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[发明专利]数据寄存器访问方法、装置、可读存储介质及电子设备-CN202310440320.8在审
发明人： 成顺利;李建军;李晶 -专利权人：北京地平线信息技术有限公司
申请日： 2023-04-21 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G06F12/14 文献下载
摘要：本公开实施例公开了一种数据寄存器访问方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备，其中，该方法包括：从目标虚拟机生成的寄存器访问请求中确定第一虚拟机标识和待访问数据寄存器的第一地址；基于第一虚拟机标识，从至少两个数据寄存器组和保护寄存器组中确定目标数据寄存器组和目标保护寄存器；基于目标保护寄存器，确定目标虚拟机对目标数据寄存器组的访问权限；响应于访问权限为允许访问，基于第一地址，从目标数据寄存器组中确定待访问数据寄存器，并通过目标虚拟机访问待访问数据寄存器。本公开实施例在硬件上实现了寄存器组之间的隔离，无需设置复杂的软件程序对虚拟机访问寄存器的权限进行控制，提高了虚拟机访问寄存器的效率。
数据寄存器访问方法装置可读存储介质电子设备

[发明专利]集成电路的安全控制方法、装置、存储介质及电子设备-CN202211499525.5在审
发明人：李文星;李晶;刘擎宇;成顺利;李建军;朱斌;屠俊聿;邓波 -专利权人：地平线(上海)人工智能技术有限公司
申请日： 2022-11-28 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：公开了一种集成电路的安全控制方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括：确定群数据搜集模块中的第一目标控制模块的第一错误数据，其中，群数据搜集模块包括至少一个第一目标控制模块；基于群数据搜集模块中的第一搜集模块确定第一错误数据对应的第一校验码；基于第一校验码和第一错误数据，控制安全控制模块执行第一错误数据对应的预设处理操作。本公开能够支持针对集成电路进行数量巨大的错误数据的搜集与处理。
集成电路安全控制方法装置存储介质电子设备

[发明专利]基于图连通性分析的弱信号检测方法-CN201610975767.5有效
发明人：闫坤;李卓;李少鹏;白玉;成顺利;李昂阳;肖海林 -专利权人：桂林电子科技大学
申请日： 2016-11-07 - 公布日： 2018-11-20 - 主分类号： H04B17/318 文献下载
摘要：本发明公开一种基于图连通性分析的弱信号检测方法，将接收信号的功率谱图通过归一化和量化处理后，转换成邻接矩阵，再通过邻接矩阵求出拉普拉斯矩阵，然后再求出拉普拉斯矩阵的第二大特征值，通过第二大特征值与之前设定的判决门限进行比较，以此来判断信号的有无。这种方法既可以测量高斯环境中的信号也可以测量非高斯环境中的信号，同时检测所需的数据量较少以及计算复杂度较低。
基于连通性分析信号检测方法

[发明专利]电子设备维修性测试仪-CN200610152762.9无效
发明人：常均雨;金振中;刘维京;王悦;董敬文;邵兵;成顺利;张远;孙晓峰;孙伟;宋志刚;张彦忠;李媛媛;冯楠 -专利权人：中国人民解放军92941部队
申请日： 2006-09-28 - 公布日： 2007-05-23 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明属于一种测试电子设备性能的仪器，特别涉及一种对电子设备的维修性进行测试的仪器。其技术方案是：一种电子设备维修性测试仪，包括：故障设置电路[2]，接口电路[1]，计时器[3]，电源电路[5]。将本发明连接于外部电缆与被试电子设备之间，或者连接于被试电子设备内插座与电路板之间，可以方便、逼真地设置外线路或内线路故障，并通过计时器准确记录故障诊断时间和维修时间。
电子设备维修测试仪