效
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M·戈南;U·罗纳;C·坦纳;M·坦纳;J·坎摩尔
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托夫沃克股份公司
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2015-07-09
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2019-04-09
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H01J49/00
- 用于质谱分析法的装置包括电离源,流体耦合到电离源的质量分析器和用于处理由质量分析器提供的信号的电子数据采集系统。电子数据采集系统包括从由质量分析器获得的信号产生数字化数据的至少一个模数转换器(10)和从所述模数转换器(10)接收数字化数据的快速处理单元(47)。快速处理单元(47)被编程以连续地、实时检测由质谱仪测量的感兴趣事件的数字化数据;并且电子数据采集系统被编程以发送(23)表示与感兴趣事件有关的质谱的数字化数据以用于进一步分析并且拒绝表示与感兴趣事件无关的质谱的数字化数据。该装置允许通过消除用于不包含关于事件的信息的数据段的所有处理时间(采集中的空闲时间)来在高速下维持效率。
- 用于谱分析装置
- [发明专利]用于确定层析图谱的方法和设备-CN201480078554.1有效
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R·科诺陈缪斯
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托夫沃克股份公司
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2014-03-04
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2019-01-11
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G01N30/46
- 本发明涉及一种用于确定层析图谱的方法和设备。该方法包括第一步,其中样品被插入两个分离柱(2.1、2.2、2.3)中,对于每个分离柱(2.1、2.2、2.3),样品的对应部分利用对应的插入装置(3.1、3.2、3.3)插入相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中,对应的插入装置由对应的调制函数控制,以用于产生相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中样品的对应的调制部分,其中在分离柱(2.1、2.2、2.3)中调制样品的部分所使用的调制函数彼此不同。而且,该方法包括:第二步,其中样品的每个调制部分被引导经过相应的分离柱(2.1、2.2、2.3);第三步,其中在经过相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)之后样品的每个调制部分的信号用同一探测器(4)测量;和第四步,其中对于每个分离柱(2.1、2.2、2.3),计算信号和在相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中调制样品的对应部分所使用的调制函数之间的相关性,以确定相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)的层析图谱。
- 用于确定层析图谱方法设备
- [发明专利]用于判定气溶胶颗粒尺寸的方法和设备-CN201380043223.X有效
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理查德·诺陈缪斯
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托夫沃克股份公司
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2013-06-12
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2017-10-27
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G01N15/02
- 本发明涉及一种用于判定气溶胶颗粒尺寸分布的方法和设备(1)。此方法包括如下步骤使用受控于调制函数的气溶胶颗粒门(2)调制气溶胶颗粒束(6),从而生成调制气溶胶颗粒束;导引调制气溶胶颗粒束穿过漂移区域(3);在调制气溶胶颗粒束已通过漂移区域(3)后测量调制气溶胶颗粒束的信号;以及计算调制函数和信号的相关性以确定气溶胶颗粒的尺寸分布。该设备(1)包括气溶胶颗粒门(2);可导引调制气溶胶颗粒束穿过其中的漂移区域(3);在调制气溶胶颗粒束已经通过漂移区域(3)后可测量调制气溶胶颗粒束信号的检测器(4);以及可计算调制函数和信号的相关性以确定气溶胶颗粒的尺寸分布的计算单元(5)。
- 用于判定气溶胶颗粒尺寸方法设备
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