专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于检查相机模块的设备-CN202210862384.2在审
  • 徐容珪;潘俊浩 - 塔工程有限公司
  • 2016-12-09 - 2022-11-29 - H04N17/00
  • 用于检查相机模块的设备包括:工作托盘,容纳至少一个用于检查的相机模块;自动处理器,移动在工作托盘中的相机模块以检查相机模块,并将已检查的相机模块移动到工作托盘;自动插座,其中放置有被自动处理器移动的相机模块,以被加载和卸载;以及检查模块部件,其沿着与自动插座正交的方向设置,并且具有安装在其中的多个检查单元,以执行用于相机模块的多个检查,自动插座在工作托盘加载相机模块时设置为水平的,而在检查时旋转为垂直的,以面对多个检查单元中的至少一个。
  • 用于检查相机模块设备
  • [发明专利]激光划线设备-CN201710446715.3在审
  • 徐容珪 - 塔工程有限公司
  • 2017-06-14 - 2017-09-22 - B23K26/362
  • 本发明提供了一种能够在激光被用于切割脆性材料基板时容易地改变激光的焦距的激光划线设备。该激光划线设备包括划线头单元;以及托台,基板被装载在该托台上,其中划线头单元相对于托台移动,并且划线头单元包括透镜组件和距离测量传感器组件,所述透镜组件从激光发生设备接收切割用激光束以改变切割用激光束的焦点,所述距离测量传感器组件包括距离测量传感器并且具有光束通过单元,所述距离测量传感器包括产生测量用激光束的光发射单元和接收测量用激光束的光接收单元,在透镜组件中被控制焦距的切割用激光束经过所述光束通过单元。
  • 激光划线设备
  • [发明专利]阵列测试装置-CN201010283350.5无效
  • 徐容珪;潘俊浩 - 塔工程有限公司
  • 2010-09-16 - 2012-01-11 - G02F1/13
  • 本发明公开一种用于测试基板是否有缺陷的阵列测试装置。阵列测试装置包括测试模块和间隙测量单元。测试模块包括具有面向基板的第一表面的调制器。间隙测量单元包括基面和距离测量装置。基面位于测试模块可以移动到的位置处使得第一表面面向基面。距离测量器件测量第一表面与基面之间的间隙。因此,本发明能够提供配备测试模块的阵列测试装置,简化了所述阵列测试装置的结构。
  • 阵列测试装置
  • [发明专利]阵列测试装置和测量其基板上点位置的方法-CN200910250212.4有效
  • 徐容珪;柳道铉 - 塔工程有限公司
  • 2009-12-08 - 2010-07-07 - G02F1/13
  • 公开了一种阵列测试装置和测量阵列测试装置的基板上点的位置的方法。该阵列测试装置包括支撑待测试基板的测试部分、测试模块和位置指示部件。测试模块设置在阵列测试装置上以完成至少水平移动,且设置有至少一个调制头部以检测设置在测试部分上的基板的缺陷部分。位置指示部件与调制头部相邻,从对应于调制头部的传送路径的测试部分横向延伸,且具有基准位置标记和至少一个相邻位置标记。调制头部设置有照相机组件,其包括基准照相机和至少一个相邻照相机。利用基准照相机对基准位置标记进行照相,并且相邻照相机照相相邻位置标记。
  • 阵列测试装置测量基板上点位置方法

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